[實(shí)用新型]一種太赫茲光譜儀有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820450526.3 | 申請日: | 2018-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN208076389U | 公開(公告)日: | 2018-11-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 祁春超;譚信輝;吳光勝;楊正華 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市華訊方舟太赫茲科技有限公司;華訊方舟科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/3586 | 分類號: | G01N21/3586;G01J3/42;G01J3/02 |
| 代理公司: | 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 44237 | 代理人: | 李艷麗 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光譜儀 檢測系統(tǒng) 光纖 光纖拉伸系統(tǒng) 光分束器 色散補(bǔ)償系統(tǒng) 數(shù)據(jù)處理系統(tǒng) 激光 本實(shí)用新型 太赫茲光譜 測試數(shù)據(jù) 工業(yè)場景 激光系統(tǒng) 檢測樣品 室外環(huán)境 太赫茲波 應(yīng)用場景 延時(shí) 掃描 傳輸 檢測 外部 拓展 應(yīng)用 分析 | ||
1.一種太赫茲光譜儀,其特征在于:包括用于與外部激光系統(tǒng)連接的色散補(bǔ)償系統(tǒng)、光分束器、用于對激光進(jìn)行延時(shí)掃描的光纖拉伸系統(tǒng)、用于產(chǎn)生和接收太赫茲波的檢測系統(tǒng)和用于對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng),所述色散補(bǔ)償系統(tǒng)通過光纖與所述光分束器連接,所述光分束器通過光纖同時(shí)與所述光纖拉伸系統(tǒng)、所述檢測系統(tǒng)連接,所述光纖拉伸系統(tǒng)通過光纖與所述檢測系統(tǒng)連接,同時(shí)所述檢測系統(tǒng)與所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)連接。
2.如權(quán)利要求1所述的太赫茲光譜儀,其特征在于:所述色散補(bǔ)償系統(tǒng)包括用于調(diào)整所述激光傳輸方向的光纖環(huán)形機(jī)構(gòu),用于對所述激光進(jìn)行色散補(bǔ)償、且色散補(bǔ)償量相反的第一啁啾光纖光柵和第二啁啾光纖光柵,所述光纖環(huán)形機(jī)構(gòu)設(shè)有用于與光纖連接的輸入端,所述光纖用于傳輸所述激光,所述第一啁啾光纖光柵和所述第二啁啾光纖光柵均與所述光纖環(huán)形機(jī)構(gòu)連接,且所述激光依次通過所述第一啁啾光纖光柵和所述第二啁啾光纖光柵后從所述光纖環(huán)形機(jī)構(gòu)中出射,所述第一啁啾光纖光柵和所述第二啁啾光纖光柵的色散補(bǔ)償量的絕對值不相等。
3.如權(quán)利要求1所述的太赫茲光譜儀,其特征在于:所述檢測系統(tǒng)包括用于產(chǎn)生太赫茲波的光電導(dǎo)發(fā)射天線、用于接收所述太赫茲波的光電導(dǎo)接收天線和用于對所述太赫茲波進(jìn)行聚焦的光學(xué)組件,所述光電導(dǎo)發(fā)射天線與所述光分束器連接,所述光電導(dǎo)接收天線與所述光纖拉伸系統(tǒng)連接且所述光電導(dǎo)接收天線與所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)連接。
4.如權(quán)利要求3所述的太赫茲光譜儀,其特征在于:所述光學(xué)組件包括用于將所述光電導(dǎo)發(fā)射天線產(chǎn)生的太赫茲波聚焦在待檢測樣品上的第一透鏡組和用于將經(jīng)過所述待檢測樣品后的太赫茲波聚焦在所述光電導(dǎo)接收天線的第二透鏡組。
5.如權(quán)利要求3所述的太赫茲光譜儀,其特征在于:所述光纖拉伸系統(tǒng)包括用于對激光進(jìn)行分束的第一耦合器、兩個(gè)光纖拉伸器、用于對激光進(jìn)行合束的第二耦合器、用于將光信號轉(zhuǎn)換為電信號的光電探測器和用于將電信號轉(zhuǎn)化為可視化圖形的顯示裝置,所述光分束器與所述第一耦合器通過光纖連接,所述第一耦合器同時(shí)與兩個(gè)所述光纖拉伸器通過光纖連接,兩個(gè)所述光纖拉伸器均與所述第二耦合器通過光纖連接,所述第二耦合器與所述光電探測器通過光纖連接,所述光電探測器與所述顯示裝置連接。
6.如權(quán)利要求5所述的太赫茲光譜儀,其特征在于:所述光纖拉伸器包括伸縮桿、可驅(qū)動(dòng)所述伸縮桿進(jìn)行伸縮的電機(jī)和用于纏繞光纖的伸縮部,所述伸縮桿的一端與所述電機(jī)連接,所述伸縮桿的另一端與所述伸縮部連接并可帶動(dòng)所述伸縮部擴(kuò)張或收縮,所述光纖纏繞在所述伸縮部的外表面。
7.如權(quán)利要求3所述的太赫茲光譜儀,其特征在于:所述光電導(dǎo)接收天線與所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)之間還設(shè)有鎖相放大模塊。
8.如權(quán)利要求7所述的太赫茲光譜儀,其特征在于:所述鎖相放大模塊包括用于將輸入信號放大的信號通道、用于提供與所述輸入信號同相位的參考信號的參考通道、相敏檢波器以及低通濾波器,所述信號通道和所述參考通道均與所述相敏檢波器連接,所述相敏檢波器與所述低通濾波器連接。
9.如權(quán)利要求8所述的太赫茲光譜儀,其特征在于:所述信號通道包括與所述光電導(dǎo)接收天線連接的鎖相放大器,所述鎖相放大器與所述相敏檢波器連接;
所述參考通道包括依次連接的方波信號源和移相器,所述移相器與所述相敏檢波器連接。
10.如權(quán)利要求7~9任一項(xiàng)所述的太赫茲光譜儀,其特征在于:所述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)包括數(shù)據(jù)處理模塊和計(jì)算機(jī),所述數(shù)據(jù)處理模塊通過網(wǎng)線與所述計(jì)算機(jī)連接,所述數(shù)據(jù)處理模塊與所述鎖相放大模塊連接。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





