[實用新型]一種XL系列升壓芯片檢測裝置

有效

• 申請號: 201820122864.4
• 申請日: 2018-01-25
• 公開（公告）號: CN207965056U
• 公開（公告）日: 2018-10-12
• 發明（設計）人: 張國銀;李恒;譚潔;趙磊;陳寶明;母德浪
• 申請（專利權）人: 昆明理工大學
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型涉及一種XL系列升壓芯片檢測裝置，屬于芯片檢測技術領域。本實用新型包括升壓型LED恒流驅動電路、升壓型恒壓電路、雙限比較電路、方波發生器和故障提示電路；所述升壓型LED驅動電路、升壓型恒壓電路分別輸出電壓信號給雙限比較電路，雙限比較電路、方波發生器均與故障提示電路相連。本實用新型通過對XL系列升壓芯片的管腳電壓進行實時監測來判斷芯片的故障，能夠快速的檢測XL系列升壓芯片的故障。同時，結構簡單，容易操作，使用方便。

技術領域

本實用新型涉及一種XL系列升壓芯片檢測裝置，屬于芯片檢測技術領域。

背景技術

目前，大部分XL系列升壓芯片分為恒壓型和恒流型兩種類型，而XL系列每一種類型的升壓芯片又有8腳和5腳兩種封裝，人們在使用XL系列的升壓芯片遇到故障時，一般使用萬用表的電壓檔對芯片的每一管腳電壓進行一一測量來判斷該芯片的好壞，這種檢測方法耗時耗力，且由于人們檢測時將電壓表表筆接錯而導致芯片損壞的事故經常發生。

發明內容

本實用新型要解決的技術問題是：本實用新型提供一種XL系列升壓芯片檢測裝置，用于解決XL系列升壓芯片遇到故障時，利用萬用表檢測耗時耗力且檢測速度慢容易發生損壞芯片的問題；本實用新型分別將恒流型和恒壓型芯片分通過升壓型LED恒流驅動電路、升壓型恒壓電路進行檢測，并通過對XL系列升壓芯片的管腳電壓進行實時監測來判斷芯片的故障，能夠快速的檢測XL系列升壓芯片的故障。

本實用新型技術方案是：一種XL系列升壓芯片檢測裝置，包括升壓型LED恒流驅動電路1、升壓型恒壓電路2、雙限比較電路3、方波發生器4和故障提示電路5；所述升壓型LED驅動電路1、升壓型恒壓電路2分別輸出電壓信號給雙限比較電路3，雙限比較電路3、方波發生器4均與故障提示電路5相連；

所述雙限比較電路3包括集成運算放大器A1、A2、電阻R5、R6、R7、R8、二極管D1、D2；所述+5V電源通過電阻R5與集成運算放大器A1的反相端連接，集成運算放大器A1的反相端通過電阻R6與集成運算放大器A2的同相端連接，集成運算放大器A2的同相端通過電阻R7接地，集成運算放大器A2的反相端與集成運算放大器A1的同相端連接后與8腳IC座9連接；集成運算放大器A1、A2的輸出端分別連接著二極管D1、D2的陽極，二極管D1、D2的陰極連接后通過電阻R8連接著故障提示電路5的與門M的一端；

所述方波發生器4包括集成運算放大器A3、A4、電阻R11、R12、R13、R14、R15、R16、R17、電容C6、C7、二極管D3、D4；所述集成運算放大器A3的反相端和同相端分別通過電阻R14、R15接地，電阻R15的兩端并聯著電容C6，集成運算放大器A3的同相端依次通過電阻R16、電容C7與其輸出端連接，集成運算放大器A3的反相端依次通過串聯電阻R11、R12、R13后與其輸出端連接，二極管D3、D4反向并聯后再與電阻R13并聯；集成運算放大器A3的輸出端通過電阻R17與集成運算放大器A4的反相端連接，集成運算放大器A4的同相端通過電阻R18接地，集成運算放大器A4的輸出端連接著故障提示電路5的與門M的一端；

所述故障提示電路5包括蜂鳴器、與門M、電阻R9、R10、三極管T；所述與門M的輸出端通過電阻R9與三極管T的基極連接，三極管T的發射極接地，三極管T的集電極通過電阻R10與蜂鳴器的一端連接，蜂鳴器的另一端與+5V電源端連接。