[實(shí)用新型]一種電路板測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201820482510.0
• 申請日: 2018-04-04
• 公開（公告）號: CN208109998U
• 公開（公告）日: 2018-11-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張國璽
• 申請（專利權(quán)）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/067
• 代理公司: 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280
• 代理人: 賈鳳濤

本申請公開了一種電路板測試裝置，該電路板測試裝置包括：第一支撐件，用于固定待測電路板；測試探針，測試探針可相對于第一支撐件移動，以在對待測電路板進(jìn)行測試時與待測電路板接觸；聯(lián)動組件，可與測試探針同步移動；傳感器，設(shè)置在第一支撐件上，用于在聯(lián)動組件同步移動時獲取聯(lián)動組件與傳感器接觸時的參考壓力值；控制器，連接傳感器和測試探針，用于根據(jù)聯(lián)動組件與傳感器接觸時的參考壓力值調(diào)節(jié)測試探針的移動。通過上述方式，本申請能夠防止測試探針接觸不良帶來的指標(biāo)誤測，提高了生產(chǎn)線的測試效率。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及電路板測試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種電路板測試裝置。

背景技術(shù)

電路板在產(chǎn)線生產(chǎn)時，需要對電路板的性能進(jìn)行測試。一般是通過伸出各種測試探針，頂在電路板上的測試點(diǎn)上，完成電路板各項(xiàng)指標(biāo)的測試。

一般的測試裝置都是采用機(jī)械式設(shè)計(jì)，驅(qū)動探針接觸電路板上的測試點(diǎn)，但是探針是否接觸良好，無從判斷，由此就會因探針與電路板測試點(diǎn)的接觸不良，導(dǎo)致誤測試，增加測試時間和人力成本。

實(shí)用新型內(nèi)容

為解決上述技術(shù)問題，本申請采用的一個技術(shù)方案是：提供一種電路板測試裝置，該電路板測試裝置包括：第一支撐件，用于固定待測電路板；測試探針，測試探針可相對于第一支撐件移動，以在對待測電路板進(jìn)行測試時與待測電路板接觸；聯(lián)動組件，可與測試探針同步移動；傳感器，設(shè)置在第一支撐件上，用于在聯(lián)動組件同步移動時獲取聯(lián)動組件與傳感器接觸時的參考壓力值；控制器，連接傳感器和測試探針，用于根據(jù)聯(lián)動組件與傳感器接觸時的參考壓力值調(diào)節(jié)測試探針的移動。

附圖說明

為了更清楚地說明本申請實(shí)施例中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。其中：

圖1是本申請?zhí)峁┑碾娐钒鍦y試裝置一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本申請?zhí)峁┑碾娐钒鍦y試裝置一實(shí)施例中第一支撐件的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本申請?zhí)峁┑碾娐钒鍦y試裝置另一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本申請?zhí)峁┑碾娐钒鍦y試裝置另一實(shí)施例中第二支撐件的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖5是本申請?zhí)峁┑碾娐钒鍦y試裝置另一實(shí)施例中聯(lián)動組件的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本申請實(shí)施例中的附圖，對本申請實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。可以理解的是，此處所描述的具體實(shí)施例僅用于解釋本申請，而非對本申請的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本申請相關(guān)的部分而非全部結(jié)構(gòu)。基于本申請中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本申請保護(hù)的范圍。

本申請中的術(shù)語“第一”、“第二”等是用于區(qū)別不同對象，而不是用于描述特定順序。此外，術(shù)語“包括”和“具有”以及它們?nèi)魏巫冃危鈭D在于覆蓋不排他的包含。例如包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備沒有限定于已列出的步驟或單元，而是可選地還包括沒有列出的步驟或單元，或可選地還包括對于這些過程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或單元。

在本文中提及“實(shí)施例”意味著，結(jié)合實(shí)施例描述的特定特征、結(jié)構(gòu)或特性可以包含在本申請的至少一個實(shí)施例中。在說明書中的各個位置出現(xiàn)該短語并不一定均是指相同的實(shí)施例，也不是與其它實(shí)施例互斥的獨(dú)立的或備選的實(shí)施例。本領(lǐng)域技術(shù)人員顯式地和隱式地理解的是，本文所描述的實(shí)施例可以與其它實(shí)施例相結(jié)合。

參閱圖1，圖1是本申請?zhí)峁┑碾娐钒鍦y試裝置一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖，該電路板測試裝置包括第一支撐件10、測試探針20、聯(lián)動組件30、傳感器40和控制器50。其中：