[實用新型]微型同軸測試針

有效

• 申請號: 201820496536.0
• 申請日: 2018-04-09
• 公開（公告）號: CN208125776U
• 公開（公告）日: 2018-11-20
• 發明（設計）人: 蔡伯晨;陳威助;謝健堉;呂彥輝;陳彥均;侯志輝;潘亭蓁
• 申請（專利權）人: 中國探針股份有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司 11139
• 代理人: 孫皓晨;李林

本實用新型提供一種微型同軸測試針，具有一探針，其特征在于微型同軸測試針還具有一模塊化元件及至少一限位件，模塊化元件為中空圓柱體，并套設于探針外側，且探針的兩端分別凸出于模塊化元件的兩端，并模塊化元件與探針為非導通狀態；限位件位于探針及模塊化元件之間，并模塊化元件對應限位件設有復數擋抵部，或探針對應限位件設有至少一擋抵部，以通過擋抵部與限位件接觸達到限制探針位移的功效。如此提供模塊化的測試針產品，而可免于依序植針的不便組裝程序，且可提升測試針的適用度，尤針對高頻測試更是具有極佳的干擾阻卻效能。

技術領域

本實用新型涉及測試探針領域，尤其是一種模塊化而易于組裝，同時具有極佳遮罩效果以利高頻信號測試的微型同軸測試針。

背景技術

各類電子元件于制作完成后，都須進行相關的電性或信號傳輸檢測程序，以確保電子元件的各參數狀態，于該領域中則常見以探針作為測試元件的應用。

視電子元件種類與屬性，測試時的需求也有所不同。探針結構據此可區分如懸臂探針或垂直探針，并進一步依據應用領域分為如ICT探針、高頻探針、開關探針、半導體探針或電池探針等。以測試高速高頻信號的探針為例，目前采用的方式系需將探針的零組件，依序裝配至一座體中始能進行測試，前述座體上需開設多個與探針尺寸相符的穿孔以利植針者將探針零組件依序置入，此種方式造成組裝上的不便以及工時過長的問題；且由于穿孔需與探針尺寸配合，因此需精準控制座體的尺寸公差，并當探針有所設變時，座體的穿孔尺寸也須一并調整，種種不便的下大幅增加了加工與設計成本。另一方面，隨著微型化發展，電子元件的尺寸也隨之縮減，故用以搭配檢測的探針必然須縮小，在整體尺寸已屬極微小化的情況下，遑論用以構成其結構的各零組件尺寸，在此情況下依據前述方式進行組裝時，更是容易遭遇組裝不善進而影響檢測效能的情況。

有鑒于此，本實用新型設計人系集結多年來從事相關行業的經驗，提出一種微型同軸測試針，希冀可解決現有探針的缺失。

實用新型內容

本實用新型的一目的，旨在提供一種微型同軸測試針，其系提供模塊化的測試針產品，除可單一使用外也可任意搭配治具進行檢測作業，進而提升測試針的共用性與組裝便利性。

為達上述目的，本實用新型揭示一種微型同軸測試針，具有一探針，其特征在于：該微型同軸測試針還具有一模塊化元件及至少一限位件，該模塊化元件為中空圓柱體，并套設于該探針外側，且該探針的兩端分別凸出于該模塊化元件的兩端，并該模塊化元件與該探針為非導通狀態；該限位件相對設置且設于該探針外側，進而位于該探針及該模塊化元件之間，該模塊化元件對應該限位件具有復數擋抵部，且至少一該擋抵部鄰近該模塊化元件的一端設置，至少一該擋抵部鄰近該模塊化元件的另一端設置，以供與該限位件相互接觸進而達到限制該探針位置的功效。如此，單一的該微型同軸測試針即可具有同軸效果，而可直接用于檢測，除可免除測試時依序植針的不便，減縮組裝工時外，也可進一步搭配各種相關檢測治具使用。

于另一實施例中，該復數擋抵部位于該模塊化元件的內側面，且分別為一弧形凸點；或該復數擋抵部位于該模塊化元件的內側面，且分別為一環狀凸肋，以與該限位件接觸達到限位功效。并較佳者，該復數擋抵部位于該模塊化元件的內側面，且該模塊化元件外側對應該復數擋抵部位置是凹陷狀態。

基于前述各實施例內容，于一較佳實施態樣下，該限位件對應該擋抵部形成有一接觸部，且該接觸部是一斜面，以提升該復數擋抵部與該限位件的擋抵效能。

此外，為符合微型化電子元件的檢測需求，該微型同軸測試針的最大長度小于3.7mm，以更為適用于現今的微型待測物件。

或于另一實施例中，也可使該模塊化元件的直徑由兩端朝中央方向漸增，而在該模塊化元件的二端分別形成該擋抵部，以利用漸減的管徑相對該限位件形成擋抵限位效能。