[實用新型]碰撞顆粒的靜電發(fā)生測量裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201820174788.1 | 申請日: | 2018-02-01 |
| 公開(公告)號: | CN207992329U | 公開(公告)日: | 2018-10-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙彥琳;姚軍;房佳 | 申請(專利權(quán))人: | 中國石油大學(xué)(北京) |
| 主分類號: | G01R29/24 | 分類號: | G01R29/24;G01N27/60 |
| 代理公司: | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 黨曉林;陳燁 |
| 地址: | 102249*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測量裝置 法拉第杯 靜電發(fā)生 碰撞體 本實用新型 帶電顆粒 電性連接 靜電量 支架 碰撞發(fā)生 影響靜電 運動產(chǎn)生 靜電 單顆粒 計算機 計量 記錄 生產(chǎn) | ||
本實用新型公開了一種碰撞顆粒的靜電發(fā)生測量裝置,該裝置包括:支架;設(shè)置在所述支架上的碰撞體;法拉第杯,其位于所述碰撞體斜下方,待測顆粒與所述碰撞體碰撞后形成帶電顆粒并能落入所述法拉第杯,所述帶電顆粒運動產(chǎn)生電流;靜電計,所述靜電計與所述法拉第杯電性連接,用于計量所述電流對應(yīng)的靜電量;計算機,所述計算機與所述靜電計電性連接,用于記錄測得的所述靜電量。本實用新型提供的碰撞顆粒的靜電發(fā)生測量裝置,能夠獲得單顆粒碰撞發(fā)生靜電的大小,并確定影響靜電發(fā)生的因素,從而指導(dǎo)實際生產(chǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及靜電量測量技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種碰撞顆粒的靜電發(fā)生測量裝置。
背景技術(shù)
顆粒是一種廣泛應(yīng)用的重要工業(yè)原料,包括化工、能源、制藥、食品和礦物運輸?shù)阮I(lǐng)域。在顆粒傳輸過程中,固定顆粒在管道中隨流體的運動復(fù)雜,其中顆粒與壁面的碰撞不僅帶來磨損問題,還會產(chǎn)生大量靜電。一方面,帶電顆粒會發(fā)生放電現(xiàn)象,這可能引起顆粒團結(jié)、堵塞、火星和爆炸等危害。此外,在流體中,例如氣固兩相流中,顆粒上所帶靜電還可能會影響相關(guān)儀器的測量精度,損壞設(shè)備、儀器等。另一方面,如果合理利用靜電又可以促進某些先進工業(yè)領(lǐng)域,例如印刷技術(shù)、除塵技術(shù)等的發(fā)展。
總之,測量由于顆粒碰撞發(fā)生的靜電,研究碰撞靜電生成的影響因素,對工業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域中發(fā)展消除、控制靜電技術(shù),合理利用靜電都具有重要的實際指導(dǎo)意義。但是,由于靜電產(chǎn)生機理十分復(fù)雜,目前還沒有一種基于顆粒碰撞發(fā)生靜電的測量技術(shù)。因此,目前非常有必要提出一種顆粒碰撞發(fā)生靜電的測量技術(shù),以彌補現(xiàn)有技術(shù)中的缺陷。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的是提供一種碰撞顆粒的靜電發(fā)生測量裝置,測量單顆粒碰撞發(fā)生靜電量,確定影響靜電生成的因素,從而指導(dǎo)實際生產(chǎn)。
本實用新型的上述目的可采用下列技術(shù)方案來實現(xiàn):
一種碰撞顆粒的靜電發(fā)生測量裝置,其包括:
支架;
設(shè)置在所述支架上的碰撞體;
法拉第杯,其位于所述碰撞體斜下方,待測顆粒與所述碰撞體碰撞后形成帶電顆粒并能落入所述法拉第杯內(nèi),所述帶電顆粒運動產(chǎn)生電流;
靜電計,所述靜電計與所述法拉第杯電性連接,用于計量所述電流對應(yīng)的靜電量;
計算機,所述計算機與所述靜電計電性連接,用于記錄測得的所述靜電量。
在一個優(yōu)選的實施方式中,所述碰撞體的材料包括下述中的任意一種:不銹鋼、玻璃。
在一個優(yōu)選的實施方式中,所述碰撞體具有碰撞面和與所述碰撞面相對的底面,所述碰撞面呈圓弧狀,所述底面固定在所述支架上且連接有接地線。
在一個優(yōu)選的實施方式中,還包括用于檢測濕度的濕度儀。
在一個優(yōu)選的實施方式中,還包括:用于獲取待測顆粒運動情況的攝像儀,所述攝像儀與所述計算機電性連接。
在一個優(yōu)選的實施方式中,還包括:金屬箔罩,所述金屬箔罩設(shè)置在所述支架、法拉第杯、攝像儀、濕度儀外,所述金屬箔罩上設(shè)置有預(yù)定尺寸的窗口。
在一個優(yōu)選的實施方式中,所述窗口的下方,且位于所述碰撞體的上方還設(shè)置有用于對所述待測顆粒下落位置進行定位的橫向標尺,位于所述碰撞體遠離所述法拉第杯的一側(cè)設(shè)置有縱向標尺。
在一個優(yōu)選的實施方式中,所述法拉第杯、靜電計、金屬箔罩均與地線連接。
在一個優(yōu)選的實施方式中,還包括用于測量待測顆粒質(zhì)量的電子天平,所述電子天平的精度至少為10-4克。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國石油大學(xué)(北京),未經(jīng)中國石油大學(xué)(北京)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201820174788.1/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:線圈匝數(shù)測量裝置
- 下一篇:一種自動降弓系統(tǒng)試驗裝置





