[實用新型]一種用于臺區(qū)線損治理培訓(xùn)與競賽的平臺有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820595502.7 | 申請日: | 2018-04-25 |
| 公開(公告)號: | CN208985415U | 公開(公告)日: | 2019-06-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王立宗;董成哲;李菊蘭;蓋宏雪;王勇偉;趙龍龍;張英輝;李大偉;趙煒;張佳程 | 申請(專利權(quán))人: | 北京新源綠網(wǎng)節(jié)能科技有限公司 |
| 主分類號: | G09B9/00 | 分類號: | G09B9/00;G01R21/133;G01R31/00 |
| 代理公司: | 北京科億知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 湯東鳳 |
| 地址: | 100089 北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電性連接 臺區(qū) 線損 中央處理器電性 數(shù)據(jù)對比模塊 數(shù)據(jù)反饋模塊 數(shù)據(jù)錄入模塊 數(shù)據(jù)提取模塊 中央處理器 存儲模塊 互感器 數(shù)據(jù)處理模塊 數(shù)據(jù)分析模塊 系統(tǒng)維護單元 本實用新型 供電模塊 模擬負荷 培訓(xùn)效率 裝置設(shè)計 單相表 競賽 培訓(xùn) 治理 測試 檢測 | ||
本實用新型涉及臺區(qū)線損技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種用于臺區(qū)線損治理培訓(xùn)與競賽的平臺,包括高供低計帶互感器表、低供低計直通表、單相表和中央處理器,執(zhí)行模塊電性連接數(shù)據(jù)錄入模塊,數(shù)據(jù)錄入模塊電性連接數(shù)據(jù)處理模塊,數(shù)據(jù)分析模塊電性連接數(shù)據(jù)反饋模塊,數(shù)據(jù)反饋模塊與中央處理器電性連接,中央處理器電性連接存儲模塊,存儲模塊電性連接數(shù)據(jù)提取模塊,數(shù)據(jù)提取模塊與數(shù)據(jù)對比模塊電性連接,數(shù)據(jù)對比模塊還電性連接模擬負荷模塊,中央處理器還電性連接供電模塊和系統(tǒng)維護單元。此裝置設(shè)計合理,通過不同的設(shè)備滿足不同的測試,從而提高檢測的速度,達到提高培訓(xùn)效率的目的。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及臺區(qū)線損技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種用于臺區(qū)線損治理培訓(xùn)與競賽的平臺。
背景技術(shù)
線損率是電網(wǎng)運營中的一個綜合性的核心技術(shù)指標。現(xiàn)有的線損治理培訓(xùn)與競賽的平臺功能比較單一,不能滿足多種設(shè)備的檢測,從而造成培訓(xùn)效率低下的問題,為此我們提出了一種用于臺區(qū)線損治理培訓(xùn)與競賽的平臺。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點,而提出的一種用于臺區(qū)線損治理培訓(xùn)與競賽的平臺。
為了實現(xiàn)上述目的,本實用新型采用了如下技術(shù)方案:
設(shè)計一種用于臺區(qū)線損治理培訓(xùn)與競賽的平臺,包括高供低計帶互感器表、低供低計直通表、單相表和中央處理器,所述高供低計帶互感器表、低供低計直通表和單相表電性連接執(zhí)行模塊,所述執(zhí)行模塊電性連接數(shù)據(jù)錄入模塊,所述數(shù)據(jù)錄入模塊電性連接數(shù)據(jù)處理模塊,所述數(shù)據(jù)處理模塊電性連接數(shù)據(jù)對比模塊,所述數(shù)據(jù)對比模塊電性連接數(shù)據(jù)分析模塊,所述數(shù)據(jù)分析模塊電性連接數(shù)據(jù)反饋模塊,所述數(shù)據(jù)反饋模塊與中央處理器電性連接,所述中央處理器電性連接存儲模塊,所述存儲模塊電性連接數(shù)據(jù)提取模塊,所述數(shù)據(jù)提取模塊與數(shù)據(jù)對比模塊電性連接,所述數(shù)據(jù)對比模塊還電性連接模擬負荷模塊,所述中央處理器電性連接數(shù)據(jù)傳輸模塊,所述數(shù)據(jù)傳輸模塊電性連接展示終端,所述中央處理器還電性連接供電模塊和系統(tǒng)維護單元。
優(yōu)選的,所述展示終端包括微芯片,所述微芯片電性連接A/D轉(zhuǎn)換模塊,所述A/D轉(zhuǎn)換模塊與數(shù)據(jù)傳輸模塊電性連接,所述微芯片還電性連接顯示屏。
優(yōu)選的,所述系統(tǒng)維護單元包括微處理器,所述微處理器與中央處理器電性連接,所述微處理器電性連接故障自檢模塊,所述故障自檢模塊電性連接故障識別模塊,所述故障識別模塊電性連接故障修復(fù)模塊,所述故障修復(fù)模塊與微處理器電性連接。
優(yōu)選的,所述中央處理器還電性連接檢測報警模塊,所述檢測報警模塊電性連接信號發(fā)送模塊,所述信號發(fā)送模塊與數(shù)據(jù)傳輸模塊電性連接。
優(yōu)選的,所述存儲模塊電性連接數(shù)據(jù)分類模塊。
本實用新型提出的一種用于臺區(qū)線損治理培訓(xùn)與競賽的平臺,有益效果在于:本實用新型中,通過執(zhí)行模塊從而開啟高供低計帶互感器表、低供低計直通表和單相表,通過數(shù)據(jù)錄入模塊將高供低計帶互感器表、低供低計直通表和單相表產(chǎn)生的數(shù)據(jù)進行錄入,通過數(shù)據(jù)處理模塊對數(shù)據(jù)進行處理,通過數(shù)據(jù)提取模塊對存儲模塊中的數(shù)據(jù)進行提取,通過數(shù)據(jù)對比模塊對處理后的數(shù)據(jù)和提取的數(shù)據(jù)進行對比,同時加入模擬負荷模塊的模擬數(shù)據(jù)進行一起對比,通過數(shù)據(jù)分析模塊對對比后的數(shù)據(jù)進行分析,通過數(shù)據(jù)反饋模塊將分析后的數(shù)據(jù)反饋至中央處理器中,通過微芯片使得A/D轉(zhuǎn)換模塊對數(shù)據(jù)進行轉(zhuǎn)換,從而將轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)通過顯示屏顯示出來。此裝置設(shè)計合理,通過不同的設(shè)備滿足不同的測試,從而提高檢測的速度,達到提高培訓(xùn)效率的目的。
附圖說明
圖1為本實用新型提出的一種用于臺區(qū)線損治理培訓(xùn)與競賽的平臺的系統(tǒng)框圖。
具體實施方式
下面將結(jié)合本實用新型實施例中的附圖,對本實用新型實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例,而不是全部的實施例。
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