[實用新型]電子元件測試設備及其移動校準機構

有效

• 申請號: 201820396929.4
• 申請日: 2018-03-22
• 公開（公告）號: CN207986161U
• 公開（公告）日: 2018-10-19
• 發明（設計）人: 劉丹
• 申請（專利權）人: 深圳市易勝德機械設備有限公司
• 主分類號: B65G47/91
• 分類號: B65G47/91;B65G47/22
• 代理公司: 深圳市華勤知識產權代理事務所(普通合伙) 44426
• 代理人: 隆毅

本實用新型公開一種移動校準機構，該移動校準機構，包括用于對電子元件外形進行校準的校準裝置、用于吸取電子元件的吸取裝置、用于控制所述吸取裝置工作狀態的控制裝置和用于安裝吸取裝置的安裝板，校準裝置位于吸取裝置下方，包括設置有若干校準腔的校準塊和用于驅動校準塊前后移動的驅動源。本實用新型還公開一種電子元件測試設備，該電子元件測試設備包括前述的移動校準裝置。本實用新型簡化了電子元件的校準工序，節約了校準時間，提高了工作效率。

技術領域

本實用新型涉及電子元件測試設備領域，特別涉及一種移動校準機構及其電子元件測試設備。

背景技術

隨著工業水平的進步和人們生活水平的提高，集成電路的應用越來越廣泛，同時為了滿足對集成電路的生產，電子元件測試設備的應用也越來廣泛。

現有的電子元件測試設備通過吸取裝置把電子元件從原料盤放置到治具上的。由于原料盤的容置腔與電子元件之間具有較大的間隙，而治具又對電子元件的擺放方向要求較高，因此在吸取裝置吸取電子元件的過程中，需要對電子元件的方向進行校準。現有技術中，通過在原料盤與治具之間設置校準裝置，吸取裝置從原料盤吸取電子元件后，將其放置到校準裝置中進行校準，再吸取校準后的電子元件運動至治具上方，然后釋放電子元件，將其放置到治具中。這種方式需要吸取裝置執行多次上升、下降動作，耗時較多，工作效率不高。

實用新型內容

本實用新型的主要目的是提出一種移動校準機構，旨在解決現有技術中，吸取裝置執行多次上升、下降動作，耗時較多，工作效率不高的問題。

為實現上述目的，本實用新型提出一種移動校準機構，該移動校準機構包括用于對電子元件外形進行校準的校準裝置、用于吸取電子元件的吸取裝置、用于控制所述吸取裝置工作狀態的控制裝置和用于安裝所述吸取裝置的安裝板，所述校準裝置位于所述吸取裝置下方，包括設置有若干校準腔的校準塊和用于驅動所述校準塊前后移動的驅動源。

優選地，所述校準腔設置為喇叭型且貫通所述校準塊。

優選地，所述吸取裝置包括吸嘴、驅動所述吸嘴上下移動的第一驅動件以及驅動所述吸嘴和第一驅動件左右移動的第二驅動件。

優選地，所述吸嘴為多個且并排設置，所述校準腔與所述吸嘴對應設置。

優選地，所述安裝板豎向設置，其一面設置有用于對所述吸取裝置進行導向的豎向導槽，另一面設置有與外部導軌相連的第一橫向導槽。

優選地，所述安裝板上設置有用于對所述校準裝置前后移動進行限位的限位件。

本實用新型進一步提出一種電子元件測試設備，該電子元件測試設備包括用于放置電子元件的原料盤、設置在所述原料盤一側的治具和移動校準裝置，該移動校準機構包括用于對電子元件外形進行校準的校準裝置、用于吸取電子元件的吸取裝置和用于控制所述吸取裝置工作狀態的控制裝置，所述校準裝置位于所述吸取裝置下方，包括設置有若干校準腔的校準塊和用于驅動所述校準塊前后移動的驅動源。

優選地，所述安裝板豎向設置，其一面設置有用于對所述吸取裝置進行導向的豎向導槽，另一面設置有與外部導軌相連的第一橫向導槽，所述電子元件測試設備還包括設置在所述原料盤上方、與所述吸取裝置連接的橫向導軌。

本實用新型提供的移動校準機構，通過設置驅動源和校準塊，利用吸取裝置吸取電子元件的過程，驅動源同時驅動校準塊移動到相應位置，吸取裝置下行即可完成對電子元件的外形進行校準并將電子元件放置到治具上。相對現有技術而言，本實用新型簡化了電子元件的校準工序，節約了校準時間，提高了工作效率。

附圖說明

圖1為本實用新型一實施例中移動校準機構的整體結構示意圖；

圖2為本實用新型圖1中A部的局部放大圖。

附圖標號說明：