[實用新型]一種不拆接地排的GIS回路電阻測試裝置

有效

• 申請號: 201820370943.7
• 申請日: 2018-03-19
• 公開（公告）號: CN207964946U
• 公開（公告）日: 2018-10-12
• 發明（設計）人: 王凱;陳權;王偉平
• 申請（專利權）人: 廣東電網有限責任公司中山供電局
• 主分類號: G01R27/08
• 分類號: G01R27/08
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 劉瑤云

1.一種不拆接地排的GIS回路電阻測試裝置，所述GIS回路設于GIS設備外殼內部，包括第一接地排（1）、第二接地排（2）、GIS開關（3）、第一刀閘（4）以及第二刀閘（5），所述第一刀閘（4）、GIS開關（3）、第二刀閘（5）串聯連接形成GIS主回路，所述第一接地排（1）并聯連接于所述第一刀閘（4）和GIS開關（3）之間，所述第二接地排（2）并聯連接于所述第二刀閘（5）和GIS開關（3）之間；所述第一接地排（1）、第二接地排（2）與GIS主回路之間分別連接有第一接地刀閘（6）、第二接地刀閘（7），所述第一接地排（1）、第二接地排（2）與GIS設備外殼間形成有并聯分路；其特征在于，所述電阻測試裝置包括回路電阻測試儀（8）以及用于測試并聯分路分流值的霍爾元件（9），所述回路電阻測試儀（8）連接于第一接地排（1）和第二接地排（2）之間，所述霍爾元件（9）設于并聯分路上，所述霍爾元件（9）的輸出端與回路電阻測試儀（8）的輸入端連接。

2.根據權利要求1所述的不拆接地排的GIS回路電阻測試裝置，其特征在于，所述第一接地排（1）、第二接地排（2）均包括分別獨自外部接地的A相接地排、B相接地排以及C相接地排。

3.根據權利要求2所述的不拆接地排的GIS回路電阻測試裝置，其特征在于，所述并聯分路與GIS設備外殼的連接處設有外殼接地點，所述霍爾元件（9）設于所述第一接地排/第二接地排與外殼接地點之間。

4.根據權利要求1所述的不拆接地排的GIS回路電阻測試裝置，其特征在于，所述第一接地排（1）、第二接地排（2）均包括A相接地排、B相接地排以及C相接地排，所述A相接地排、B相接地排以及C相接地排通過銅件（10）串聯連接，所述銅件（10）接地設置。

5.根據權利要求4所述的不拆接地排的GIS回路電阻測試裝置，其特征在于，所述霍爾元件包括第一霍爾元件（11）以及第二霍爾元件（12），所述第一霍爾元件（11）設于A相接地排、B相接地排之間的銅件（10）上，所述第二霍爾元件（12）設于B相接地排、C相接地排之間的銅件（10）上。

6.根據權利要求1所述的不拆接地排的GIS回路電阻測試裝置，其特征在于，所述回路電阻測試儀（8）包括若干輸入端接線柱（13）、輸出端接線柱（14）以及用于處理測試數據的中央處理器（15），所述輸入端接線柱（13）分別與第一接地排（1）、霍爾元件（9）通過導線連接，所述輸出端接線柱（14）與第二接地排（2）連接。

7.根據權利要求6所述的不拆接地排的GIS回路電阻測試裝置，其特征在于，所述回路電阻測試儀（8）還包括用于顯示測試結果的顯示模塊，所述顯示模塊連接于所述中央處理器（15）的輸出端。

8.根據權利要求1至7任一項所述的不拆接地排的GIS回路電阻測試裝置，其特征在于，所述GIS回路電阻的實際值為回路電阻測試儀的儀器輸出電壓值、儀器輸入電壓值之差與儀器輸出電流值、并聯分路分流值之差的比值。