[實用新型]一種太赫茲雙探測系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820183965.2 | 申請日： | 2018-02-02 |
| 公開（公告）號： | CN207850916U | 公開（公告）日： | 2018-09-11 |
| 發(fā)明（設計）人： | 劉杰;張新海 | 申請（專利權(quán)）人： | 深圳市鵬星光電科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/3586 | 分類號： | G01N21/3586;G01N21/01;G01J1/04 |
| 代理公司： | 廣州嘉權(quán)專利商標事務所有限公司 44205 | 代理人： | 唐致明;洪銘福 |
| 地址： | 518100 廣東省深圳市龍*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 雙探測系統(tǒng) 透鏡 本實用新型 分束鏡 硅片 電光采樣技術(shù) 偏置電壓電路 氣體等離子體 光電倍增管 平衡探測器 鎖相放大器 碲化鋅晶體 測試領(lǐng)域 電光晶體 光反射鏡 探測技術(shù) 探測模式 探測系統(tǒng) 選擇方式 自由切換 棱鏡 反射鏡 可集成 濾光片 碲化鋅 波片 商品化 緊湊 集合 探測 測試 節(jié)約 靈活 電腦 應用 | ||
1.一種太赫茲雙探測系統(tǒng)，其特征在于，包括：800nm光分束鏡、800nm光反射鏡、太赫茲分束鏡、太赫茲反射鏡、第一透鏡、第二透鏡、第一硅片、第二硅片、碲化鋅晶體、1/4波片、偏置電壓電路、濾光片、光電倍增管、鎖相放大器、棱鏡、平衡探測器和電腦；其中，所述800nm光分束鏡、800nm光反射鏡、太赫茲分束鏡、太赫茲反射鏡、第一硅片、第二硅片分別平行且均與水平面成45度角放置，且太赫茲波經(jīng)過所述太赫茲分束鏡，其中一束到達第一硅片并傳輸至第一透鏡，另一束經(jīng)過所述太赫茲反射鏡并反射至第二硅片，再次傳輸至第二透鏡；800nm光經(jīng)過所述800nm光分束鏡后，其中一束光到達第二硅片并再次反射至第二透鏡，另一束光到達800nm光反射鏡反射至第一硅片，并再次反射至第一透鏡；所述偏置電壓電路的一端與第一透鏡連接，另一端與濾光片連接；所述光電倍增管的一端與濾光片連接，所述光電倍增管的另一端與電腦連接；所述第二透鏡與碲化鋅晶體連接，所述碲化鋅晶體還通過1/4波片與棱鏡的一端連接，所述棱鏡的另一端與平衡探測器連接，所述平衡探測器與鎖相放大器的一端連接，所述鎖相放大器的另一端與電腦連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的太赫茲雙探測系統(tǒng)，其特征在于：所述800nm光與太赫茲波經(jīng)過位于第一透鏡的焦點處的偏置電壓電路作用后產(chǎn)生激光二次諧波。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的太赫茲雙探測系統(tǒng)，其特征在于：所述棱鏡將探測光分為互相垂直的兩個分量并入射至平衡探測器中。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的太赫茲雙探測系統(tǒng)，其特征在于：所述第一硅片、第二硅片的材料均為純度達到99％的硅。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的太赫茲雙探測系統(tǒng)，其特征在于：所述棱鏡為握拉斯頓棱鏡。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的太赫茲雙探測系統(tǒng)，其特征在于：所述碲化鋅晶體的厚度為1mm。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的太赫茲雙探測系統(tǒng)，其特征在于：所述鎖相放大器的型號為SR830。
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