[實用新型]存儲器電路裝置有效
| 申請號: | 201820652014.5 | 申請日: | 2018-05-03 |
| 公開(公告)號: | CN208240359U | 公開(公告)日: | 2018-12-14 |
| 發明(設計)人: | 不公告發明人 | 申請(專利權)人: | 長鑫存儲技術有限公司 |
| 主分類號: | G11C29/00 | 分類號: | G11C29/00;G11C29/44 |
| 代理公司: | 北京市鑄成律師事務所 11313 | 代理人: | 屈小春;武晨燕 |
| 地址: | 230000 安徽省合肥市*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 存儲線 備用 存儲器電路裝置 受損 解碼器控制電路 存儲單元陣列 本實用新型 存儲數據 接收檢測裝置 控制器控制 檢測裝置 修補 發送 檢測 外部 | ||
本實用新型提供了一種存儲器電路裝置。所述存儲器電路裝置包括:存儲單元陣列,包括用于存儲數據的存儲線和備用存儲線;備用解碼器控制電路,用于接收檢測裝置發送的受損存儲線地址,并根據所述受損存儲線地址開啟對應的備用存儲線,以使所述備用存儲線代替所述受損存儲線存儲數據;其中,所述受損存儲線地址是由檢測裝置在檢測所述存儲單元陣列中存儲線的工作狀態時確定的。本實用新型實施例可以實現:通過備用解碼器控制電路可以根據受損存儲線地址開啟對應的備用存儲線,無需通過外部的控制器控制開啟備用存儲線,這樣提高了存儲器電路裝置的修補效率。
技術領域
本實用新型涉及存儲器裝置,特別涉及一種存儲器電路裝置。
背景技術
隨著電路復雜度的提升,各種形式的存儲器裝置在制造上無可避免地容易產生不良或受損的存儲元件。因此,可以在存儲單元陣列中設置檢測裝置,通過檢測裝置對存儲單元陣列進行檢測,當檢測出不良或受損的存儲元件時,啟動備用存儲元件來替換受損的存儲元件。
如圖1所示,為傳統技術中的存儲器電路裝置11及其與檢測裝置12的連接示意圖。其中,檢測裝置12用于檢測存儲器電路裝置11中是否存在受損存儲線。檢測過程如下:檢測裝置12接收對存儲器電路裝置11進行檢測的檢測指令,并將該指令存儲于圖形生成單元121中的控制指令寄存器121a。該測試指令中包含了需要測試的存儲單元陣列11的存儲地址信息及該地址對應存儲的數據。地址寄存器121b存儲需要測試的存儲地址;數據寄存器存儲所述存儲地址中應當存儲的正確數據。確定單元122接收存儲單元陣列11發送的經運算放大器124放大的所述存儲地址中實際存儲的數據,并將實際存儲的數據與數據寄存器121c存儲的正確數據相比較。如果確定單元122輸出的比較結果顯示二者相同,說明該存儲地址對應的存儲線沒有受損。如果輸出的比較結果顯示二者不一致,則說明該存儲地址對應的存儲線為受損存儲線。確定單元122將該結果經運算放大器125放大后發送至存儲單元123。同時,地址寄存器121c 也將該存儲地址經運算放大器126放大后發送至存儲單元。存儲單元123向外部控制器13發送該存儲地址對應的存儲線損壞的通知,以使得外部控制器13 指定備用存儲線來替換受損存儲線。然后根據外部控制器13的控制指令,地址寄存器121b將受損存儲線的地址發送至存儲單元陣列,以使備用存儲線根據受損存儲線的地址來替換受損存儲線,數據寄存器121c受損存儲線對應的存儲數據經運算放大器126放大后發送至所指定的備用存儲線。
但是這種技術方案需要通過將受損情況存儲至緩存器中,再通過外部控制器來進行分析,再通過外部控制器的分析結果向存儲單元陣列發送控制指令,數據運算和傳輸過程較多,這樣降低了存儲器電路裝置的修補效率。
實用新型內容
本實用新型提供存儲器電路裝置,以為解決背景技術中提出的一個或多個技術問題提供一種有益的選擇。
作為本實用新型的一個方面,本實用新型實施例提供一種存儲器電路裝置,包括:
存儲單元陣列,包括用于存儲數據的存儲線和備用存儲線;
備用解碼器控制電路,用于接收檢測裝置發送的受損存儲線地址,并根據所述受損存儲線地址開啟對應的備用存儲線,以使所述備用存儲線代替所述受損存儲線存儲數據;
其中,所述受損存儲線地址是由檢測裝置在檢測所述存儲單元陣列中存儲線的工作狀態時確定的。
結合第一方面,本實用新型實施例在第一方面的第一實施方式中,所述備用解碼器控制電路包括:
至少一個備用存儲線控制單元,并且每個所述備用存儲線控制單元均對應連接一個備用存儲線。
結合第一方面的第一實施方式,本實用新型實施例在第一方面的第二實施方式中,所述備用存儲線控制單元包括:
寄存單元,用于接收所述檢測裝置發送的受損存儲線的地址,并存儲所述受損存儲線的地址;
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