[實用新型]上電斷電測試器

有效

• 申請號: 201820400312.5
• 申請日: 2018-03-23
• 公開（公告）號: CN208334562U
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發明（設計）人: 雷軍平
• 申請（專利權）人: 深圳市創榮發電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/00
• 代理公司: 深圳市遠航專利商標事務所(普通合伙) 44276
• 代理人: 田志遠;袁浩華

本實用新型提供了一種上電斷電測試器，包括MCU芯片、按鍵模塊、天線、電源模塊、繼電器模塊、數碼管顯示模塊；所述MCU芯片的輸入端分別接天線和按鍵模塊，所述MCU芯片的輸出端分別接繼電器模塊的輸入端和數碼管顯示模塊的輸入端，所述MCU芯片的電源端接電源模塊，所述繼電器模塊的輸出端與被測試設備的電源端連接。本實用新型通過天線、MCU芯片、繼電器模塊來控制被測試設備的隨機上電斷電情況，通過按鍵模塊、MCU芯片、繼電器模塊來控制被測試設備的定時上電斷電情況，能夠給被測試設備在上電斷電方面得到全方位的測試環境。

技術領域

本實用新型涉及測試器技術領域，更具體的說，涉及一種用于電子產品的上電斷電測試器。

背景技術

在現有技術中，由于很多被測電子產品內部電路中都包含有電容，而電容大小不相同，導致產品在斷電后部分電容放電時間不確定，而電容的放電延遲導致定時上下電會掩蓋一些電路上的缺陷問題，無法發現電路存在的隱患。當前電子產品的上電及斷電測試器存在著由于電容放電時間不確定而導致產品不能及時發現隱患的技術缺陷，成為本領域技術人員急待解決的技術問題。

發明內容

本實用新型的技術目的是克服現有技術中，當前電子產品的上電斷電測試器存在著固定開關時間而造成不能全面測試出電路隱患的技術問題；提供一種能夠隨機或定時上電斷電，給被測試設備在上電斷電方面得到全方位的測試的一種上電斷電測試器。

為實現以上技術目的，本實用新型的技術方案是：一種上電斷電測試器，包括MCU芯片、按鍵模塊、天線、電源模塊、繼電器模塊、數碼管顯示模塊；所述MCU芯片的輸入端分別接天線和按鍵模塊，所述MCU芯片的輸出端分別接繼電器模塊的輸入端和數碼管顯示模塊的輸入端，所述MCU芯片的電源端接電源模塊，所述繼電器模塊的輸出端與被測試設備的電源端連接；

所述繼電器模塊包括繼電器、三極管、第一電阻、第二電阻，所述繼電器的第一輸入端接三極管的集電極，其第二輸入端接地，其第一輸出端與被測試設備的電源端連接，其第二輸出端連接被測試設備的供電電源，所述三極管的發射極接第一電阻的一端，其基極接第二電阻的一端，所述第一電阻的另一端接電源電壓，所述第二電阻的另一端為繼電器模塊的輸入端且與MCU芯片的輸出端連接。

進一步的，所述電源模塊包括電源接口、變壓芯片、第一電容-第三電容、第三電阻、第四電阻，所述電源接口的一端為電源輸入端且接電源電壓，其還與所述變壓芯片的輸入端、第一電容的一端、第二電容的一端連接，所述電源接口的另一端接地，所述變壓芯片的接地端和輸出端之間接第四電阻，所述變壓芯片的接地端還與第三電阻的一端連接，所述變壓芯片的輸出端為電源模塊的輸出端且與MCU芯片的電源端連接，所述變壓芯片的輸出端還接第三電容的一端，所述第一電容、第二電容、第三電容的另一端都接地，所述第三電阻的另一端也接地。

進一步的，所述按鍵模塊選用至少2個按鍵。

進一步的，所述數碼管顯示模塊選用5位數碼管顯示器。

進一步的，所述MCU芯片選用STM8L151型號。

進一步的，所述MCU芯片內部集成定時器、EEP ROM。

本實用新型的上電斷電測試器，具有以下有益效果：

1、本實用新型通過天線、MCU芯片、繼電器模塊來控制被測試設備的隨機上電斷電情況，通過按鍵模塊、MCU芯片、繼電器模塊來控制被測試設備的定時上電斷電情況，進而給被測試設備在上電斷電方面得到全方位的測試環境，通過觀察被測試設備內的所有電容的放電時間；從而得到被測試設備整體的放電時間，避免由于電容的放電延遲導致定時上下電會掩蓋一些電路上的缺陷問題，無法發現電路存在的隱患。