[實用新型]一種陶瓷密封蓋及分析儀有效
| 申請號: | 201820606475.9 | 申請日: | 2018-04-25 |
| 公開(公告)號: | CN208060418U | 公開(公告)日: | 2018-11-06 |
| 發明(設計)人: | 楊成;陳有文;李海明;姚宇;黃健 | 申請(專利權)人: | 深圳市中金嶺南有色金屬股份有限公司凡口鉛鋅礦;深圳市中金嶺南有色金屬股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N23/20008 | 分類號: | G01N23/20008;G01N23/223 |
| 代理公司: | 廣州駿思知識產權代理有限公司 44425 | 代理人: | 吳靜芝 |
| 地址: | 512325 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 密封蓋 前端蓋 分析儀 陶瓷密封蓋 后端蓋 通孔 膠卷 本實用新型 陶瓷材料 密封口 取樣盒 凸出部 耐磨陶瓷材料 耐磨性 倒角設計 高壓設備 一體成型 正面測量 閉合 凸出 倒角 端蓋 夾緊 貼合 遮擋 滲漏 加工 | ||
本實用新型涉及一種陶瓷密封蓋及分析儀,所述陶瓷密封蓋,包括密封蓋本體,所述密封蓋本體采用陶瓷材料一體成型,其中部向一側凸出,形成凸出部,所述凸出部的中部開設有密封蓋通孔,所述密封蓋本體的邊緣以及所述通孔均加工有倒角。所述分析儀,包括取樣盒、密封蓋、前端蓋、膠卷、后端蓋、高壓設備,所述前端蓋與取樣盒共同夾緊所述密封口,所述后端蓋設置在前端蓋的另一側并與可前端蓋閉合;所述膠卷設置在所述前端蓋和后端蓋之間,并可遮擋著所述前端蓋通孔。本實用新型所述的分析儀中的密封蓋整體采用高性能耐磨陶瓷材料,端蓋正面測量密封口采用了倒角設計采用的是陶瓷材料,增加耐磨性,能夠很好的和膠卷貼合而不滲漏。
技術領域
本實用新型涉及礦漿檢測領域,特別是涉及一種陶瓷密封蓋及分析儀。
背景技術
選礦是根據礦石中不同礦物的物理、化學性質,采用不同的工藝將礦物與脈石分開的過程。
在現有技術中,一般采用X射線熒光分析儀,利用X射線照射到礦漿樣品上激發出被測元素的X射線,再利用探測頭接收激發出的射線,并通過相關設備分析礦漿中的元素。其中,分析儀測量窗口的密封蓋安裝精度和使用壽命直接影響分析儀數據的測量精度和可靠性。密封蓋安裝在分析儀X射線探頭的外側,端蓋反面為礦漿流經處(樣品盒),端蓋正面緊貼分析儀窗口(測量膠卷),現有技術中的密封蓋主要由鋼鑄和外包橡膠組成,由四個螺絲進行固定。由于分析儀測量4小時要進行交卷更換,長時間測量交卷和密封蓋的外包橡膠進行摩擦,造成包邊移位或翻邊,造成測量是密封蓋沒有起到密封的做用,有時會滯留礦漿或者漏礦漿,測量不準或掉高壓。密封蓋使用壽命2個月左右,一小部分密封蓋使用壽命甚至更短。磨損及微滲漏所帶來礦漿會導致測量數據偏差較大,同時經常會出現樣品盒堵塞的誤報警。這些誤報警不僅加大了分析儀工作人員對故障的分析難度和維護工作量同時也對測量數據的準確性造成了很大的影響。為了改變這現象,必須采取更高效合理的設計取代目前的情況。
實用新型內容
基于此,本實用新型的目的在于,提供一種耐用、封閉性好的陶瓷密封蓋。
一種陶瓷密封蓋,包括密封蓋本體,所述密封蓋本體采用陶瓷材料一體成型,其中部向一側凸出,形成凸出部,所述凸出部的中部開設有密封蓋通孔,所述密封蓋本體的邊緣以及所述通孔均加工有倒角。
作為上述陶瓷密封蓋的進一步改進,所述密封蓋本體為圓形蓋體,所述密封蓋通孔為圓孔。
作為上述陶瓷密封蓋的進一步改進,所述凸出部為錐形凸起。
作為上述陶瓷密封蓋的進一步改進,所述蓋體邊緣的倒角寬度a=1,深度b=3。
作為上述陶瓷密封蓋的進一步改進,所述密封蓋通孔的倒角寬度c=0.5,深度d=0.2。
相比現有技術,為了提高該密封蓋的使用壽命和降低維護的工作量,本實用新型所述的密封蓋采用了陶瓷材料,密封蓋可以在制作得更加纖薄,同時保持相當的密閉性,采用新的設計布局方式后明顯提高了使用壽命,解決原來由于密封蓋外包橡膠的翻邊造成的測量不準和膠卷破裂等問題,節約成本的效果顯著,同時,極大的減少了操作人員的維護量。
本實用新型的另一目的在于提供一種分析儀,包括取樣盒、密封蓋、前端蓋、膠卷、后端蓋、高壓設備,所述取樣盒兩側分別開設有進漿口和出漿口,且其一端開口,另一端封閉,所述密封蓋為本申請實施例上述的陶瓷密封蓋,其大小與所述取樣盒的開口端的開口大小相等,遮擋所述開口;所述前端蓋設置在密封蓋的另一側,與取樣盒共同夾緊所述密封口,前端蓋處于所述密封蓋凸出的一側,其中部設置有與所述凸出部配合的凹部,該凹部開設有與所述密封蓋通孔同軸的前端蓋通孔;所述后端蓋設置在前端蓋的另一側并與可前端蓋閉合,其中部也開設有與密封蓋通孔同軸的后端蓋通孔;所述膠卷設置在所述前端蓋和后端蓋之間,并可遮擋著所述前端蓋通孔;所述高壓設備設置在所述后端蓋相對膠卷的另一側,并且朝向所述密封蓋通孔。
作為上述分析儀的進一步改進,所述高壓設備集成了射線源、探測頭以及高壓電源。
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