[實用新型]一種Buck-Boost集成穩壓芯片的好壞檢測裝置

有效

• 申請號: 201820122877.1
• 申請日: 2018-01-25
• 公開（公告）號: CN207965057U
• 公開（公告）日: 2018-10-12
• 發明（設計）人: 李恒;張國銀;譚潔;趙磊;劉昌昊;陳寶明;母德浪
• 申請（專利權）人: 昆明理工大學
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/30
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型涉及Buck?Boost集成穩壓芯片的好壞檢測裝置，屬芯片檢測領域。包括8腳IC座、5腳IC座、多諧振蕩電路、X9C102數字電位器、脈寬調制電路、組合邏輯控制電路、端口切換電路、升壓電路；8腳IC座、5腳IC座均與端口切換電路相連，端口切換電路分別與脈寬調制電路、組合邏輯控制電路、升壓電路連接，多諧振蕩電路通過X9C102數字電位器與脈寬調制電路連接。本實用新型通過開關選擇Buck?Boost集成穩壓芯片類型，并通過脈寬調制使Buck?Boost集成穩壓芯片工作在升壓或降壓狀態，根據發光二極管的亮度判斷被測芯片是否正常工作，結構簡單，容易操作，檢測效果好，結果顯示淺顯易懂。

技術領域

本實用新型涉及一種Buck-Boost集成穩壓芯片的好壞檢測裝置，屬于芯片檢測技術領域。

背景技術

目前，人們在使用Buck-Boost集成穩壓芯片遇到故障時，一般是將該芯片取出，安裝到其典型電路中檢測芯片的好壞，在檢測過程中，人們借助萬用表測量其每個管腳的電壓是否正常，或通過調節電位器觀察其輸出電壓信號是否變化來判斷芯片的好壞，這種檢測方法費時費力，且在檢測過程中由于誤將萬用表的表筆或檔位接錯而使芯片燒毀的事故時常發生，不利于操作，且存在一定的安全隱患。

發明內容

本實用新型要解決的技術問題是：本實用新型提供一種Buck-Boost集成穩壓芯片的好壞檢測裝置，用于解決現有的檢測設備費時費力、不好操作、存在安全隱患的問題，本實用新型通過開關選擇Buck-Boost集成穩壓芯片的類型，并通過脈寬調制使Buck-Boost集成穩壓芯片工作在升壓或降壓狀態，從而根據發光二極管的亮度判斷被測芯片是否正常工作。

本實用新型技術方案是：一種Buck-Boost集成穩壓芯片的好壞檢測裝置，包括8腳IC座1、5腳IC座2、多諧振蕩電路3、X9C102數字電位器4、脈寬調制電路5、組合邏輯控制電路6、端口切換電路7、升壓電路8；8腳IC座1、5腳IC座2均與端口切換電路7相連，端口切換電路7分別與脈寬調制電路5、組合邏輯控制電路6、升壓電路8連接，多諧振蕩電路3通過X9C102數字電位器4與脈寬調制電路5連接；

所述組合邏輯控制電路6包括開關K1、K2、K3、K4、電阻R5、R6、R7、R8、非門N1、N2、N3、N4、四輸入與門F1、F2、F3、F4、或門M1、M2；所述開關K1、K2、K3、K4的一端同時與+5V電源端連接，開關K1、K2、K3、K4的另一端分別連接著非門N1、N2、N3、N4的輸入端，非門N1、N2、N3、N4的輸入端分別通過電阻R5、R6、R7、R8接地，非門N1、N4的輸入端分別與四輸入與門F1的輸入端A1、四輸入與門F4的輸入端D4連接，非門N2的輸入端同時連接著四輸入與門F2的輸入端B2、四輸入與門F3的輸入端B3連接，非門N1的輸出端同時連接著四輸入與門F2的輸入端A2、四輸入與門F3的輸入端A3、四輸入與門F4的輸入端A4，非門N2的輸出端同時連接著四輸入與門F1的輸入端B1、四輸入與門F4的輸入端B4，非門N3的輸出端同時連接著四輸入與門F1的輸入端C1、四輸入與門F2的輸入端C2、四輸入與門F3的輸入端C3、四輸入與門F4的輸入端C4，非門N4的輸出端同時連接著四輸入與門F1的輸入端D1、四輸入與門F2的輸入端D2、四輸入與門F3的輸入端D3，四輸入與門F1、F2的輸出端Y1、Y2分別與或門M1的兩個輸入端連接，四輸入與門F3、F4的輸出端Y3、Y4分別與或門M2的兩個輸入端連接。

所述多諧振蕩電路3包括555時基集成電路9、電阻R1、R2、二極管D1、D2、電容C1、C2；所述555時基集成電路9的RD端和VCC端同時與+5V電源端連接，555時基集成電路9的RD端通過電阻R1與其VOD端連接，555時基集成電路9的VOD端同時與電阻R2的一端和二極管D1的陽極連接，二極管D1的陰極同時與555時基集成電路9的TH端、TR端、二極管D2的陽極連接，二極管D2的陰極與電阻R2的另一端連接，555時基集成電路9的TR端、VCO端分別通過電容C1、C2與其GND端連接后接地，555時基集成電路9的VO端作為多諧振當電路3的輸出端；