[實(shí)用新型]一種陶瓷磚平整度激光測(cè)量裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201820315302.1
• 申請(qǐng)日: 2018-03-08
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN208419911U
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-01-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周強(qiáng);脫羚;王瑩;楊曉妍;王浩然;高樂(lè)樂(lè);田杏芝;王思琪
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 陜西科技大學(xué)
• 主分類號(hào): G01B11/30
• 分類號(hào): G01B11/30
• 代理公司: 西安新思維專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 61114
• 代理人: 李罡

本實(shí)用新型涉及一種陶瓷磚平整度激光測(cè)量裝置，包括光照模塊和采集模塊；光照模塊包括網(wǎng)格狀密集激光器，安裝于檢測(cè)區(qū)域上方；采集模塊包括相機(jī)，安裝于檢測(cè)區(qū)域上方。本實(shí)用新型利用網(wǎng)格狀密集激光以垂直于瓷磚表面的照明方式對(duì)其表面進(jìn)行照射，獲得表面網(wǎng)格均勻分布的陶瓷墻地磚；利用采集模塊，通過(guò)CCD相機(jī)采集所述陶瓷墻地磚圖像數(shù)據(jù)，并將所述圖像數(shù)據(jù)發(fā)送給定位模塊；基于定位模塊，定位所述圖像數(shù)據(jù)的形變區(qū)域并發(fā)送給計(jì)算模塊，采用BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)對(duì)所述形變區(qū)域進(jìn)行處理，計(jì)算出陶瓷墻地磚表面發(fā)生形變處的平整度；最后利用分級(jí)模塊，采用模糊專家系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)對(duì)陶瓷墻地磚的質(zhì)量分級(jí)，以解決陶瓷墻地磚表面平整度檢測(cè)精度低的問(wèn)題。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及陶瓷墻地磚質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種陶瓷磚平整度激光測(cè)量裝置。

背景技術(shù)

陶瓷墻地磚的表面平整度是影響其品質(zhì)的主要因素之一，所以陶瓷墻地磚的平整度檢測(cè)問(wèn)題尤為重要。

由于技術(shù)水平的限制，我國(guó)大多陶瓷企業(yè)針對(duì)平整度的測(cè)量仍處于人工檢測(cè)階段，因此檢測(cè)精度難以得到保證。而國(guó)外雖然已研發(fā)出一些較為成熟的檢測(cè)陶瓷墻地磚平整度的設(shè)備，但這些設(shè)備常在國(guó)內(nèi)出現(xiàn)“水土不服”的情況。另外，這些設(shè)備高昂的價(jià)格也制約著其在國(guó)內(nèi)的廣泛使用。

發(fā)明內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的是提供一種陶瓷磚平整度激光測(cè)量裝置，能夠在線、快速且準(zhǔn)確的采集陶瓷墻地磚平整度信息，降低人工成本，從而顯著提高陶瓷生產(chǎn)企業(yè)的經(jīng)濟(jì)效益。

本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案為：

一種陶瓷磚平整度激光測(cè)量裝置，其特征在于：

包括光照模塊和采集模塊；

光照模塊中包括網(wǎng)格狀密集激光器，安裝于檢測(cè)區(qū)域上方；

采集模塊包括相機(jī)，安裝于檢測(cè)區(qū)域上方。

光照模塊的網(wǎng)格狀密集激光器包括激光頭、支架及1-3V可調(diào)電源，網(wǎng)格狀密集激光器發(fā)出的關(guān)照范圍內(nèi)格子總數(shù)為51×51。

采集模塊包括面陣CCD相機(jī)、黑白攝像頭及其增透膜和圖像采集卡。

本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn)：

本實(shí)用新型利用光照模塊，采用網(wǎng)格狀密集激光以垂直于瓷磚表面的照明方式對(duì)其表面進(jìn)行照射，獲得表面網(wǎng)格均勻分布的陶瓷墻地磚；利用采集模塊，通過(guò)CCD相機(jī)采集所述陶瓷墻地磚圖像數(shù)據(jù)，為后期平整度的計(jì)算和分級(jí)提供圖像信息基礎(chǔ)，快速且準(zhǔn)確的采集陶瓷墻地磚平整度信息，提高檢測(cè)效率，降低檢測(cè)的人工成本。

附圖說(shuō)明

圖1為本實(shí)用新型的整體結(jié)構(gòu)框圖；

圖2為定位模塊控制流程圖；

圖3為計(jì)算模塊中BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練流程圖；

圖4為計(jì)算模塊中BP神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)測(cè)試流程框圖；

圖5為分級(jí)模塊控制流程圖。

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合具體實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)的說(shuō)明。

本實(shí)用新型涉及一種陶瓷墻地磚平整度檢測(cè)裝置及方法，裝置包括光照模塊和采集模塊。

所述光照模塊，采用網(wǎng)格狀密集激光以垂直于瓷磚表面的照明方式對(duì)其表面進(jìn)行照射，獲得表面網(wǎng)格均勻分布的陶瓷墻地磚。一個(gè)光照面積可調(diào)且格子總數(shù)為51*51的格狀密集激光器，包括一個(gè)激光頭、一個(gè)支架及一個(gè)1-3V可調(diào)電源，所述激光器以距離磚面hcm(10cm≤h≤50cm)且垂直于瓷磚表面的照明方式照射陶瓷墻地磚表面，并獲得網(wǎng)格均勻分布的陶瓷墻地磚。