[實用新型]一種中子探測器性能測試系統有效
| 申請號： | 201820178841.5 | 申請日： | 2018-02-01 |
| 公開（公告）號： | CN208026877U | 公開（公告）日： | 2018-10-30 |
| 發明（設計）人： | 郭輝;張晨旭;張玉明;王雨田;黃海栗 | 申請（專利權）人： | 西安電子科技大學 |
| 主分類號： | G01T7/00 | 分類號： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知識產權代理事務所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 劉長春 |
| 地址： | 710071*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 中子探測器 性能測試系統 前置放大器 中子輻射源 電連接 濾波器 本實用新型 鎖相放大器 信號發生器 穩壓電源 工控機 示波器 探測器 暗室 測試系統 對準 檢測 | ||
1.一種中子探測器性能測試系統，其特征在于，所述測試系統包括：探測器暗室(10)、中子輻射源(101)、前置放大器(20)、濾波器(30)、鎖相放大器(40)、示波器(50)、工控機(60)、穩壓電源(70)以及信號發生器(80)；其中，
所述探測器暗室(10)內設置有所述中子輻射源(101)，所述中子輻射源(101)對準待測中子探測器(102)，所述待測中子探測器(102)、所述前置放大器(20)、所述濾波器(30)、所述鎖相放大器(40)、所述示波器(50)以及所述工控機(60)依次電連接；
所述穩壓電源(70)與所述待測中子探測器(102)電連接；
所述信號發生器(80)與所述前置放大器(20)電連接。
2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，還包括數字源表(90)，所述數字源表(90)串聯至所述待測中子探測器(102)和所述工控機(60)之間。
3.根據權利要求2所述的系統，其特征在于，所述探測器暗室(10)內還設置有升降臺(12)、電動位移臺(13)、調制盤(14)和探針(15)；其中，
所述升降臺(12)設置于所述電動位移臺(13)上；
所述調制盤(14)設置于所述電動位移臺(13)上方且與所述中子輻射源(101)連接；
所述探針(15)設置于所述升降臺(12)上表面且分別與所述前置放大器(20)和所述數字源表(90)電連接。
4.根據權利要求3所述的系統，其特征在于，所述電動位移臺(13)的行程長度為50mm，控制精度為5μm，直線度為5μm。
5.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述探測器暗室(10)的側壁可拆卸。
6.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述中子輻射源(101)采用鈹作為靶核。
7.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述探測器暗室(10)還設置有氮氣出氣口和入氣口。
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