[實用新型]一種利用反射原理的三次元測量裝置

有效

• 申請號: 201820568862.8
• 申請日: 2018-04-19
• 公開（公告）號: CN207991459U
• 公開（公告）日: 2018-10-19
• 發明（設計）人: 譚浩泉;施耀杰
• 申請（專利權）人: 東莞市星澤模具激光科技有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00
• 代理公司: 廣東莞信律師事務所 44332
• 代理人: 曾秋梅

1.一種利用反射原理的三次元測量裝置，包括工作臺(1)，其特征在于，所述工作臺(1)上方通過兩個支撐座(2)活動連接有一具有前后移動功能的懸臂(3)，所述懸臂(3)上活動連接有一具有左右移動功能的外罩(4)，所述外罩(4)下端活動連接有一具有上下移動功能的升降框架(5)，所述升降框架(5)下端固定連接有一用來接觸待測物的探測頭組件(6)，所述外罩(4)和探測頭組件(6)內設有用于發射光線后使光線聚焦反射再接收光線的光線處理組件(7)。

2.如權利要求1所述的利用反射原理的三次元測量裝置，其特征在于，所述光線處理組件(7)具有一設置于所述外罩(4)內的第一鐳射對焦檢測器(71)，所述探測頭組件(6)具有一探針座(61)，所述探針座(61)的空腔內自上而下安裝有第一透鏡(72)和與所述第一透鏡(72)同軸的反射鏡(73)，所述第一鐳射對焦檢測器(71)用來檢測光線照射于所述反射鏡(73)并反射的光線在豎直方向上的移動量。

3.如權利要求2所述的利用反射原理的三次元測量裝置，其特征在于，所述外罩(4)一端內部設有第二鐳射對焦檢測器(74)，所述第二鐳射對焦檢測器(74)前方設有第二透鏡(75)，所述第二透鏡(75)前方傾斜設有一分光鏡(76)，所述分光鏡(76)位于所述第一透鏡(72)正上方，所述第二鐳射對焦檢測器(74)用于檢測光線照射于所述反射鏡(73)并反射的光線相對位置移動量。

4.如權利要求2所述的利用反射原理的三次元測量裝置，其特征在于，所述探針座(61)的空腔內安裝有一滑件(63)，所述滑件(63)上表面與所述反射鏡(73)下表面固定連接。

5.如權利要求4所述的利用反射原理的三次元測量裝置，其特征在于，所述滑件(63)下端固定有一探針(64)，所述探針(64)下端呈球形。

6.如權利要求4所述的利用反射原理的三次元測量裝置，其特征在于，所述滑件(63)與所述第一透鏡(72)之間設有一環形的磁鐵(65)，所述磁鐵(65)安裝于所述探針座(61)的空腔內，所述滑件(63)上端由鐵或鈷或鎳制成，整個所述滑件(63)通過所述磁鐵(65)提供吸引力懸浮于所述探針座(61)的空腔內。

7.如權利要求4所述的利用反射原理的三次元測量裝置，其特征在于，所述探針座(61)的空腔中固定有一空氣軸承(62)，所述空氣軸承(62)套設在所述滑件(63)外側，所述探針座(61)下端設有一進氣管(67)，所述進氣管(67)穿過部分所述探針座(61)并與所述空氣軸承(62)連通。

8.如權利要求1所述的利用反射原理的三次元測量裝置，其特征在于，所述懸臂(3)左右兩端設有滑塊(33)，所述滑塊(33)通過空氣軸承與所述支撐座(2)活動連接。

9.如權利要求1所述的利用反射原理的三次元測量裝置，其特征在于，所述懸臂(3)前后兩端面分別凸出設有兩個對應的滑動軌道(31),兩個所述滑動軌道(31)上分別設有兩根限位條(32)。

10.如權利要求1所述的利用反射原理的三次元測量裝置，其特征在于，兩個所述支撐座(2)呈T形，所述支撐座(2)下端中心設有一通孔。