[實用新型]低本底α、β測量裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201820179733.X
• 申請日: 2018-02-01
• 公開（公告）號: CN208334663U
• 公開（公告）日: 2019-01-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 董翀;劉漢華
• 申請（專利權(quán)）人: 北京中科核安科技有限公司
• 主分類號: G01T1/208
• 分類號: G01T1/208
• 代理公司: 北京超凡志成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11371
• 代理人: 郭新娟

1.一種低本底α、β測量裝置，其特征在于，包括：主探測器、反符合探測器和控制電路，其中，所述主探測器和所述反符合探測器分別與所述控制電路相連接；

所述主探測器用于采集主探測信號，并將所述主探測信號輸入至所述控制電路，其中，所述主探測信號為基于樣品產(chǎn)生的α、β射線，和/或，環(huán)境本底輻射生成的探測信號；

所述反符合探測器用于采集反符合信號，并將所述反符合信號輸入至所述控制電路，其中，所述反符合信號為基于環(huán)境本底輻射生成的探測信號；

所述控制電路用于確定所述主探測信號和所述反符合信號在對樣本進行α、β活度測量的過程中是否受到環(huán)境本底輻射的干擾，并在確定出未受到干擾時，統(tǒng)計α、β活度測量的測量結(jié)果，所述控制電路包括：甄別電路和邏輯運算電路。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述控制電路數(shù)量均為多個，其中，

所述主探測器分別與每個所述控制電路相連接，用于向每個所述控制電路發(fā)送所述主探測信號；

所述反符合探測器與每個所述控制電路相連接，用于向每個所述控制電路發(fā)送所述反符合信號。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的裝置，其特征在于,所述甄別電路包括第一甄別電路和第二甄別電路，

所述第一甄別電路與所述主探測器相連接，用于獲取所述主探測器發(fā)送的所述主探測信號；

所述第二甄別電路與所述反符合探測器相連接，用于獲取所述反符合探測器的所述反符合信號；

所述邏輯運算電路分別與所述第一甄別電路和所述第二甄別電路相連接，用于基于所述第一甄別電路的甄別結(jié)果和所述第二甄別電路的甄別結(jié)果確定在對樣本進行α、β活度測量的過程中是否受到環(huán)境本底輻射的干擾。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述第一甄別電路包括：第一甄別子電路，第二甄別子電路和第三甄別子電路；

其中，所述第一甄別子電路，所述二甄別子電路和所述第三甄別子電路分別與所述主探測器相連接，用于分別獲取所述主探測器發(fā)送的所述主探測信號。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述邏輯運算電路包括：第一與門，第二與門，第三與門和與非門；

其中，所述第一與門的輸入端與所述第一甄別子電路的輸出端相連接；

所述第二與門的輸入端與所述二甄別子電路的輸出端相連接；

所述第三與門的輸入端與所述第三甄別子電路的輸出端相連接，所述第三與門輸出端分別與所述第一與門和所述第二與門的輸出端相連接；

所述與非門的輸入端分別與所述第三甄別子電路和所述二甄別電路的輸出端相連接，所述與非門的輸出端與所述第三與門輸入端連接；

所述第一與門，所述第二與門，所述第三與門和所述與非門的輸出端分別與單片機相連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述控制電路還包括：第一運算放大電路和第二運算放大電路，其中，

所述第一運算放大電路設(shè)置在所述主探測器和所述第一甄別電路之間，用于獲取所述主探測器輸出的所述主探測信號，并對所述主探測信號進行放大之后輸入至所述第一甄別電路中；

所述第二運算放大電路設(shè)置在所述反符合探測器和所述第二甄別電路之間，用于獲取所述反符合探測器輸出的所述反符合信號，并對所述反符合信號進行放大之后輸入至所述第二甄別電路中。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置，其特征在于，所述主探測器包括：低本底α、β雙閃爍體、第一低鉀光電倍增管和第一前置放大分壓電路，其中，所述低本底α、β雙閃爍體與所述第一低鉀光電倍增管相連接，所述第一低鉀光電倍增管與所述第一前置放大分壓電路的輸入端相連接；

所述低本底α、β雙閃爍體用于吸收樣品產(chǎn)生的α、β射線，和/或，環(huán)境本底輻射，并基于所述α、β射線，和/或，所述環(huán)境本底輻射產(chǎn)生熒光；

所述第一低鉀光電倍增管用于將所述熒光轉(zhuǎn)換為電信號；

所述第一前置放大分壓電路用于對所述電信號進行放大，放大之后得到所述主探測信號。