[實(shí)用新型]一種短路棒結(jié)構(gòu)、包括其的陣列基板和顯示面板

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201820282863.6
• 申請(qǐng)日: 2018-02-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN207817380U
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-09-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馮玉春;楊小寶
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;福州京東方光電科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G02F1/1362
• 分類(lèi)號(hào): G02F1/1362
• 代理公司: 北京正理專(zhuān)利代理有限公司 11257
• 代理人: 付生輝

本實(shí)用新型公開(kāi)了一種短路棒結(jié)構(gòu)、包括其的陣列基板和顯示面板，該短路棒結(jié)構(gòu)設(shè)置在陣列基板上，包括第一短路棒，連接陣列基板的奇數(shù)列待測(cè)試線，在基板檢測(cè)時(shí)用于向所述奇數(shù)列待測(cè)試線饋入基板檢測(cè)信號(hào)，在面板檢測(cè)時(shí)用于向所述奇數(shù)列待測(cè)試線饋入面板檢測(cè)信號(hào)；第二短路棒，連接陣列基板的偶數(shù)列待測(cè)試線，在基板檢測(cè)時(shí)用于向所述偶數(shù)列待測(cè)試線饋入基板檢測(cè)信號(hào)，在面板檢測(cè)時(shí)用于向所述偶數(shù)列待測(cè)試線饋入面板檢測(cè)信號(hào)；所述第一短路棒和第二短路棒之一與所述待測(cè)試線同層設(shè)置，所述第一短路棒和第二短路棒中的另一個(gè)設(shè)置在不同于所述待測(cè)試線的另一層上。本實(shí)用新型能夠消除因工藝性斷路造成的檢測(cè)異常，降低顯示面板測(cè)試的工作量。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及顯示設(shè)備檢測(cè)領(lǐng)域，特別是涉及一種短路棒結(jié)構(gòu)、包括其的陣列基板和顯示面板。

背景技術(shù)

在顯示設(shè)備的生產(chǎn)過(guò)程中，需要在各個(gè)生產(chǎn)階段對(duì)設(shè)備性能進(jìn)行檢測(cè)，以便及時(shí)發(fā)現(xiàn)存在的問(wèn)題，保證面板的質(zhì)量。檢測(cè)探針接觸方式是在需要通過(guò)加載信號(hào)進(jìn)行的檢測(cè)項(xiàng)目中常用的檢測(cè)方式。舉例來(lái)講，在薄膜晶體管液晶顯示器(TFT-LCD)的基板檢測(cè)AT(Array Test)或面板檢測(cè)CT(Cell Test)中，常采用檢測(cè)探針接觸方式來(lái)對(duì)基板上或面板上的引線區(qū)域加載信號(hào)。在該過(guò)程中，檢測(cè)探針與基板上或面板上的引線區(qū)域一一對(duì)應(yīng)，通過(guò)將探針?lè)謩e扎入相對(duì)應(yīng)的引線區(qū)域而形成連接，進(jìn)而加載信號(hào)。由于引線間距很小(通常為38-40微米)，所以在檢測(cè)探針與引線區(qū)域進(jìn)行接觸時(shí)容易發(fā)生偏差，并且容易對(duì)引線區(qū)域產(chǎn)生劃傷，從而影響檢測(cè)的效果。

為解決上述問(wèn)題，一般采用在陣列基板上設(shè)置短路棒結(jié)構(gòu)，所述短路棒結(jié)構(gòu)用于將待測(cè)引線所對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)線或柵極線之間短路，從而在檢測(cè)時(shí)只需要使檢測(cè)探針與被短路的多個(gè)引線之一接觸即可。短路棒結(jié)構(gòu)能夠減少以上偏差情況出現(xiàn)的幾率，增加了整個(gè)檢測(cè)過(guò)程的效率和穩(wěn)定性。

現(xiàn)有技術(shù)中，在陣列基板上分別設(shè)置基板短路棒和面板短路棒，在生產(chǎn)過(guò)程中，形成陣列基板后使用基板短路棒進(jìn)行基板測(cè)試，形成面板后使用面板短路棒進(jìn)行面板測(cè)試，基板短路棒和面板短路棒獨(dú)立設(shè)計(jì)，互不干擾。但是在實(shí)際應(yīng)用中，由于陣列基板的設(shè)計(jì)空間有限，基板短路棒和面板短路棒獨(dú)立設(shè)計(jì)造成面板短路棒與待測(cè)試線之間的過(guò)孔分布密集，容易在交疊處和源漏層過(guò)孔上的導(dǎo)電部的氧化銦錫(ITO)處出現(xiàn)斷裂的情況，導(dǎo)致出現(xiàn)水平或垂直方向線的不良(X-line)，導(dǎo)致面板測(cè)試信號(hào)無(wú)法加載到待測(cè)數(shù)據(jù)線上，對(duì)顯示屏的面板檢測(cè)造成極大干擾，不僅增加了人力成本，還導(dǎo)致了因產(chǎn)品誤判良率造成的損失。

實(shí)用新型內(nèi)容

為了解決上述問(wèn)題至少之一，本實(shí)用新型第一方面提供一種短路棒結(jié)構(gòu)，設(shè)置在陣列基板上，包括

第一短路棒，連接陣列基板的奇數(shù)列待測(cè)試線，在基板檢測(cè)時(shí)用于向所述奇數(shù)列待測(cè)試線饋入基板檢測(cè)信號(hào)，在面板檢測(cè)時(shí)用于向所述奇數(shù)列待測(cè)試線饋入面板檢測(cè)信號(hào)；

第二短路棒，連接陣列基板的偶數(shù)列待測(cè)試線，在基板檢測(cè)時(shí)用于向所述偶數(shù)列待測(cè)試線饋入基板檢測(cè)信號(hào)，在面板檢測(cè)時(shí)用于向所述偶數(shù)列待測(cè)試線饋入面板檢測(cè)信號(hào)；

所述第一短路棒和第二短路棒之一與所述待測(cè)試線同層設(shè)置，所述第一短路棒和第二短路棒中的另一個(gè)設(shè)置在不同于所述待測(cè)試線的另一層上。

進(jìn)一步地，所述待測(cè)試線為數(shù)據(jù)線，所述第一短路棒和第二短路棒之一設(shè)置在源漏層上，所述第一短路棒和第二短路棒中的另一個(gè)設(shè)置在柵極層上。

進(jìn)一步地，所述待測(cè)試線為掃描線，所述第一短路棒和第二短路棒之一設(shè)置在柵極層上，所述第一短路棒和第二短路棒中的另一個(gè)設(shè)置在源漏層上。

進(jìn)一步地，所述待測(cè)試線與所述第一短路棒和第二短路棒中的另一個(gè)通過(guò)過(guò)孔連接。

進(jìn)一步地，所述陣列基板包括不同于所述待測(cè)試線所在的層和所述第一短路棒和第二短路棒中的另一個(gè)所在的層設(shè)置的導(dǎo)電部，并且所述過(guò)孔包括第一過(guò)孔和第二過(guò)孔，其中