[實(shí)用新型]一種高頻傳輸速率高精密快速測試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201820091192.5 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-19 |
| 公開(公告)號(hào): | CN207717888U | 公開(公告)日: | 2018-08-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張海濤;鄧廷國 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市永鉅電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 深圳市中聯(lián)專利代理有限公司 44274 | 代理人: | 余顯忠 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市光明*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 通訊端口 快速測試裝置 本實(shí)用新型 測試接口 高頻傳輸 供電電源 高精密 測試方式 測試數(shù)據(jù) 生產(chǎn)過程 生產(chǎn)效率 數(shù)據(jù)分析 外殼內(nèi)壁 測試孔 傳統(tǒng)的 連接孔 準(zhǔn)確率 上蓋 保存 節(jié)約 電腦 改進(jìn) | ||
本實(shí)用新型提供了一種高頻傳輸速率高精密快速測試裝置,包括外殼,上蓋,還包括設(shè)于外殼內(nèi)的PCB板,設(shè)于PCB板上的MCU、測試接口、通訊端口及供電電源端口,與通訊端口相連接的電腦;在外殼其中一表面上設(shè)有供測試接口與外界連接的測試孔,在外殼另一表面上設(shè)有供通訊端口與外界連接的連接孔;所述供電電源端口設(shè)于外殼內(nèi)壁上且與PCB板相連接。同傳統(tǒng)的測試方式相比,本實(shí)用新型有利于提高生產(chǎn)效率,準(zhǔn)確率;大幅度減少人力的投入,從而節(jié)約成本;并可將測試數(shù)據(jù)通過通訊端口保存并進(jìn)行相關(guān)的數(shù)據(jù)分析,有利于生產(chǎn)過程的控制和改進(jìn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及高頻線纜測試裝置領(lǐng)域,具體是指一種可以通過發(fā)送和接收數(shù)據(jù)量換算出高頻線的傳輸速率,并可依據(jù)要求設(shè)定所需求的測試時(shí)間,確保高頻線纜可以滿足高傳輸速率的要求,并具有統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)上傳功能的高頻傳輸速率高精密快速測試裝置。
背景技術(shù)
現(xiàn)今社會(huì)中,人們生活中越來越多的使用高頻線纜來傳輸更高速率的數(shù)據(jù)信號(hào),如果線纜傳輸速率過低將很大的降低工作效率;傳統(tǒng)的線纜測試只針對(duì)線纜本身的特性做測試,對(duì)于線纜的傳輸速率是否滿足要求只能通過配合客戶設(shè)備使用時(shí)才能體現(xiàn)出來,如需要測試線纜傳輸速率還需客戶提供設(shè)備配套模擬使用才能確認(rèn)線纜傳輸速率是否足要求,此方法操作效率非常低,而且測試插拔次數(shù)多了還會(huì)損壞設(shè)備接口,造成設(shè)備不能使用,從而使測試成本增大。
實(shí)用新型內(nèi)容
為了克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足之處,本實(shí)用新型目的在于提供一種高頻傳輸速率高精密快速測試裝置。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案為:一種高頻傳輸速率高精密快速測試裝置,包括外殼,上蓋,還包括設(shè)于外殼內(nèi)的PCB板,設(shè)于PCB板上的MCU、測試接口、通訊端口及供電電源端口,與通訊端口相連接的電腦;在外殼其中一表面上設(shè)有供測試接口與外界連接的測試孔,在外殼另一表面上設(shè)有供通訊端口與外界連接的連接孔;所述供電電源端口設(shè)于外殼內(nèi)壁上且與PCB板相連接。
有益技術(shù)效果:在PCB板上集成MCU,MCU即處理器,用于控制測試,實(shí)現(xiàn)高精密快速測試高頻線纜傳輸速率的目的,同傳統(tǒng)的測試方式相比,本實(shí)用新型有利于提高生產(chǎn)效率,準(zhǔn)確率;大幅度減少人力的投入,從而節(jié)約成本;并可將測試數(shù)據(jù)通過通訊端口保存并進(jìn)行相關(guān)的數(shù)據(jù)分析,有利有生產(chǎn)過程的控制和改進(jìn)。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型的分解示意圖。
具體實(shí)施方式
為了使本技術(shù)領(lǐng)域的人員更好地理解本新型方案,下面結(jié)合附圖和實(shí)施方式對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。
如圖1所示,一種高頻傳輸速率高精密快速測試裝置,包括外殼1,上蓋2,還包括設(shè)于外殼內(nèi)的PCB板3,設(shè)于PCB板3上的MCU、測試接口301、通訊端口302及供電電源端口303,與通訊端口相連接的電腦4;在外殼其中一表面上設(shè)有供測試接口與外界連接的測試孔101,在外殼另一表面上設(shè)有供通訊端口與外界連接的連接孔;所述供電電源端口303設(shè)于外殼內(nèi)壁上且與PCB板3相連接。
在PCB板3上集成MCU,MCU即處理器,用于控制測試,實(shí)現(xiàn)高精密快速測試高頻線纜傳輸速率的目的,同傳統(tǒng)的測試方式相比,本實(shí)用新型有利于提高生產(chǎn)效率,準(zhǔn)確率;大幅度減少人力的投入,從而節(jié)約成本;并可將測試數(shù)據(jù)通過通訊端口保存并進(jìn)行相關(guān)的數(shù)據(jù)分析,有利于生產(chǎn)過程的控制和改進(jìn)。
雖然通過實(shí)施例描繪了本實(shí)用新型,本領(lǐng)域普通技術(shù)人員知道,本實(shí)用新型有許多變形和變化而不脫離本實(shí)用新型的精神,希望所附的權(quán)利要求包括這些變形和變化而不脫離本實(shí)用新型的精神。
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R31-00 電性能的測試裝置;電故障的探測裝置;以所進(jìn)行的測試在其他位置未提供為特征的電測試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測試;測試對(duì)象多點(diǎn)通過測試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試
G01R31-08 .探測電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測試
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