[實(shí)用新型]用于電路板性能檢測(cè)的電檢機(jī)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201820223104.2
• 申請(qǐng)日: 2018-02-06
• 公開（公告）號(hào): CN207742303U
• 公開（公告）日: 2018-08-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉暉;余俊豐
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市億方電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實(shí)用新型涉及一種用于電路板性能檢測(cè)的電檢機(jī)，解決了常見人工對(duì)電路板進(jìn)行性能檢測(cè)的工作效率較低的問題，其技術(shù)方案要點(diǎn)是，包括：機(jī)殼；承載于所述機(jī)殼內(nèi)的、用于對(duì)電路板進(jìn)行夾持或解夾持的夾持組件；用于對(duì)所述電路板上的觸點(diǎn)進(jìn)行性能檢測(cè)的測(cè)試電筆；承載于所述測(cè)試電筆一側(cè)的、用于對(duì)所述電路板上的觸點(diǎn)位置進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)鏡頭；承載于所述機(jī)殼內(nèi)的、驅(qū)動(dòng)所述測(cè)試電筆相對(duì)所述電路板移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)組件；以及，電連接于所述檢測(cè)鏡頭的控制器；所述機(jī)殼的側(cè)壁上開設(shè)有供所述電路板部分伸出的、以供所述電檢機(jī)對(duì)不同規(guī)格的所述電路板進(jìn)行性能檢測(cè)的通孔，達(dá)到高效對(duì)電路板進(jìn)行性能檢測(cè)的目的。

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及電路板生產(chǎn)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種用于電路板性能檢測(cè)的電檢機(jī)。

背景技術(shù)

電路板加工成型后，需要工作人員持握測(cè)試電筆對(duì)電路板上的各處觸點(diǎn)進(jìn)行性能檢測(cè)，而得出電路板是否為合格品，人工對(duì)電路板進(jìn)行性能檢測(cè)的方式工作效率較低，難以提高電路板的生產(chǎn)效率。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的是提供用于電路板性能檢測(cè)的電檢機(jī)，有效提高對(duì)電路板性能檢測(cè)的效率。

本實(shí)用新型的上述技術(shù)目的是通過以下技術(shù)方案得以實(shí)現(xiàn)的：一種用于電路板性能檢測(cè)的電檢機(jī)，包括：機(jī)殼；承載于所述機(jī)殼內(nèi)的、用于對(duì)電路板進(jìn)行夾持或解夾持的夾持組件；用于對(duì)所述電路板上的觸點(diǎn)進(jìn)行性能檢測(cè)的測(cè)試電筆；承載于所述測(cè)試電筆一側(cè)的、用于對(duì)所述電路板上的觸點(diǎn)位置進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)鏡頭；承載于所述機(jī)殼內(nèi)的、驅(qū)動(dòng)所述測(cè)試電筆相對(duì)所述電路板移動(dòng)的驅(qū)動(dòng)組件；以及，電連接于所述檢測(cè)鏡頭的、在所述檢測(cè)鏡頭的檢測(cè)信號(hào)指示定位到所述電路板上的觸點(diǎn)位置時(shí)、控制所述驅(qū)動(dòng)組件驅(qū)動(dòng)所述測(cè)試電筆移動(dòng)至所述電路板上的觸點(diǎn)位置、而對(duì)所述觸點(diǎn)進(jìn)行性能檢測(cè)的控制器；所述機(jī)殼的側(cè)壁上開設(shè)有供所述電路板部分伸出的、以供所述電檢機(jī)對(duì)不同規(guī)格的所述電路板進(jìn)行性能檢測(cè)的通孔。

通過采用上述技術(shù)方案，將電路板放置于機(jī)殼內(nèi)，夾持組件對(duì)電路板起到承載作用，使得電路板不易相對(duì)機(jī)殼出現(xiàn)晃動(dòng)，檢測(cè)鏡頭對(duì)電路板上觸點(diǎn)的位置進(jìn)行檢測(cè)，當(dāng)檢測(cè)鏡頭檢測(cè)到電路板上的觸點(diǎn)位置時(shí)，檢測(cè)鏡頭將檢測(cè)信號(hào)傳輸至控制器，控制器控制驅(qū)動(dòng)組件驅(qū)動(dòng)測(cè)試電筆移動(dòng)至電路板的觸點(diǎn)位置進(jìn)行檢測(cè)，通過檢測(cè)鏡頭檢測(cè)電路板的觸點(diǎn)位置以及測(cè)試電筆對(duì)觸點(diǎn)的性能進(jìn)行檢測(cè)而有效提高了工作效率，利于電路板的批量生產(chǎn)，通過在機(jī)殼上設(shè)置通孔，而供較大型的電路板伸出機(jī)殼，使得本實(shí)用新型中的電檢機(jī)具有較為廣泛的實(shí)用性。

本實(shí)用新型的進(jìn)一步設(shè)置，所述夾持組件包括:多個(gè)承載于所述機(jī)殼上部的夾爪氣缸；以及，由所述夾爪氣缸驅(qū)動(dòng)的、對(duì)所述電路板的上側(cè)進(jìn)行夾持的夾持爪。

通過采用上述技術(shù)方案，夾爪氣缸驅(qū)動(dòng)夾持爪對(duì)電路板進(jìn)行夾持而使得電路板不易相對(duì)機(jī)殼晃動(dòng)，進(jìn)而使得測(cè)試電筆對(duì)電路板上的觸點(diǎn)進(jìn)行穩(wěn)定的檢測(cè)。

本實(shí)用新型的進(jìn)一步設(shè)置，所述驅(qū)動(dòng)組件包括：承載于所述機(jī)殼內(nèi)的第一承載座；轉(zhuǎn)動(dòng)式裝配于所述第一承載座上的第一絲杠；承載于所述第一承載座且驅(qū)動(dòng)所述第一絲杠轉(zhuǎn)動(dòng)的第一驅(qū)動(dòng)電機(jī)；轉(zhuǎn)動(dòng)式裝配于所述第一絲杠上的第一螺母座；承載于所述第一螺母座上的第二承載座；轉(zhuǎn)動(dòng)式裝配于所述第二承載座上的第二絲杠；承載于所述第二承載座且驅(qū)動(dòng)所述第二絲杠轉(zhuǎn)動(dòng)的第二驅(qū)動(dòng)電機(jī)；以及，轉(zhuǎn)動(dòng)式裝配于所述第二絲杠且對(duì)所述測(cè)試電筆起到承載作用的第二螺母座。

通過采用上述技術(shù)方案，第一驅(qū)動(dòng)電機(jī)驅(qū)動(dòng)第一絲杠轉(zhuǎn)動(dòng)，第一絲杠帶動(dòng)第一螺母座相對(duì)第一絲杠移動(dòng)，第一螺母座帶動(dòng)第二承載座移動(dòng)，第二驅(qū)動(dòng)電機(jī)驅(qū)動(dòng)第二絲杠轉(zhuǎn)動(dòng)，第二絲杠帶動(dòng)第二螺母座相對(duì)第二絲杠移動(dòng)，第二螺母座帶動(dòng)測(cè)試電筆移動(dòng)，通過設(shè)置第一絲杠和第二絲杠而使得便于帶動(dòng)測(cè)試電筆移動(dòng)至電路板的觸點(diǎn)位置，進(jìn)而通過測(cè)試電筆對(duì)電路板上的觸點(diǎn)進(jìn)行性能檢測(cè)。

本實(shí)用新型的進(jìn)一步設(shè)置，所述機(jī)殼內(nèi)設(shè)有對(duì)所述電路板的下側(cè)起到承載作用的承載板。

通過采用上述技術(shù)方案，承載板對(duì)電路板起到承載作用，防止夾持組件對(duì)電路板夾持不穩(wěn)而出現(xiàn)電路板掉落甚至損壞的情況發(fā)生。