[實用新型]一種信息采集橋接裝置及圖像傳感器質量自動檢測設備有效
| 申請號: | 201820255327.7 | 申請日: | 2018-02-13 |
| 公開(公告)號: | CN207910927U | 公開(公告)日: | 2018-09-25 |
| 發明(設計)人: | 范艷根 | 申請(專利權)人: | 深圳市辰卓電子有限公司 |
| 主分類號: | H04N17/00 | 分類號: | H04N17/00;H04N5/374 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區桃源街道留*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 信息采集 打包模塊 橋接裝置 圖像信號處理器 信號采集模塊 自動檢測設備 本實用新型 圖像傳感器 圖像傳感器芯片 圖像信號轉換 測試 并口接口 測試效率 接口類型 接口協議 結構搭建 解析模塊 匹配協議 通信領域 圖像信號 質量測試 終端產品 轉換指令 自動智能 上位機 良率 生產成本 采集 圖像 芯片 轉換 | ||
1.一種信息采集橋接裝置,與其特征在于,所述信息采集橋接裝置連接于CMOS圖像傳感器及模組與ARM圖像信號處理器之間;
所述信息采集橋接裝置基于FPGA結構搭建,根據轉換指令將采集到的HiSPi、sub-LVDS或SPI接口協議的圖像信號轉換為MIPI或并口接口協議的圖像信號,供所述ARM圖像信號處理器進行圖像質量測試;
所述信息采集橋接裝置包括:
采集HiSPi、sub-LVDS或SPI接口協議的圖像信號的DDR信號采集模塊;
根據轉換指令對所述DDR信號采集模塊采集的信號進行信號解析的接口協議解析模塊;
將所述接口協議解析模塊解析后的信號按照MIPI或并口接口協議打包輸出的協議打包模塊;
所述接口協議解析模塊分別與所述DDR信號采集模塊、所述ARM圖像信號處理器和所述協議打包模塊連接,所述協議打包模塊還與所述ARM圖像信號處理器連接。
2.如權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述轉換指令從所述ARM圖像信號處理器獲取,所述轉換指令通過下述信息攜帶:
HiSPi接口協議類型信息、sub-LVDS接口協議類型信息或SPI接口協議類型信息。
3.如權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述接口協議解析模塊包括:
根據所述SPI接口協議類型信息將SPI接口協議的圖像信號進行數據串并轉換,生成并口數據的串并轉換模塊,所述串并轉換模塊與所述DDR信號采集模塊和所述ARM圖像信號處理器連接;
從所述并口數據中解析出有效數據和同步信號并輸出的解析模塊,所述解析模塊與所述串并轉換模塊、所述協議打包模塊連接。
4.如權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述接口協議解析模塊包括:
根據所述HiSPi接口協議類型信息或所述sub-LVDS接口協議類型信息對應將HiSPi接口協議的圖像信號或sub-LVDS接口協議的圖像信號進行數據串并轉換,生成并口數據的串并轉換模塊,所述串并轉換模塊與所述DDR信號采集模塊和所述ARM圖像信號處理器連接;
從所述并口數據中解析出有效數據和同步信號的解析模塊,所述解析模塊與所述串并轉換模塊連接;
將所述有效數據和同步信號轉換為MIPI接口數據的MIPM轉換模塊,所述MIPM轉換模塊與所述解析模塊和所述協議打包模塊連接。
5.如權利要求4所述的裝置,其特征在于,所述sub-LVDS接口協議類型信息中還攜帶幀同步信號;
所述接口協議解析模塊還包括:
根據所述幀同步信號,獲取、解析出行場信號的行場信號解析模塊,所述行場信號解析模塊與所述ARM圖像信號處理器和所述協議打包模塊連接。
6.一種CMOS圖像傳感器及模組的質量自動檢測設備,與CMOS圖像傳感器及模組和顯示器連接,其特征在于,所述設備具有MIPI接口、并口接口、HiSPi接口、sub-LVDS接口和SPI接口,包括:
如權利要求1-5任一項所述的信息采集橋接裝置和ARM圖像信號處理器;
所述ARM圖像信號處理器與所述信息采集橋接裝置、所述CMOS圖像傳感器及模組和所述顯示器連接;
所述ARM圖像信號處理器與所述CMOS圖像傳感器及模組通過I2C通信獲取待測芯片的接口協議類型信息。
7.如權利要求6所述的設備,其特征在于,所述接口協議類型信息為MIPI接口協議類型信息、并口接口協議類型信息、HiSPi接口協議類型信息、sub-LVDS接口協議類型信息或SPI接口協議類型信息;
當所述接口協議類型信息為HiSPi接口協議類型信息、sub-LVDS接口協議類型信息或SPI接口協議類型信息時,所述ARM圖像信號處理器控制所述信息采集橋接裝置進行數據轉換,并通過所述信息采集橋接裝置采集HiSPi、sub-LVDS或SPI接口協議的圖像信號進行圖像質量測試;
當所述接口協議類型信息為MIPI接口協議類型信息或并口接口協議類型信息時,所述ARM圖像信號處理器直接從所述CMOS圖像傳感器及模組采集MIPI或并口接口協議的圖像信號進行圖像質量測試。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市辰卓電子有限公司,未經深圳市辰卓電子有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201820255327.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種基于虛擬植入的場景包裝系統
- 下一篇:一種耐壓防碎的機頂盒外殼





