[實用新型]一種半導體開關管測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820463042.2 | 申請日: | 2018-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN208125877U | 公開(公告)日: | 2018-11-20 |
| 發(fā)明(設計)人: | 曾祥幼;張杰;胡舜濤 | 申請(專利權(quán))人: | 上海陸芯電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26 |
| 代理公司: | 北京金信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11225 | 代理人: | 張曉丹;吳崇 |
| 地址: | 200120 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體開關管 測試裝置 本實用新型 測試板 測試箱 容納腔 測試窗口 測試接口 測試元件 測試 待測試元件 測試電路 應用場景 可拆卸 雙脈沖 伸出 | ||
1.一種半導體開關管測試裝置,其特征在于,包括:
測試板,所述測試板包括用于與待測試元件連接的測試接口和用于對所述待測試元件進行雙脈沖測試的測試電路;
測試箱,所述測試箱具有容納腔,且所述測試箱的頂板開設有測試窗口,所述測試板可拆卸地設置于所述容納腔內(nèi),并且使所述測試接口通過所述測試窗口伸出所述容納腔。
2.如權(quán)利要求1所述的半導體開關管測試裝置,其特征在于,所述測試電路包括:
檢測模塊,所述檢測模塊包括元件測試電路和脈沖測試電路,所述元件測試電路和所述脈沖測試電路分別與所述測試接口連接,所述元件測試電路用于對所述待測試元件進行失效測試,所述脈沖測試電路用于對所述待測試元件進行雙脈沖測試;
驅(qū)動模塊,所述驅(qū)動模塊與所述測試接口連接,為所述待測試元件提供脈沖測試信號;和
控制模塊,所述控制模塊的信號輸出端分別與所述元件測試電路、所述脈沖測試電路和所述驅(qū)動模塊通信連接;所述控制模塊的信號輸入端與所述測試接口連接,以獲取所述待測試元件的測試結(jié)果。
3.如權(quán)利要求2所述的半導體開關管測試裝置,其特征在于,還包括:
低壓電源,所述低壓電源設置于所述容納腔內(nèi),所述低壓電源分別為所述元件測試電路、所述驅(qū)動模塊和所述控制模塊供電。
4.如權(quán)利要求2所述的半導體開關管測試裝置,其特征在于,所述測試箱的第一側(cè)板上設有高壓電源插口,所述高壓電源插口用于與高壓電源連接,并為所述脈沖測試電路供電。
5.如權(quán)利要求4所述的半導體開關管測試裝置,其特征在于,所述測試板還包括第一安裝板、第二安裝板和連接板,所述連接板豎直設置,所述第一安裝板水平設置于所述連接板頂端,所述第二安裝板水平設置于所述安裝板底端,所述檢測模塊集成于所述第一安裝板上,所述驅(qū)動模塊和所述控制模塊集成于所述第二安裝板上。
6.如權(quán)利要求5所述的半導體開關管測試裝置,其特征在于,所述測試箱的第二側(cè)板上設有進風口,所述測試箱的第三側(cè)板上設有出風口,所述第二側(cè)板與所述第一側(cè)板相鄰連接,所述第三側(cè)板與所述第二側(cè)板相鄰連接并且與所述第一側(cè)板相對設置。
7.如權(quán)利要求6所述的半導體開關管測試裝置,其特征在于,所述出風口上設有導流風扇。
8.如權(quán)利要求6所述的半導體開關管測試裝置,其特征在于,所述第一安裝板與所述第二側(cè)板平行的側(cè)邊的底部豎直設有導流齒。
9.如權(quán)利要求1所述的半導體開關管測試裝置,其特征在于,所述測試窗口設有用于保護所述容納腔的封板。
10.如權(quán)利要求1所述的半導體開關管測試裝置,其特征在于,還包括顯示屏,所述顯示屏設置于所述頂板上且與所述測試電路連接。
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