[實(shí)用新型]一種光纖陀螺檢測(cè)電路測(cè)試系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201820489212.4
• 申請(qǐng)日: 2018-04-08
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN208140877U
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-11-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李慧鵬;潘雄;易軍
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 株洲菲斯羅克光電技術(shù)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/28
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/28;G01C25/00
• 代理公司: 廣州三環(huán)專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 44202
• 代理人: 肖宇揚(yáng)

本實(shí)用新型涉及光纖陀螺測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種光纖陀螺檢測(cè)電路測(cè)試系統(tǒng)，包括測(cè)試電箱和用于數(shù)據(jù)采集及控制的上位機(jī)；所述測(cè)試電箱包括為其提供電能的電源濾波板、數(shù)據(jù)采集板、信號(hào)調(diào)理板，功率電阻、以及依次連接的風(fēng)扇、散熱片、用于升降溫的換能器片、光源和用于檢測(cè)并顯示光源溫度的溫度顯示器；所述上位機(jī)分別通過(guò)信號(hào)調(diào)理板和數(shù)據(jù)采集板外接檢測(cè)電路板；所述光源設(shè)置在換能器片上，并外接待測(cè)光纖陀螺光源板；測(cè)試電箱上還設(shè)有接口單元，通過(guò)接口單元外接待測(cè)電路板。本測(cè)試系統(tǒng)集光纖陀螺檢測(cè)電路測(cè)試功能、光纖陀螺光源驅(qū)動(dòng)板測(cè)試功能于一體，通過(guò)測(cè)試工裝、接口的設(shè)計(jì)，使得測(cè)試操作簡(jiǎn)單、連接方便。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及光纖陀螺測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種光纖陀螺檢測(cè)電路測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

成熟的干涉型光纖陀螺采用閉環(huán)反饋與信號(hào)調(diào)制相結(jié)合的檢測(cè)電路方案。作為光纖陀螺的信號(hào)處理核心組件，檢測(cè)電路板一般包括主控電路模塊、D/A模塊、A/D模塊以及前放電路模塊等。檢測(cè)電路板在調(diào)試階段，需要對(duì)其功能進(jìn)行檢測(cè)，包括檢測(cè)電路板的輸入輸出功能、光源驅(qū)動(dòng)板功能測(cè)試等，現(xiàn)有的檢測(cè)電路測(cè)試為單一的功能測(cè)試，缺乏一套綜合的測(cè)試系統(tǒng)，且測(cè)試時(shí)的連接線(xiàn)路復(fù)雜，效率低。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型為克服上述現(xiàn)有技術(shù)所述的至少一種缺陷，提供一種連接線(xiàn)路簡(jiǎn)潔、操作方便，且集光纖陀螺檢測(cè)電路測(cè)試功能、光源驅(qū)動(dòng)板測(cè)試功能于一體的光纖陀螺檢測(cè)電路測(cè)試系統(tǒng)。

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下：

提供一種光纖陀螺檢測(cè)電路測(cè)試系統(tǒng)，包括測(cè)試電箱和用于數(shù)據(jù)采集及控制的上位機(jī)；所述測(cè)試電箱包括為其提供電能的電源濾波板、數(shù)據(jù)采集板、信號(hào)調(diào)理板，功率電阻、以及依次連接的風(fēng)扇、散熱片、用于升降溫的換能器片、光源和用于檢測(cè)并顯示光源溫度的溫度顯示器；所述上位機(jī)分別通過(guò)信號(hào)調(diào)理板和數(shù)據(jù)采集板外接檢測(cè)電路板；所述光源設(shè)置在換能器片上，并外接待測(cè)光纖陀螺光源板；測(cè)試電箱上還設(shè)有接口單元，通過(guò)接口單元外接待測(cè)電路板。

本方案中，上位機(jī)根據(jù)被測(cè)電路板的不同下載相應(yīng)的測(cè)試程序，控制被測(cè)電路板的D/A模塊輸出測(cè)試模擬方波，測(cè)試模擬方波經(jīng)過(guò)信號(hào)調(diào)理板的信號(hào)調(diào)理后傳送到待測(cè)電路板的前方板；上位機(jī)通過(guò)數(shù)據(jù)采集板，將待測(cè)電路板的D/A模塊輸出的測(cè)試模擬信號(hào)與待測(cè)電路板的A/D模塊采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行比對(duì)，從而驗(yàn)證被測(cè)電路板的輸入輸出功能。

進(jìn)一步地，為了便于連接操作，還包括用于夾裝待測(cè)電路板的測(cè)試工裝，分為光源驅(qū)動(dòng)板測(cè)試工裝和主板測(cè)試工裝；每個(gè)測(cè)試工裝設(shè)有用于定位電路板的安裝區(qū)域和包含接口的接口區(qū)域；待測(cè)電路板通過(guò)測(cè)試工裝上的接口分別與測(cè)試電箱、上位機(jī)相連。相較于現(xiàn)有技術(shù)獎(jiǎng)待測(cè)電路板直接與測(cè)試系統(tǒng)連接，本方案連接線(xiàn)路簡(jiǎn)潔、便于操作。

進(jìn)一步地，所述安裝區(qū)域設(shè)有用于固定待測(cè)電路板的定位栓，定位栓的位置排布與待測(cè)電路板上的定位孔相匹配。通過(guò)安裝區(qū)域的定位，能夠避免電路板在測(cè)試過(guò)程中因擾動(dòng)而造成測(cè)試的不良影響。

進(jìn)一步地，所述光源驅(qū)動(dòng)板通過(guò)設(shè)置在光源驅(qū)動(dòng)板測(cè)試工裝接口區(qū)域的電源接口與測(cè)試電箱的電源濾波板連接，通過(guò)設(shè)置在光源驅(qū)動(dòng)板測(cè)試工裝接口區(qū)域的SLD光源接口與測(cè)試電箱的光源連接。

進(jìn)一步地，所述主板測(cè)試工裝接口區(qū)域設(shè)有JTB接口、探測(cè)器接口以及電源/通信接口；待測(cè)電路板分別通過(guò)JTB接口、探測(cè)器接口與測(cè)試電箱的信號(hào)調(diào)理板連接，通過(guò)電源/通信接口與測(cè)試電箱的數(shù)據(jù)采集板連接。

進(jìn)一步地，還包括信號(hào)發(fā)生器，待測(cè)電路板還通過(guò)信號(hào)發(fā)生器與測(cè)試電箱的信號(hào)調(diào)理板連接。待測(cè)電路板的D/A模塊輸出觸發(fā)信號(hào)，經(jīng)過(guò)信號(hào)調(diào)理板的信號(hào)調(diào)理后，控制信號(hào)發(fā)生器輸出預(yù)期階梯波或方波信號(hào)來(lái)驗(yàn)證待測(cè)電路板的A/D模塊和前放板功能。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型的有益效果為：