[實用新型]一種X射線診斷裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201820130266.1
• 申請日: 2018-01-26
• 公開（公告）號: CN208541323U
• 公開（公告）日: 2019-02-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李晉;楊志文;劉慎業(yè);胡昕;黎宇坤;袁錚;鄧克立
• 申請（專利權(quán)）人: 中國工程物理研究院激光聚變研究中心
• 主分類號: A61B6/02
• 分類號: A61B6/02
• 代理公司: 中國工程物理研究院專利中心 51210
• 代理人: 翟長明;韓志英

本實用新型公開了一種X射線診斷裝置。該裝置包括晶體、成像裝置和X射線條紋相機。X射線條紋相機包括掃描變像管、光纖錐和圖像記錄裝置。靶發(fā)出的X射線由晶體色散到掃描變像管的光陰極狹縫Ⅰ上，同時由成像裝置成像到光陰極狹縫Ⅱ上，X射線透過狹縫后與光陰極作用發(fā)射電子，電子穿過掃描變像管的各電極并受到電極的聚焦成像、掃描偏轉(zhuǎn)作用后轟擊熒光屏發(fā)出可見光圖像，可見光圖像經(jīng)光纖錐傳輸后由圖像記錄裝置記錄。通過記錄的圖像可同時獲得X射線的空間和譜信息隨時間的演化過程。本實用新型的X射線診斷裝置結(jié)構(gòu)緊湊，動態(tài)范圍大，能夠同時獲得時間、空間和譜信息演化過程，具有廣闊應(yīng)用前景。

技術(shù)領(lǐng)域

本實用新型屬于光電探測領(lǐng)域，具體涉及一種X射線診斷裝置。

背景技術(shù)

在激光聚變物理實驗研究中，對等離子體發(fā)射出的X射線的空間和能譜的時間演化過程進行精密診斷是十分重要的研究內(nèi)容。但是傳統(tǒng)的診斷裝置，如郭璐婷、韋敏習(xí)、胡昕等在2016年第28期《強激光與粒子束》上發(fā)表的《High performance streaked X-rayspectrometer for research of laser-produced plasmas》，僅能單獨給出X射線空間的時間演化過程或者單獨給出能譜的時間演化過程。要得到X射線的空間和能譜的時間演化過程，必須通過多臺套診斷裝置從不同方位對離子體發(fā)射出的X射線進行診斷，這樣的方式占用靶室空間大，并且各種診斷裝置之間的時間關(guān)聯(lián)存在較大誤差，嚴重影響物理實驗的精密性。當前亟需一種能夠同時獲得空間和能譜信息隨時間演化過程的X射線診斷裝置。

發(fā)明內(nèi)容

本實用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種X射線診斷裝置。

本實用新型的X射線診斷裝置包括晶體、成像裝置和X射線條紋相機；所述的晶體、成像裝置安裝于X射線條紋相機的前方；X射線條紋相機包括沿z軸方向順序排列的掃描變像管、光纖錐和圖像記錄裝置；

所述的掃描變像管包括沿z軸方向順序排列的光陰極狹縫板、光陰極、平板電極Ⅰ、平板電極Ⅱ、平板電極Ⅲ、電四極透鏡聚焦組、平板電極Ⅳ、平板電極Ⅴ、平板電極Ⅵ、偏轉(zhuǎn)板和熒光屏；

所述的光陰極狹縫板上有沿x軸方向順序排列的光陰極狹縫Ⅰ和光陰極狹縫Ⅱ；

所述的平板電極Ⅰ的中心有沿x軸方向的狹縫Ⅰ；

所述的電四極透鏡聚焦組包括沿x軸方向順序排列的電四極透鏡Ⅰ和電四極透鏡Ⅱ；

所述的平板電極Ⅵ中心位置有沿x軸方向順序排列的狹縫Ⅱ與狹縫Ⅲ；

裝置工作時，靶發(fā)出的X射線經(jīng)過晶體衍射后，X射線包含的譜信號沿著X軸方向照射到光陰極狹縫板上，譜信號透過光陰極狹縫Ⅰ后與光陰極相互作用發(fā)射出電子束Ⅰ；靶發(fā)出的X射線也同時經(jīng)過成像裝置成像到光陰極狹縫板上，X射線圖像穿過光陰極狹縫Ⅱ后也與光陰極相互作用發(fā)射電子束Ⅱ；電子束Ⅰ由狹縫Ⅰ進入平板電極Ⅰ，并依次穿過平板電極Ⅱ、平板電極Ⅲ、電四極透鏡Ⅰ、平板電極Ⅳ、平板電極Ⅴ、平板電極Ⅵ、狹縫Ⅱ和偏轉(zhuǎn)板后到達熒光屏并轟擊熒光屏發(fā)出可見光圖像，可見光圖像由光纖錐傳輸后進入圖像記錄裝置；電子束Ⅱ也同時由狹縫Ⅰ進入平板電極Ⅰ，并依次穿過平板電極Ⅱ、平板電極Ⅲ、電四極透鏡Ⅱ、平板電極Ⅳ、平板電極Ⅴ、平板電極Ⅵ、狹縫Ⅲ和偏轉(zhuǎn)板后到達熒光屏并轟擊熒光屏發(fā)出可見光圖像，可見光圖像也由光纖錐傳輸后進入圖像記錄裝置。

所述的成像裝置為針孔。

所述的光纖錐為縮像型光纖錐。

所述的圖像記錄裝置為CCD。

所述的光陰極狹縫Ⅰ與電四極透鏡Ⅰ的中心線重合，光陰極狹縫Ⅱ與電四極透鏡Ⅱ的中心線重合。

所述的狹縫Ⅱ與光陰極狹縫Ⅰ的中心線重合，狹縫Ⅲ與光陰極狹縫Ⅱ的中心線重合。