[實用新型]一種薄壁筒氣密性檢測用密封裝置

有效

• 申請號: 201820314244.0
• 申請日: 2018-03-07
• 公開（公告）號: CN207921329U
• 公開（公告）日: 2018-09-28
• 發明（設計）人: 李赫;王海榮;凌乃陽;高劍波;王迪;肖歐;張悅;姚增忠
• 申請（專利權）人: 核工業理化工程研究院
• 主分類號: F16J15/10
• 分類號: F16J15/10
• 代理公司: 天津創智天誠知識產權代理事務所(普通合伙) 12214
• 代理人: 周慶路

1.一種薄壁筒體真空性能檢測用密封裝置，其特征在于：包括密封裝置接管和密封裝置底盤，密封裝置底盤安裝于薄壁筒體端口的外側，密封裝置底盤與密封裝置接管之間通過螺紋連接，在密封裝置接管的外壁與密封裝置底盤內沿之間設置螺紋密封膠圈，在密封裝置接管的下沿的外緣設置有螺紋密封膠圈，在密封裝置接管內開槽安裝軸向密封膠圈，密封裝置底盤內開槽安裝徑向密封膠圈。

2.根據權利要求1所述的一種薄壁筒體真空性能檢測用密封裝置，其特征在于：所述密封裝置接管的上端通過卡鏈與真空檢測儀連接。

3.根據權利要求1所述的一種薄壁筒體真空性能檢測用密封裝置，其特征在于：所述軸向密封膠圈的直徑與薄壁端口的直徑相等。

4.根據權利要求1所述的一種薄壁筒體真空性能檢測用密封裝置，其特征在于：所述密封裝置接管不與薄壁筒體直接接觸，在密封裝置接管和密封裝置底盤旋緊狀態下，薄壁筒體端口頂部嵌入軸向密封膠圈。

5.根據權利要求1所述的一種薄壁筒體真空性能檢測用密封裝置，其特征在于：所述密封裝置底盤不與薄壁筒體直接接觸，在密封裝置接管和密封裝置底盤旋緊狀態下，通過徑向密封膠圈的徑向變形，對薄壁筒體端口外壁進行鎖緊和密封。

6.根據權利要求1所述的一種薄壁筒體真空性能檢測用密封裝置，其特征在于：在所述密封裝置接管的內槽頂部設置軸向密封圈凹槽，在軸向密封圈凹槽內設置軸向密封圈。

7.根據權利要求1所述的一種薄壁筒體真空性能檢測用密封裝置，其特征在于：在所述密封裝置底盤內槽的底部設置徑向密封圈凹槽，在徑向密封圈凹槽內設置徑向密封膠圈。

8.根據權利要求1所述的一種薄壁筒體真空性能檢測用密封裝置，其特征在于：所述螺紋密封膠圈設置于密封裝置接管下沿的外緣處，用于加強密封裝置接管與密封裝置底盤之間的連接。

9.根據權利要求1所述的一種薄壁筒體真空性能檢測用密封裝置，其特征在于：在所述密封裝置接管和密封裝置底盤旋緊狀態下，徑向密封膠圈的壓縮量約為45％-60％。

10.根據權利要求1所述的一種薄壁筒體真空性能檢測用密封裝置，其特征在于：所述徑向密封膠圈的內徑與薄壁筒體的外徑相等。