[實用新型]一種基于激光三角位移測量方法的厚度測量裝置

有效

• 申請號: 201820278427.1
• 申請日: 2018-02-28
• 公開（公告）號: CN207832133U
• 公開（公告）日: 2018-09-07
• 發明（設計）人: 郝志廷;王平霞;李建榮
• 申請（專利權）人: 郝志廷
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種基于激光三角位移測量方法的厚度測量裝置，包括相對設置且結構相同的第一測距儀和第二測距儀，它們均包括殼體，在殼體內的一側安裝激光器、另一側安裝CMOS圖像采集模塊，在激光器前側安裝鏡片，在CMOS圖像采集模塊前側安裝鏡頭組件，殼體內安裝電連接激光器和CMOS圖像采集模塊的信號處理器；第一測距儀發出第一激光的方向和第二測距儀發出第二激光的方向相反。本實用新型的優點：本實用新型通過雙激光三角位移測量厚度，它通過兩個不同波段的半導體激光器發出的激光分別照射到物體的兩側表面，通過光電非接觸精確測量處于運動或振動狀態中的物體厚度，具有較高的測量精度，同時設備方便攜帶，通用性好。

技術領域

本實用新型涉及光電測量技術領域，尤其涉及一種基于激光三角位移測量方法的厚度測量裝置。

背景技術

工業測量是制造業的重要組成部分，是測試和計量學科的重要分支。測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表，這類儀表中有以下幾種測量方法：利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；有利用機械接觸式測量原理的測厚儀；還有利用光學測量原理的測厚儀。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度。但上述這些測量儀在測量鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料的厚度時，測量的精度差，測量的速度慢，直接影響這些產品的生產質量、生產成本和企業利潤。

實用新型內容

本實用新型的目的是為了解決現有技術中存在的缺點，而提出的一種基于激光三角位移測量方法的厚度測量裝置。

為了實現上述目的，本實用新型采用了如下技術方案：

一種基于激光三角位移測量方法的厚度測量裝置，其特征在于：包括相對設置的第一測距儀和第二測距儀，第一測距儀和第二測距儀結構相同，它們均包括殼體，在殼體內的一側安裝激光器，在激光器前側的殼體內安裝鏡片，在殼體內的另一側安裝CMOS圖像采集模塊，在CMOS圖像采集模塊前側的殼體內安裝鏡頭組件，在殼體內還安裝信號處理器，信號處理器電連接激光器和CMOS圖像采集模塊；

第一測距儀發出第一激光的方向和第二測距儀發出第二激光的方向相反。

優選地，所述第一激光和所述第二激光共線。

優選地，所述第一激光和所述第二激光采用兩個波段的激光。

優選地，所述第一激光采用紅色激光，所述第二激光采用藍色激光。

優選地，所述鏡片采用凸透鏡。

優選地，所述鏡頭組件包括鏡頭殼，在鏡頭殼內的兩側分別安裝一個凸透鏡，在兩個凸透鏡之間設有一個凹透鏡。

優選地，在所述殼體的前側設有透光孔，所述第一激光和它的第一反射光線通過對應的透光孔，所述第二激光和它的第二反射光線通過對應的透光孔。

本實用新型的優點在于：本實用新型通過雙激光三角位移測量厚度，它通過兩個不同波段的半導體激光器發出的激光分別照射到物體的兩側表面，通過光電非接觸精確測量處于運動或振動狀態中的物體厚度，具有較高的測量精度，同時設備方便攜帶，通用性好。

附圖說明

圖1是本實用新型所提供的測量裝置測量厚度的原理結構示意圖；

圖2是測距儀測距原理示意圖。

具體實施方式

為了使本實用新型的目的、技術方案及優點更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本實用新型進行進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。