[實(shí)用新型]一種碲鋅鎘晶體X射線(xiàn)成像系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201820439590.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-03-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN208188013U | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-12-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 廖義勇 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 成都馬蘭科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N23/04 | 分類(lèi)號(hào): | G01N23/04 |
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| 地址: | 610041 四川省成*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 碲鋅鎘晶體 多通道分析器 本實(shí)用新型 被測(cè)物 讀出電路 外加電源 同一水平直線(xiàn) 環(huán)境適應(yīng)性 計(jì)算機(jī)連接 光電性能 無(wú)損檢測(cè) 分辨率 成像 計(jì)算機(jī) | ||
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種碲鋅鎘晶體X射線(xiàn)成像系統(tǒng),包括X射線(xiàn)發(fā)射器、被測(cè)物、碲鋅鎘晶體、外加電源、讀出電路、多通道分析器、計(jì)算機(jī),所述被測(cè)物位于X射線(xiàn)發(fā)射器和碲鋅鎘晶體之間,所述X射線(xiàn)發(fā)射器、被測(cè)物、碲鋅鎘晶體在同一水平直線(xiàn)上,所述外加電源與碲鋅鎘晶體連接,所述碲鋅鎘晶體通過(guò)讀出電路與多通道分析器連接,所述多通道分析器與計(jì)算機(jī)連接。本實(shí)用新型基于X射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)成像,并采用具有優(yōu)異光電性能的碲鋅鎘晶體,本實(shí)用新型具有分辨率高、性能優(yōu)異、環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)的優(yōu)點(diǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于X射線(xiàn)成像領(lǐng)域,尤其涉及一種碲鋅鎘晶體X射線(xiàn)成像系統(tǒng)。
背景技術(shù)
近年來(lái),半導(dǎo)體核輻射探測(cè)器已經(jīng)廣泛應(yīng)用于和物理學(xué)、X射線(xiàn)和伽馬射線(xiàn)天文學(xué)燈許多領(lǐng)域。碲鋅鎘晶體是一種能夠在室溫下保持性能不變的半導(dǎo)體材料,是在碲鎘晶體中摻入鋅后合成的三元化合物。不斷成熟的晶體生長(zhǎng)方法與工藝,不斷優(yōu)化的探測(cè)器結(jié)構(gòu)以及不斷完善的信號(hào)處理技術(shù),都使得碲鋅鎘探測(cè)器的性能愈來(lái)愈優(yōu)異,在核輻射探測(cè)領(lǐng)域起著越來(lái)越重要的作用。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型提出一種碲鋅鎘晶體X射線(xiàn)成像系統(tǒng),具體的,包括X射線(xiàn)發(fā)射器、被測(cè)物、碲鋅鎘晶體、外加電源、讀出電路、多通道分析器、計(jì)算機(jī),所述被測(cè)物位于X射線(xiàn)發(fā)射器和碲鋅鎘晶體之間,所述X射線(xiàn)發(fā)射器、被測(cè)物、碲鋅鎘晶體在同一水平直線(xiàn)上,所述外加電源與碲鋅鎘晶體連接,所述碲鋅鎘晶體通過(guò)讀出電路與多通道分析器連接,所述多通道分析器與計(jì)算機(jī)連接。
進(jìn)一步的,所述讀出電路包括電荷靈敏放大器、反饋電路、帶通濾波器、甄別電路、閾值調(diào)整電路、漏電流補(bǔ)償電路、測(cè)試注入電路、輸入端、輸出端,所述電荷靈敏放大器、反饋電路、漏電流補(bǔ)償電路、測(cè)試注入電路均與輸入端連接,所述輸入端通過(guò)電荷靈敏放大器、反饋電路與帶通濾波器連接,所述帶通濾波器與甄別電路連接,所述閾值調(diào)整電路和輸出端均與甄別電路連接,所述輸入端與碲鋅鎘晶體連接,所述輸出端與多通道分析器連接。
進(jìn)一步的,所述電荷靈敏放大器為一個(gè)帶反饋電容的反向輸入器。
進(jìn)一步的,所述多通道分析器包括單片機(jī)、時(shí)鐘電路、A/D轉(zhuǎn)換器、鍵盤(pán)控制電路、復(fù)位電路以及電源電路,所述時(shí)鐘電路、A/D轉(zhuǎn)換器、鍵盤(pán)控制電路、復(fù)位電路以及電源電路均與單片機(jī)連接,所述單片機(jī)與計(jì)算機(jī)采用RS-232C串行通信接口連接。
進(jìn)一步的,所述單片機(jī)采用低電壓、高性能的CMOS單片機(jī)AT89C52。
進(jìn)一步的,所述A/D轉(zhuǎn)換器選用ADC0809芯片。
進(jìn)一步的,還包括X射線(xiàn)準(zhǔn)直器,所述X射線(xiàn)準(zhǔn)直器位于X射線(xiàn)發(fā)射器和被測(cè)物之間,且X射線(xiàn)發(fā)射器、X射線(xiàn)準(zhǔn)直器和被測(cè)物在同一水平直線(xiàn)上。
進(jìn)一步的,還包括散熱裝置,所述散熱裝置與X射線(xiàn)發(fā)射器連接,用于對(duì)X射線(xiàn)發(fā)射器進(jìn)行散熱。
本實(shí)用新型的有益效果在于:本實(shí)用新型基于X射線(xiàn)無(wú)損檢測(cè)成像,并采用具有優(yōu)異光電性能的碲鋅鎘晶體,本實(shí)用新型具有分辨率高、性能優(yōu)異、環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)的優(yōu)點(diǎn)。
附圖說(shuō)明
圖1是一種碲鋅鎘晶體X射線(xiàn)成像系統(tǒng)。
具體實(shí)施方式
為了對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)特征、目的和效果有更加清楚的理解,現(xiàn)對(duì)照附圖說(shuō)明本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式。
本實(shí)用新型提出一種碲鋅鎘晶體X射線(xiàn)成像系統(tǒng),具體的,包括X射線(xiàn)發(fā)射器、被測(cè)物、碲鋅鎘晶體、外加電源、讀出電路、多通道分析器、計(jì)算機(jī),所述被測(cè)物位于X射線(xiàn)發(fā)射器和碲鋅鎘晶體之間,所述X射線(xiàn)發(fā)射器、被測(cè)物、碲鋅鎘晶體在同一水平直線(xiàn)上,所述外加電源與碲鋅鎘晶體連接,所述碲鋅鎘晶體通過(guò)讀出電路與多通道分析器連接,所述多通道分析器與計(jì)算機(jī)連接。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線(xiàn)、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線(xiàn)輻照樣品以及測(cè)量X射線(xiàn)熒光





