[實(shí)用新型]一種電路板測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820482510.0 | 申請日: | 2018-04-04 |
| 公開(公告)號: | CN208109998U | 公開(公告)日: | 2018-11-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張國璽 | 申請(專利權(quán))人: | OPPO廣東移動通信有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R1/067 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 賈鳳濤 |
| 地址: | 523860 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試探針 聯(lián)動組件 電路板測試裝置 支撐件 傳感器接觸 待測電路板 參考壓力 同步移動 連接傳感器 電路板 測試效率 接觸不良 控制器 傳感器 移動 申請 測試 | ||
本申請公開了一種電路板測試裝置,該電路板測試裝置包括:第一支撐件,用于固定待測電路板;測試探針,測試探針可相對于第一支撐件移動,以在對待測電路板進(jìn)行測試時與待測電路板接觸;聯(lián)動組件,可與測試探針同步移動;傳感器,設(shè)置在第一支撐件上,用于在聯(lián)動組件同步移動時獲取聯(lián)動組件與傳感器接觸時的參考壓力值;控制器,連接傳感器和測試探針,用于根據(jù)聯(lián)動組件與傳感器接觸時的參考壓力值調(diào)節(jié)測試探針的移動。通過上述方式,本申請能夠防止測試探針接觸不良帶來的指標(biāo)誤測,提高了生產(chǎn)線的測試效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及電路板測試技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種電路板測試裝置。
背景技術(shù)
電路板在產(chǎn)線生產(chǎn)時,需要對電路板的性能進(jìn)行測試。一般是通過伸出各種測試探針,頂在電路板上的測試點(diǎn)上,完成電路板各項(xiàng)指標(biāo)的測試。
一般的測試裝置都是采用機(jī)械式設(shè)計(jì),驅(qū)動探針接觸電路板上的測試點(diǎn),但是探針是否接觸良好,無從判斷,由此就會因探針與電路板測試點(diǎn)的接觸不良,導(dǎo)致誤測試,增加測試時間和人力成本。
實(shí)用新型內(nèi)容
為解決上述技術(shù)問題,本申請采用的一個技術(shù)方案是:提供一種電路板測試裝置,該電路板測試裝置包括:第一支撐件,用于固定待測電路板;測試探針,測試探針可相對于第一支撐件移動,以在對待測電路板進(jìn)行測試時與待測電路板接觸;聯(lián)動組件,可與測試探針同步移動;傳感器,設(shè)置在第一支撐件上,用于在聯(lián)動組件同步移動時獲取聯(lián)動組件與傳感器接觸時的參考壓力值;控制器,連接傳感器和測試探針,用于根據(jù)聯(lián)動組件與傳感器接觸時的參考壓力值調(diào)節(jié)測試探針的移動。
附圖說明
為了更清楚地說明本申請實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實(shí)施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。其中:
圖1是本申請?zhí)峁┑碾娐钒鍦y試裝置一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本申請?zhí)峁┑碾娐钒鍦y試裝置一實(shí)施例中第一支撐件的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是本申請?zhí)峁┑碾娐钒鍦y試裝置另一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4是本申請?zhí)峁┑碾娐钒鍦y試裝置另一實(shí)施例中第二支撐件的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5是本申請?zhí)峁┑碾娐钒鍦y試裝置另一實(shí)施例中聯(lián)動組件的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面將結(jié)合本申請實(shí)施例中的附圖,對本申請實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述。可以理解的是,此處所描述的具體實(shí)施例僅用于解釋本申請,而非對本申請的限定。另外還需要說明的是,為了便于描述,附圖中僅示出了與本申請相關(guān)的部分而非全部結(jié)構(gòu)。基于本申請中的實(shí)施例,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例,都屬于本申請保護(hù)的范圍。
本申請中的術(shù)語“第一”、“第二”等是用于區(qū)別不同對象,而不是用于描述特定順序。此外,術(shù)語“包括”和“具有”以及它們?nèi)魏巫冃危鈭D在于覆蓋不排他的包含。例如包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統(tǒng)、產(chǎn)品或設(shè)備沒有限定于已列出的步驟或單元,而是可選地還包括沒有列出的步驟或單元,或可選地還包括對于這些過程、方法、產(chǎn)品或設(shè)備固有的其它步驟或單元。
在本文中提及“實(shí)施例”意味著,結(jié)合實(shí)施例描述的特定特征、結(jié)構(gòu)或特性可以包含在本申請的至少一個實(shí)施例中。在說明書中的各個位置出現(xiàn)該短語并不一定均是指相同的實(shí)施例,也不是與其它實(shí)施例互斥的獨(dú)立的或備選的實(shí)施例。本領(lǐng)域技術(shù)人員顯式地和隱式地理解的是,本文所描述的實(shí)施例可以與其它實(shí)施例相結(jié)合。
參閱圖1,圖1是本申請?zhí)峁┑碾娐钒鍦y試裝置一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖,該電路板測試裝置包括第一支撐件10、測試探針20、聯(lián)動組件30、傳感器40和控制器50。其中:
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