[實用新型]一種模擬靜電場描繪儀

有效

• 申請號: 201820333314.7
• 申請日: 2018-03-12
• 公開（公告）號: CN209168498U
• 公開（公告）日: 2019-07-26
• 發明（設計）人: 章明;章喬貞;衡星;李坤容;董愛國
• 申請（專利權）人: 中國地質大學（北京）
• 主分類號: G09B23/18
• 分類號: G09B23/18
• 代理公司: 北京知聯天下知識產權代理事務所(普通合伙) 11594
• 代理人: 吳鑫

本實用新型公開了一種模擬靜電場描繪儀，所述模擬靜電場描繪儀包括模擬靜電場測試儀、底座、實驗板和金屬探測筆，所述實驗板和所述金屬探測筆分別與所述模擬靜電場測試儀連接，所述實驗板上設置有電極和導電微晶，所述導電微晶上設置有坐標，所述實驗板放置在所述底座上，使所述導電微晶在上，所述電極在下。本實用新型提供的模擬靜電場描繪儀結構簡單，既提高了實驗的準確性，又提高了實驗的可重復性，延長儀器的使用壽命，節約實驗成本。

技術領域

本實用新型涉及實驗教學儀器技術領域，特別是涉及一種模擬靜電場描繪儀。

背景技術

靜電場模擬描跡實驗是高等院校普遍開設的一個基本電磁學實驗，目前模擬靜電場的描繪主要采用導電紙打點法和以水為導電介質的雙層探針打點法。在前一種方法中，由于導電紙上石墨層厚薄不均勻及電極與導電紙接觸不均勻，導致描繪出的電場與預期相差較大。此外，探針在導電紙上接觸移動且重復接觸，使得導電紙破損，一方面影響導電紙的導電性能，直接影響實驗效果；另一方面影響導電紙的使用壽命，頻繁更換導電紙，加大了實驗成本。在后一方法中，要求上下兩探針必須同軸才能較好地描繪出模擬靜電場，但在實際使用過程中，由于支撐兩探針的長薄銅片極易形變，導致上下兩探針嚴重錯位而不能同軸，產生較大描跡誤差，嚴重影響實驗效果。此外，由于連接上下兩探針的固定手柄座質量較大，與實驗臺存在較大的摩擦，導致在移動描點時很難控制它的移動位置，產生較大誤差，嚴重影響實驗效果。

實用新型內容

有鑒于此，本實用新型的目的在于提供一種模擬靜電場描繪儀，本實用新型提供的模擬靜電場描繪儀結構簡單，可以提高實驗的準確性，提高實驗的可重復性，延長儀器的使用壽命，節約實驗成本。

本實用新型提供一種模擬靜電場描繪儀，采用以下技術方案：

一種模擬靜電場描繪儀，包括模擬靜電場測試儀、底座、實驗板和金屬探測筆，所述實驗板和所述金屬探測筆分別與所述模擬靜電場測試儀連接，所述實驗板上設置有電極和導電微晶，所述導電微晶上設置有坐標，所述實驗板放置在所述底座上，使所述導電微晶在上，所述電極在下。

進一步地，所述金屬探測筆包括金屬探頭和絕緣部。

進一步地，所述實驗板可拆卸地與所述底座連接。

進一步地，所述底座上設置有支柱和托盤，所述實驗板上設置有通孔，所述實驗板上的通孔穿過所述支柱放置在所述托盤上，使所述導電微晶在上，所述電極在下。

進一步地，所述底座上設置有旋鈕，所述旋鈕與所述支柱連接。

本實用新型提供的模擬靜電場描繪儀，主要具有如下幾方面的有益效果：其一，使用單層實驗板代替原有的雙層板，避免了采用雙層探針因上下兩探針嚴重錯位、不能同軸而產生的描跡誤差，從而提高了實驗的準確性，同時節省了實驗材料，延長了實驗儀器的使用壽命，降低了實驗成本，所述模擬靜電場描繪儀更加簡潔美觀、方便拆卸，易于實驗操作與維護；其二，采用所述金屬探測筆代替雙層探針，從根本上解決了因雙層探針形變而導致的描跡誤差，避免了雙層探針與實驗臺產生較大摩擦而導致的實驗誤差，使得實驗效果得到了較大改善；其三，所述實驗板與所述底座的這種連接方式不僅簡化了所述描繪儀的結構，而且通過調節實驗板的水平度和高度還可以提高實驗的準確性且更利于操作人員進行實驗。

附圖說明

通過以下參照附圖對本實用新型實施例的描述，本實用新型的上述以及其它目的、特征和優點將更為清楚，在附圖中：

圖1是本實用新型提供的模擬靜電場描繪儀的結構示意圖；

圖2是本實用新型提供的模擬靜電場描繪儀的底座的結構示意圖；

圖3是本實用新型提供的模擬靜電場描繪儀的實驗板的仰視圖；

圖4是本實用新型提供的模擬靜電場描繪儀的實驗板的俯視圖；