[實(shí)用新型]薄膜弧形檢測(cè)儀以及移動(dòng)式弧形檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201820505521.6 | 申請(qǐng)日： | 2018-04-09 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN207963741U | 公開(kāi)（公告）日： | 2018-10-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 胡敏;肖武華;王斌;廖柳 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人： | 深圳市星源材質(zhì)科技股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào)： | G01B5/20 | 分類(lèi)號(hào)： | G01B5/20 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王暉 |
| 地址： | 518000 廣東省*** | 國(guó)省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 檢測(cè) 薄膜 檢測(cè)儀 標(biāo)線 檢測(cè)裝置 檢測(cè)區(qū) 移動(dòng)式 面板設(shè)置 滾輪 測(cè)量 長(zhǎng)度方向延伸 方向延伸 沿檢測(cè) 工位 垂直 簡(jiǎn)易 測(cè)試 貫穿 移動(dòng) | ||
1.一種薄膜弧形檢測(cè)儀，其特征在于，包括檢測(cè)面板；
所述檢測(cè)面板設(shè)置有檢測(cè)區(qū)，所述檢測(cè)區(qū)沿著所述檢測(cè)面板的長(zhǎng)度方向延伸；
所述檢測(cè)面板設(shè)置有至少一根檢測(cè)標(biāo)線，所述檢測(cè)標(biāo)線呈直線，所述檢測(cè)標(biāo)線沿所述檢測(cè)區(qū)的長(zhǎng)度方向貫穿所述檢測(cè)區(qū)；
所述檢測(cè)標(biāo)線的一側(cè)設(shè)置有測(cè)量刻度，所述測(cè)量刻度沿垂直于所述檢測(cè)標(biāo)線方向且位于所述檢測(cè)區(qū)的長(zhǎng)度方向的中部的方向延伸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜弧形檢測(cè)儀，其特征在于，所述檢測(cè)標(biāo)線設(shè)置至少兩根；
其中一根所述檢測(cè)標(biāo)線為正向標(biāo)線，另一根所述檢測(cè)標(biāo)線為反向標(biāo)線，所述正向標(biāo)線和所述反向標(biāo)線平行設(shè)置；
所述正向標(biāo)線對(duì)應(yīng)的所述測(cè)量刻度位于所述正向標(biāo)線的一側(cè)，所述反向標(biāo)線對(duì)應(yīng)的所述測(cè)量刻度位于所述反向標(biāo)線的與所述正向標(biāo)線相反的一側(cè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜弧形檢測(cè)儀，其特征在于，所述檢測(cè)標(biāo)線的與所述檢測(cè)區(qū)的兩端相交處設(shè)置有限位塊；
所述限位塊的朝向所述測(cè)量刻度的一側(cè)側(cè)面與所述檢測(cè)標(biāo)線齊平。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的薄膜弧形檢測(cè)儀，其特征在于，所述檢測(cè)面板嵌設(shè)有磁鐵條，所述磁鐵條沿著所述檢測(cè)標(biāo)線設(shè)置；
所述限位塊為磁塊，所述磁塊與所述磁鐵條吸附連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的薄膜弧形檢測(cè)儀，其特征在于，所述檢測(cè)面板設(shè)置有限位槽，所述限位槽的朝向所述測(cè)量刻度的一側(cè)側(cè)邊與所述檢測(cè)標(biāo)線重合；
所述磁鐵條嵌設(shè)于所述限位槽，所述磁塊滑動(dòng)嵌設(shè)于所述限位槽且與所述磁鐵條吸附連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜弧形檢測(cè)儀，其特征在于，所述檢測(cè)面板設(shè)置有至少一個(gè)沿其長(zhǎng)度方向延伸且貫穿其兩端的檢測(cè)槽；
所述檢測(cè)槽的一側(cè)側(cè)邊與所述檢測(cè)標(biāo)線重合，所述測(cè)量刻度設(shè)置于所述檢測(cè)槽。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的薄膜弧形檢測(cè)儀，其特征在于，所述薄膜弧形檢測(cè)儀還包括檢測(cè)平臺(tái)，所述檢測(cè)面板設(shè)置于所述檢測(cè)平臺(tái)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的薄膜弧形檢測(cè)儀，其特征在于，所述檢測(cè)平臺(tái)為平臺(tái)框架結(jié)構(gòu)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至8中任意一項(xiàng)所述的薄膜弧形檢測(cè)儀，其特征在于，所述測(cè)量刻度為距離所述檢測(cè)標(biāo)線的垂直間距刻度或者為兩端延伸至所述檢測(cè)標(biāo)線與所述檢測(cè)區(qū)邊緣相交處的弧線對(duì)應(yīng)的弧度。
10.一種移動(dòng)式弧形檢測(cè)裝置，其特征在于，包括滾輪和權(quán)利要求7所述的薄膜弧形檢測(cè)儀，所述滾輪設(shè)置于所述檢測(cè)平臺(tái)的底部。
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