[實用新型]高精度幅寬自動化測量裝置

有效

• 申請號: 201820067903.5
• 申請日: 2018-01-16
• 公開（公告）號: CN207946061U
• 公開（公告）日: 2018-10-09
• 發明（設計）人: 武宏昌;陳志忠;譚海斌;林飛;高學文;張偉
• 申請（專利權）人: 深圳精創視覺科技有限公司
• 主分類號: G01B11/02
• 分類號: G01B11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型屬于光學檢測領域，尤其涉及玻璃及光學膜產業用高精度幅寬自動化測量裝置，包括機架以及設置在機架上的測量平臺、測量模組、X軸位移模組、控制模組，使用時將待測樣品放置在測量平臺中，控制模組控制X軸位移模組帶動測量模組進行X軸方向位移，測量模組在X軸方向位移過程中完成對測量平臺中待測樣品的幅寬測量，測量過程不必與待測樣品接觸，不會對待測樣品表面造成劃損，能夠有效提高玻璃及光學膜等待測樣品的品質及使用性能，本實用新型可以實時得到精確的測量結果，自動化程度高，省時省力，人工成本低，節省大量人力物力，測量效率高，能夠有效避免傳統方式因人工測量導致的測量結果數據一致性差的缺陷，測量精度高，應用前景廣闊。

技術領域

本發明屬于光學檢測領域，尤其涉及玻璃及光學膜產業用高精度幅寬自動化測量裝置。

背景技術

眾所周知，在光學行業中，玻璃制品及光學膜產品在光學產品中占據著很高的比例，在玻璃制品及光學膜產品的加工制造過程中，對玻璃制品及光學膜產品的幅寬指標進行控制是至關重要的一步。隨著科學技術和工業生產的高速發展，人們對測量要求也越來越高，并開始向著高速、高精度、小型化、智能化等方面發展，尤其是在科技高速發展的今天，對零件尺寸測量精度要求越來越高。

在人類的日常生活中，測量占據了舉足輕重的地位。在傳統測量領域里，玻璃制品及光學膜產品的幅寬測量是在線下另行完成的，且以卷尺、鋼尺等接觸式測量為主，這種檢測方式主要存在以下幾種缺陷：（1）檢測過程需要耗費大量人力物力，人工成本高，費時費力，檢測效率低，無法進行快速在線測量，更無法根據在線測量結果對玻璃及光學膜進行實時監控和調整，不能滿足現代社會規模化生產要求；（2）檢測精度低，測量數據對制程的反饋嚴重滯后，不利于玻璃及光學膜產品品質的提升，而且傳統的測量方式常常由于測量者不同得到的結果也不一樣，測量結果的一致性很差，導致玻璃及光學膜的質量不穩定；（3）檢測范圍有限，對于大尺寸的玻璃及光學膜的幅寬測量，難以通過卷尺、鋼尺等傳統檢測方式獲得高精度的測量結果；（4）由于傳統檢測方式主要是通過接觸式測量，檢測過程中容易對玻璃及光學膜等待檢樣品表面造成劃損，影響玻璃及光學膜的使用性能。

發明內容

本發明的目的是解決上述現有技術的不足，提供一種測量效率高、測量范圍廣、測量精度高、省時省力且不會對待測樣品造成劃損的高精度幅寬自動化測量裝置。

本發明解決上述現有技術的不足所采用的技術方案是：

一種高精度幅寬自動化測量裝置，其特征在于，包括：

機架，用于承載設置在其上的模組，所述機架上方設有測量平臺，所述測量平臺上供承載待測樣品；

測量模組，架設在所述機架上方，用于對測量平臺中的待測樣品進行幅寬測量；

X軸位移模組，設置在所述機架兩側，用于驅動所述測量模組進行X軸方向位移；

控制模組，分別與所述測量模組、X軸位移模組電性連接。

優選的，本發明中所述測量模組是在所述測量平臺上方架設有測量架，所述測量架上設有Y軸運動機構，所述Y軸運動機構上設有能夠在所述Y軸運動機構的驅動下進行Y軸方向位移的取像元件，所述取像元件用于對所述測量平臺中的待測樣品圖像進行采集。通過利用取像元件對待測樣品進行圖像采集，避免測量過程中與待測樣品接觸對待測樣品表面造成劃損，能夠有效提高玻璃及光學膜等待測樣品的品質及使用性能，由于取像元件可以在Y軸運動機構的驅動下進行Y軸方向位移，因而可以適用于任意尺寸的待測樣品，應用范圍廣。

優選的，本發明中所述Y軸運動機構設置有兩個，且兩個所述Y軸運動機構相接設置在所述測量架上。通過相接設置兩個Y軸運動機構分別帶動兩個取像元件進行Y軸方向移動，可以方便快捷的同時采集待測樣品的幅寬圖像，提高測量精度和測量效率。