[實(shí)用新型]瓷層缺陷的檢測平臺

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201820455782.1
• 申請日: 2018-04-02
• 公開（公告）號: CN208092793U
• 公開（公告）日: 2018-11-13
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 范召卿;張斌;譚德強(qiáng);施景娥
• 申請（專利權(quán)）人: 珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T3/40
• 代理公司: 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 趙囡囡;張立敏

本實(shí)用新型公開了一種瓷層缺陷的檢測平臺。其中，該檢測平臺包括：產(chǎn)品輸送裝置，用于輸送搪瓷產(chǎn)品運(yùn)動；檢測工位，設(shè)置在所述產(chǎn)品輸送裝置的輸送路徑上，用于設(shè)置檢測所述搪瓷產(chǎn)品的設(shè)備；攝像機(jī)，設(shè)置在所述檢測工位上，用于在搪瓷產(chǎn)品運(yùn)動到所述檢測工位時(shí)，拍攝所述搪瓷產(chǎn)品的待檢測瓷層的照片，得到待檢測照片；處理器，與所述攝像機(jī)相連接，用于比對所述待檢測照片和目標(biāo)圖片來判斷所述待檢測瓷層是否存在缺陷，在判斷出所述待檢測瓷層存在缺陷的情況下，在所述待檢測照片中標(biāo)記出所述缺陷的位置。本實(shí)用新型解決了人工檢查缺陷不可靠的技術(shù)問題。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及檢測領(lǐng)域，具體而言，涉及一種瓷層缺陷的檢測平臺。

背景技術(shù)

在檢測搪瓷內(nèi)膽時(shí)，尤其是搪瓷內(nèi)膽表面時(shí)，目前只能進(jìn)行人工檢驗(yàn)。通過經(jīng)驗(yàn)判斷搪瓷內(nèi)膽的瓷層是否存在缺陷。但是，由于需要檢測的范圍比較大，且搪瓷內(nèi)膽存在死角區(qū)域，人工無法準(zhǔn)確的判斷出是否存在缺陷，容易導(dǎo)致缺陷檢測不可靠的技術(shù)問題。

針對上述的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種瓷層缺陷的檢測平臺，以至少解決人工檢查缺陷不可靠的技術(shù)問題。

根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的一個(gè)方面，提供了一種瓷層缺陷的檢測平臺，包括：產(chǎn)品輸送裝置，用于輸送搪瓷產(chǎn)品運(yùn)動；檢測工位，設(shè)置在所述產(chǎn)品輸送裝置的輸送路徑上，用于設(shè)置檢測所述搪瓷產(chǎn)品的設(shè)備；攝像機(jī)，設(shè)置在所述檢測工位上，用于在搪瓷產(chǎn)品運(yùn)動到所述檢測工位時(shí)，拍攝所述搪瓷產(chǎn)品的待檢測瓷層的照片，得到待檢測照片；處理器，與所述攝像機(jī)相連接，用于比對所述待檢測照片和目標(biāo)圖片來判斷所述待檢測瓷層是否存在缺，在判斷出所述待檢測瓷層存在缺陷的情況下，在所述待檢測照片中標(biāo)記出所述缺陷的位置。

可選地，所述檢測工位還設(shè)置有：伺服驅(qū)動導(dǎo)軌，與所述攝像機(jī)相連接，用于驅(qū)動所述攝像機(jī)運(yùn)動到所述搪瓷產(chǎn)品的內(nèi)部，并控制所述攝像機(jī)在所述搪瓷產(chǎn)品的內(nèi)部上下移動，或者旋轉(zhuǎn)。

可選地，所述伺服驅(qū)動導(dǎo)軌上還安裝有光源，與所述攝像機(jī)一起運(yùn)動，用于為所述攝像機(jī)提供拍攝所需照明。

可選地，所述檢測平臺還包括：夾緊裝置，與所述檢測工位對應(yīng)設(shè)置，用于在所述搪瓷產(chǎn)品運(yùn)動到所述檢測工位時(shí)，將所述搪瓷產(chǎn)品夾緊。

可選地，所述檢測平臺還包括：識別裝置，與所述檢測工位相鄰設(shè)置，用于在所述搪瓷產(chǎn)品運(yùn)動到所述檢測工位時(shí)，識別所述搪瓷產(chǎn)品的識別碼。

可選地，所述檢測平臺還包括：抓取設(shè)備，與所述檢測工位相鄰設(shè)置，用于從所述產(chǎn)品輸送裝置將所述搪瓷產(chǎn)品抓取到所述檢測工位。

可選地，所述檢測平臺還包括：下線機(jī)器人，與所述檢測工位相鄰設(shè)置，用于將存在缺陷的搪瓷產(chǎn)品從所述檢測工位上移除。

可選地，所述檢測平臺還包括：通信裝置，連接在所述處理器和所述攝像機(jī)之間，用于將所述攝像機(jī)拍攝的照片傳輸給所述處理器。

本實(shí)施例對搪瓷的瓷層進(jìn)行拍攝，并比對出拍攝的照片是否提示瓷層有缺陷，在提示瓷層有缺陷的情況下，在照片中標(biāo)記出缺陷的位置，便于后續(xù)對瓷層進(jìn)行處理，這種利用照片比對查找瓷層缺陷的方案，可以對搪瓷產(chǎn)品的所有瓷層進(jìn)行檢測，避免了人工檢查時(shí)的漏檢，解決了現(xiàn)有技術(shù)檢測瓷層缺陷時(shí)容易漏檢的技術(shù)問題。

附圖說明

此處所說明的附圖用來提供對本實(shí)用新型的進(jìn)一步理解，構(gòu)成本申請的一部分，本實(shí)用新型的示意性實(shí)施例及其說明用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對本實(shí)用新型的不當(dāng)限定。在附圖中：

圖1是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的一種的瓷層缺陷的檢測平臺的示意圖；

圖2是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的攝像機(jī)與產(chǎn)品輸送線的示意圖；

圖3是根據(jù)本實(shí)用新型實(shí)施例的瓷層缺陷的檢測平臺的示意圖。