[實用新型]一種用于相控陣超聲儀器和探頭的系統性能校準A型試塊

有效

• 申請號: 201820614034.3
• 申請日: 2018-04-26
• 公開（公告）號: CN208366915U
• 公開（公告）日: 2019-01-11
• 發明（設計）人: 朱琪;孫磊;鄭良華;葛廣林;陳永安;樊傳琦;王文科;許文超
• 申請（專利權）人: 安徽津利能源科技發展有限責任公司;中國能源建設集團安徽電力建設第一工程有限公司;中國能源建設集團有限公司工程研究院
• 主分類號: G01N29/22
• 分類號: G01N29/22
• 代理公司: 合肥天明專利事務所(普通合伙) 34115
• 代理人: 趙瑜;金凱

本實用新型屬于無損檢測領域，具體涉及一種用于相控陣超聲儀器和探頭的系統性能校準A型試塊，包括試塊主體以及設置在試塊主體上的兩組人工反射體和兩個探頭標記；所述兩個探頭標記刻蝕于試塊主體上表面，兩組人工反射體是分別以兩個探頭標記為圓心，分別以50mm和25mm為半徑的圓弧上的通孔；同一組內人工反射體之間的間隔≥2.5°，角度范圍0~85°；最靠近試塊主體上表面的人工反射體與試塊主體的側邊界距離≥25mm，兩個探頭標記之間的距離≥探頭與試塊接觸面的長度；所述半徑為50mm圓弧上人工反射體的直徑為2mm，所述半徑為25mm圓弧上人工反射體的直徑為1mm。可用于扇掃角度分辨力、扇掃角度范圍測量誤差、短缺陷分辨力的校準，方便快捷。

技術領域

本實用新型屬于無損檢測領域，具體涉及一種用于相控陣超聲儀器和探頭的系統性能校準A型試塊。

背景技術

相控陣超聲檢測技術是一種新型無損檢測技術，在進行檢測工藝設計之前，一般要求對相控陣超聲檢測儀器的性能和相控陣探頭的性能進行校準，包括儀器的水平線性、垂直線性、扇掃角度的分辨力、扇掃角度范圍的測量誤差、扇掃成像分辨率等。傳統的校準試塊中的反射體比較密集，在進行聲束校準時，相鄰聲束孔之間會產生干擾。

實用新型內容

本實用新型的目的是解決上述現有技術的不足，提供一種用于相控陣超聲儀器和探頭的系統性能校準A型試塊，可進行扇掃角度分辨力、扇掃角度范圍的測量誤差、短缺陷分辨力等性能的校準。

本實用新型是通過以下技術方案實現的：

一種用于相控陣超聲儀器和探頭的系統性能校準A型試塊，包括試塊主體（1）以及設置在試塊主體（1）上的兩組人工反射體（2）和兩個探頭標記（3）；所述兩個探頭標記（3）刻蝕于試塊主體（1）上表面，兩組人工反射體（2）是分別以兩個探頭標記（3）為圓心，分別以50mm和25mm為半徑的圓弧上的通孔；同一組內人工反射體（2）之間的間隔≥2.5°，以垂直于試塊主體（1）上表面為0°記，角度范圍0~85°；最靠近試塊主體（1）上表面的人工反射體（2）與試塊主體（1）的側邊界距離≥25mm，兩個探頭標記（3）之間的距離≥探頭與試塊接觸面的長度；所述半徑為50mm圓弧上人工反射體（2）的直徑為2mm，所述半徑為25mm圓弧上人工反射體（2）的直徑為1mm。

優選地，所述兩組人工反射體（2）分別設置19個，且0~5°設置3個人工反射體，間隔為2.5°；5~85°設置16個人工反射體，間隔為5°。

優選地，所述試塊主體（1）為表面光滑平整的立方體結構。

優選地，所述試塊主體（1）的材質為20號碳鋼。

本實用新型的有益效果在于：

本實用新型A型試塊可進行扇掃角度分辨力、扇掃角度范圍的測量誤差、短缺陷分辨力等性能的校準，試塊體積較小，方便攜帶，校準方法快速便捷。

附圖說明

圖1為本實用新型一種用于相控陣超聲儀器和探頭的系統性能校準A型試塊的主視圖。

附圖標記：

1-試塊主體，2-人工反射體，3-探頭標記。

具體實施方式

為更好理解本實用新型，下面結合實施例及附圖對本實用新型作進一步描述，以下實施例僅是對本實用新型進行說明而非對其加以限定。

試塊結構：

如圖1所示，一種用于相控陣超聲儀器和探頭的系統性能校準A型試塊，包括試塊主體1以及設置在試塊主體1上的兩組人工反射體2和兩個探頭標記3。試塊主體1為表面光滑平整的立方體結構，由優質的20號碳鋼制成，尺寸為150*25*75（mm）。