[實用新型]一種電路板測試裝置

有效

• 申請號: 201820482510.0
• 申請日: 2018-04-04
• 公開（公告）號: CN208109998U
• 公開（公告）日: 2018-11-16
• 發明（設計）人: 張國璽
• 申請（專利權）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/067
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 賈鳳濤

本申請公開了一種電路板測試裝置，該電路板測試裝置包括：第一支撐件，用于固定待測電路板；測試探針，測試探針可相對于第一支撐件移動，以在對待測電路板進行測試時與待測電路板接觸；聯動組件，可與測試探針同步移動；傳感器，設置在第一支撐件上，用于在聯動組件同步移動時獲取聯動組件與傳感器接觸時的參考壓力值；控制器，連接傳感器和測試探針，用于根據聯動組件與傳感器接觸時的參考壓力值調節測試探針的移動。通過上述方式，本申請能夠防止測試探針接觸不良帶來的指標誤測，提高了生產線的測試效率。

技術領域

本申請涉及電路板測試技術領域，特別是涉及一種電路板測試裝置。

背景技術

電路板在產線生產時，需要對電路板的性能進行測試。一般是通過伸出各種測試探針，頂在電路板上的測試點上，完成電路板各項指標的測試。

一般的測試裝置都是采用機械式設計，驅動探針接觸電路板上的測試點，但是探針是否接觸良好，無從判斷，由此就會因探針與電路板測試點的接觸不良，導致誤測試，增加測試時間和人力成本。

實用新型內容

為解決上述技術問題，本申請采用的一個技術方案是：提供一種電路板測試裝置，該電路板測試裝置包括：第一支撐件，用于固定待測電路板；測試探針，測試探針可相對于第一支撐件移動，以在對待測電路板進行測試時與待測電路板接觸；聯動組件，可與測試探針同步移動；傳感器，設置在第一支撐件上，用于在聯動組件同步移動時獲取聯動組件與傳感器接觸時的參考壓力值；控制器，連接傳感器和測試探針，用于根據聯動組件與傳感器接觸時的參考壓力值調節測試探針的移動。

附圖說明

為了更清楚地說明本申請實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。其中：

圖1是本申請提供的電路板測試裝置一實施例的結構示意圖；

圖2是本申請提供的電路板測試裝置一實施例中第一支撐件的結構示意圖；

圖3是本申請提供的電路板測試裝置另一實施例的結構示意圖；

圖4是本申請提供的電路板測試裝置另一實施例中第二支撐件的結構示意圖；

圖5是本申請提供的電路板測試裝置另一實施例中聯動組件的結構示意圖。

具體實施方式

下面將結合本申請實施例中的附圖，對本申請實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅用于解釋本申請，而非對本申請的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本申請相關的部分而非全部結構。基于本申請中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本申請保護的范圍。

本申請中的術語“第一”、“第二”等是用于區別不同對象，而不是用于描述特定順序。此外，術語“包括”和“具有”以及它們任何變形，意圖在于覆蓋不排他的包含。例如包含了一系列步驟或單元的過程、方法、系統、產品或設備沒有限定于已列出的步驟或單元，而是可選地還包括沒有列出的步驟或單元，或可選地還包括對于這些過程、方法、產品或設備固有的其它步驟或單元。

在本文中提及“實施例”意味著，結合實施例描述的特定特征、結構或特性可以包含在本申請的至少一個實施例中。在說明書中的各個位置出現該短語并不一定均是指相同的實施例，也不是與其它實施例互斥的獨立的或備選的實施例。本領域技術人員顯式地和隱式地理解的是，本文所描述的實施例可以與其它實施例相結合。

參閱圖1，圖1是本申請提供的電路板測試裝置一實施例的結構示意圖，該電路板測試裝置包括第一支撐件10、測試探針20、聯動組件30、傳感器40和控制器50。其中：