[實用新型]應用于探針基座的絕緣件及其探針基座

有效

• 申請號: 201820540891.3
• 申請日: 2018-04-16
• 公開（公告）號: CN208314033U
• 公開（公告）日: 2019-01-01
• 發明（設計）人: 蔡伯晨;陳威助;呂彥輝;謝健堉;侯志輝;陳彥均;潘亭蓁;林彥維
• 申請（專利權）人: 中國探針股份有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨;李林

本實用新型提供一種應用于探針基座的絕緣件及其探針基座，該絕緣件具有一探針安裝孔，其特征在于絕緣件為片狀結構體，且具有復數通孔，探針安裝孔位于絕緣件的中心，探針安裝孔及通孔分別由絕緣件的第一表面貫穿至第二表面，第一表面及第二表面未設有探針安裝孔及通孔的區域為共平面。而探針基座具有一基座本體及至少一復合式組件，基座本體具有至少一檢測區，復合式組件設于檢測區內，且具有至少一針孔以設置一探針，絕緣件則供以設于針孔內。如此可于應用時降低因阻抗不匹配造成的信號反射損失，提升探針檢測的效能。

技術領域

本實用新型與電性檢測裝置領域相關，尤其是一種可有效降低介電系數以提升檢測頻寬的應用于探針基座的絕緣件及其探針基座。

背景技術

現今，各類電子產品于出廠前，須檢測其內各種精密微型電子元件的電性狀態，此為電子產品合格率測試的重要一環。而為利于檢測前述的各類電性狀態，探針則為目前相當常見的測試應用產品。

為可快速檢測電子元件上各電連接點的狀態，系衍生有設置多個探針的檢測座或接頭等機構。于檢測時使探針一端接觸電連接點形成導通，另一端則與電路板等檢測機構電性連接，以經由檢測機構得知各電連接點的信號傳遞等電性狀態。

目前用以檢測電連接點的檢測座或接頭，為可讓探針與檢測座體或接頭座體達到防止探針短路與干擾等現象，系需通過絕緣物件來隔絕兩者。然，當應用于高頻寬信號檢測時，檢測座或接頭則須有較佳遮蔽傳輸雜訊的效能，但以目前的檢測座與接頭結構，無法于絕緣及阻抗匹配之間取得較佳的平衡設計，故在如高頻寬信號等測試種類下，仍無法具有高準確性。

有鑒于此，如何提升現今電性檢測裝置的效能，實為當前亟需解決的問題。本實用新型人集結多年相關行業的經驗，系于此提出一種應用于探針基座的絕緣件及其探針基座。

實用新型內容

本實用新型的一目的，旨在提供一種應用于探針基座的絕緣件及其探針基座，其可有效降低檢測過程中因阻抗不匹配造成的信號反射損失，以大幅提升電性檢測的準確度。

為達上述目的，本實用新型提出一種應用于探針基座的絕緣件，具有一探針安裝孔，供以穿設探針，其特征在于：該絕緣件為片狀結構體，且具有復數通孔、一第一表面及一第二表面，該探針安裝孔位于該絕緣件的中心，該第一表面及該第二表面相對設置，且該探針安裝孔及該復數通孔分別由該第一表面貫穿至該第二表面，且該第一表面及該第二表面未設有該探針安裝孔及該復數通孔的區域是共平面。如此，可于探針電性傳輸過程中，有效降低降低對應該絕緣件空間內的介電系數，而可降低因阻抗不匹配造成的信號反射損失，以具有更佳的檢測效能。

更進一步地，為使該絕緣件兼具剛性與較佳的低介電系數表現，于另一實施例中系揭示該第一表面未具有該探針安裝孔的區域面積為A，該復數通孔的總面積和介于0.6A～0.8A。

此外，于再一實施例中，該復數通孔圍繞該探針安裝孔為排列設置，以使對應該絕緣件空間內的空氣量得以均勻分配，有效將整個空間區域中的介電系數降低。

于一實施例中，則揭示各該通孔的寬度由該第一表面及該第二表面朝中間漸減，以具有較佳的介電系數降低功效。

本實用新型也揭示一種探針基座，供以檢測半導體元件，包含：一基座本體，具有至少一檢測區，供以放置半導體元件；至少一復合式組件，設于該檢測區，且具有至少一針孔，供以設置一探針；及至少一絕緣件，供以設置于該針孔內，該絕緣件為片狀結構體，且具有一探針安裝孔、復數通孔、一第一表面及一第二表面，該探針安裝孔位于該絕緣件的中心，該第一表面及該第二表面相對設置，且該探針安裝孔及該復數通孔分別由該第一表面貫穿至該第二表面，且該第一表面及該第二表面未設有該探針安裝孔及該復數通孔的區域是共平面。

其中，于另一實施例中揭示該復合式組件包含至少一金屬模件及至少一非金屬模件，且該金屬模件及該非金屬模件呈部分重疊的拼組狀態。如此可有效降低該探針基座的制造成本，同時又可因應高頻測試的需求。