[實(shí)用新型]固體顆粒均布性能測試裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201820465416.4
• 申請日: 2018-04-03
• 公開（公告）號: CN208000261U
• 公開（公告）日: 2018-10-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 譚冬楊;呂碩;張積升;梁松泉;母爍桂;閆永強(qiáng);趙映
• 申請（專利權(quán)）人: 北方民族大學(xué)
• 主分類號: G01N15/10
• 分類號: G01N15/10
• 代理公司: 銀川長征知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 64102
• 代理人: 馬長增

一種固體顆粒均布性能測試裝置，包括下儲罐、底座、試管和接盤，試管的數(shù)量不少于三，試管的下端配裝在底座上，底座配裝在下儲罐的底部，試管的上端配裝接盤，接盤上開設(shè)與試管數(shù)量相匹配的通孔，每個(gè)通孔與每個(gè)試管的開口相對接，接盤可以讓試驗(yàn)顆粒順利流入試管，從而防止顆粒卡在相鄰試管之間的空隙處。本實(shí)用新型在試管上設(shè)計(jì)一個(gè)可以讓顆粒順利流入試管的接盤，并能防止顆粒卡在試管與試管的空隙處，通過第一卡盤和第二卡盤使試管固定在下降管固體顆粒留下的中間位置。采用本實(shí)用新型便于觀察固體顆粒均布的效果，可以準(zhǔn)確的測量固體顆粒均布情況，可以靈活的拆裝與下儲罐中。

技術(shù)領(lǐng)域：

本實(shí)用新型涉及固體顆粒流動的均布測試技術(shù)領(lǐng)域，特備涉及一種固體顆粒均布性能測試裝置，該裝置用于探究多孔板孔徑及孔間距對均流效果的影響，以及固體顆粒在不同條件下，如固體顆粒流量、粒徑、空氣流動速度等變化時(shí)的均布性能。

背景技術(shù)：

固體顆粒的分散換熱涉及很多領(lǐng)域，太陽能發(fā)電、工業(yè)余熱回收、燃料的制備等等，其中涉及了氣固兩相流動換熱的問題。研究固體顆粒與氣體的換熱，利用固體顆粒均勻分散的裝置，所以設(shè)計(jì)分散裝置所得顆粒均布收集裝置。在固體顆粒通過下降管后，進(jìn)入下儲罐中后，由于需要得到均布的效果，所以需要設(shè)計(jì)分布性能測試裝置。

發(fā)明內(nèi)容：

有鑒于此，有必要提供一種固體顆粒均布性能測試裝置。

一種固體顆粒均布性能測試裝置，包括下儲罐、底座、試管和接盤，試管的數(shù)量不少于三，試管的下端配裝在底座上，底座配裝在下儲罐的底部，試管的上端配裝接盤，接盤上開設(shè)與試管數(shù)量相匹配的通孔，每個(gè)通孔與每個(gè)試管的開口相對接，接盤可以讓試驗(yàn)顆粒順利流入試管，從而防止顆粒卡在相鄰試管之間的空隙處。

優(yōu)選的，接盤包括盤體、六棱空心柱體和空心圓錐臺，六棱空心柱體固定配裝在盤體的上端，空心圓錐臺配裝在盤體的下端，六棱空心柱體、空心圓錐臺和試管的數(shù)量相等，且每根六棱空心柱體、空心圓錐臺和試管相對接并相通，盤體、六棱空心柱體和空心圓錐臺一體成型，每根六棱空心柱體成蜂窩結(jié)構(gòu)連接，六棱空心柱體與空心圓錐臺相通形成通孔。

優(yōu)選的，固體顆粒均布性能測試裝置還包括第一卡盤、第二卡盤和限位桿，第一卡盤和第二卡盤上分別開設(shè)供試管穿過的孔，孔的數(shù)量與試管的數(shù)量相匹配，第一卡盤與第二卡盤之間固定配裝限位桿，第二卡盤與底座之間固定配裝限位桿。

優(yōu)選的，第一卡盤與第二卡盤之間固定數(shù)量不少二的限位桿，第二卡盤與底座之間固定數(shù)量不少于二的限位桿。

優(yōu)選的，限位桿的一端開設(shè)螺孔，另一端為銷軸端，第一卡盤和第二卡盤的邊緣處開設(shè)安裝孔，安裝孔的數(shù)量與限位桿的數(shù)量相匹配，底座上開設(shè)安裝槽；第一卡盤與第二卡盤之間的限位桿具體安裝為：限位桿的開設(shè)螺孔的一端與第一卡盤的安裝孔配裝，并采用螺釘旋入安裝孔內(nèi)，將該端固定在第一卡盤的安裝孔處，銷軸端插入第二卡盤的安裝孔內(nèi)；第二卡盤與底座之間的限位桿的具體安裝為：限位桿的開設(shè)螺孔的一端配裝在第二卡盤的安裝孔處，采用螺釘固定，銷軸端插入底座的安裝槽內(nèi)。

優(yōu)選的，限位桿上開設(shè)用與裝配的鉗口，便于鉗子夾持。

優(yōu)選的，下儲罐的上端開口處配裝快速開關(guān)蓋。

本實(shí)用新型通過一簇試管緊密的排布為一個(gè)近似的圓形，通過不同區(qū)域的試管中的固體顆粒的量，來判定固體顆粒的均布情況。在試管上設(shè)計(jì)一個(gè)可以讓顆粒順利流入試管的接盤，并能防止顆粒卡在試管與試管的空隙處，通過第一卡盤和第二卡盤使試管固定在下降管固體顆粒留下的中間位置。如此，采用本實(shí)用新型便于觀察固體顆粒均布的效果，可以準(zhǔn)確的測量固體顆粒均布情況，可以靈活的拆裝與下儲罐中。

附圖說明：

圖1為固體顆粒均布性能測試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。

圖2為固體顆粒均布性能測試裝置的部分結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3為圖1中接盤的結(jié)構(gòu)示意圖。