[實(shí)用新型]一種基于串聯(lián)式光學(xué)天線的光學(xué)相控陣芯片有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201820554790.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-04-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN208270902U | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-12-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張文富;章羚璇;孫笑晨;王國(guó)璽 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類號(hào): | G02F1/295 | 分類號(hào): | G02F1/295;H01S5/40;G02F1/21;G02F1/01;G02B6/293;G02B6/26;G02B6/12;G01S7/48 |
| 代理公司: | 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211 | 代理人: | 楊引雪 |
| 地址: | 710119 陜西省西*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 覆蓋層 光學(xué)相控陣 天線單元 相位調(diào)制器 彎曲波導(dǎo) 上端 芯片 基底 下端 芯層 光柵 光學(xué)天線 連接波導(dǎo) 串聯(lián)式 導(dǎo)光層 折射率 直波導(dǎo) 豎向 天線 本實(shí)用新型 二維陣列 光學(xué)性能 橫向連接 首尾相連 依次設(shè)置 影響器件 波長(zhǎng) 旁瓣 | ||
1.一種基于串聯(lián)式光學(xué)天線的光學(xué)相控陣芯片,其特征在于:包括基底(126)和導(dǎo)光層;
所述導(dǎo)光層包括依次設(shè)置的上端覆蓋層(123)、芯層(121)和下端覆蓋層(124);所述下端覆蓋層(124)設(shè)置在基底(126)的上端,所述芯層(121)的折射率高于上端覆蓋層(123)、下端覆蓋層(124)和基底(126)的折射率;
所述芯層(121)包括多個(gè)天線單元,多個(gè)天線單元首尾相連,形成多個(gè)豎向陣列,多個(gè)豎向陣列橫向串聯(lián)為二維陣列;
所述天線單元包括光柵天線(120)、相位調(diào)制器(130)和第一連接波導(dǎo)(150);所述相位調(diào)制器(130)主要由直波導(dǎo)(170)和兩個(gè)彎曲波導(dǎo)(160)組成,兩個(gè)彎曲波導(dǎo)(160)通過(guò)直波導(dǎo)(170)連接;所述光柵天線(120)與相位調(diào)制器的彎曲波導(dǎo)(160)通過(guò)第一連接波導(dǎo)(150)連接;一個(gè)天線單元的彎曲波導(dǎo)(160)與相鄰天線單元的光柵天線(120)通過(guò)第一連接波導(dǎo)(150)首尾連接,形成豎向陣列,多個(gè)豎向陣列通過(guò)第二連接波導(dǎo)(140)橫向串聯(lián)形成二維陣列;
所述光柵天線(120)包括基體波導(dǎo)和多個(gè)刻蝕狹縫,所述刻蝕狹縫垂直于光傳播方向,多個(gè)刻蝕狹縫相互平行且周期排布,所述光柵天線(120)為淺刻蝕光柵天線或深刻蝕光柵天線,所述淺刻蝕光柵天線的刻蝕狹縫設(shè)置在基體波導(dǎo)的上表面、下表面或上下表面;所述深刻蝕光柵天線的刻蝕狹縫設(shè)置在基體波導(dǎo)的側(cè)面。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于串聯(lián)式光學(xué)天線的光學(xué)相控陣芯片,其特征在于:所述下端覆蓋層(124)與基底(126)之間或上端覆蓋層(123)與芯層(121)之間還設(shè)置有高反射層(125),所述高反射層(125)由金屬薄膜或多層介質(zhì)膜構(gòu)成,設(shè)置有高反射層(125)時(shí),淺刻蝕光柵天線的刻蝕狹縫設(shè)置在基體波導(dǎo)上遠(yuǎn)離高反射層的一面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于串聯(lián)式光學(xué)天線的光學(xué)相控陣芯片,其特征在于:所述光柵天線與相鄰光柵天線在橫向和豎向均對(duì)齊設(shè)置。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的基于串聯(lián)式光學(xué)天線的光學(xué)相控陣芯片,其特征在于:當(dāng)彎曲波導(dǎo)(160)與光柵天線(120)的寬度不一致時(shí),彎曲波導(dǎo)(160)與光柵天線(120)通過(guò)錐形波導(dǎo)連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于串聯(lián)式光學(xué)天線的光學(xué)相控陣芯片,其特征在于:所述淺刻蝕光柵天線的刻蝕深度與基體波導(dǎo)的厚度比值為5%~15%。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于串聯(lián)式光學(xué)天線的光學(xué)相控陣芯片,其特征在于:所述深刻蝕光柵天線的刻蝕深度與基體波導(dǎo)的厚度比值為70%~100%,寬度為基體波導(dǎo)寬度的5%~15%。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的基于串聯(lián)式光學(xué)天線的光學(xué)相控陣芯片,其特征在于:所述相位調(diào)制器(130)采用半導(dǎo)體材料制作,或采用電光材料制作,或由波導(dǎo)連接電導(dǎo)加熱單元構(gòu)成。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基于串聯(lián)式光學(xué)天線的光學(xué)相控陣芯片,其特征在于:所述基底(126)和導(dǎo)光層采用絕緣硅片、氮化硅、摻雜二氧化硅或亞磷酸鹽制作。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的基于串聯(lián)式光學(xué)天線的光學(xué)相控陣芯片,其特征在于:相鄰天線單元之間的豎向距離為5微米,橫向距離為20微米。
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