[實用新型]細顆粒物濃度測量儀的性能試驗系統

有效

• 申請號: 201820062020.5
• 申請日: 2018-01-15
• 公開（公告）號: CN208187911U
• 公開（公告）日: 2018-12-04
• 發明（設計）人: 安池則之;中川貴司;渡部祥文
• 申請（專利權）人: 松下知識產權經營株式會社
• 主分類號: G01N15/06
• 分類號: G01N15/06
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

本實用新型涉及細顆粒物濃度測量儀的性能試驗系統。在該性能試驗系統中，在n個不同的細顆粒物濃度下，使被檢細顆粒物濃度測量儀進行細顆粒物濃度的測量，其中，n大于或等于3。由此，本實用新型能夠可靠地試驗被檢細顆粒物濃度測量儀的性能。

技術領域

本實用新型涉及細顆粒物濃度測量儀的性能試驗，尤其涉及細顆粒物濃度測量儀的性能試驗系統。

背景技術

近年來，隨著中國社會經濟的高速發展，出現了較為嚴重的空氣污染現象，尤其是空氣中細顆粒物的濃度的升高給人們的身體健康帶來了極大的不利影響。為了應對這一問題，首先需要的是準確地測量空氣中的細顆粒物的濃度。

現有技術已經提供了多種細顆粒物濃度測量儀。然而，現狀是，這些測量儀的性能良莠不齊。因此，期望能夠提供一種能夠可靠地試驗細顆粒物濃度測量儀的性能的方式。

實用新型內容

有鑒于此，本實用新型提出了一種能夠可靠地試驗細顆粒物濃度測量儀的性能的性能試驗系統。

本實用新型的第一方面提供了一種細顆粒物濃度測量儀的性能試驗系統，其特征在于，包括：試驗艙，其具有內部空間且具有氣密性；細顆粒物產生裝置，其用于在所述試驗艙內產生細顆粒物；以及細顆粒物凈化裝置，其用于降低所述試驗艙內的所述細顆粒物的濃度，其中，所述性能試驗系統被配置為，所述細顆粒物產生裝置和所述細顆粒物凈化裝置動作來使所述試驗艙內的細顆粒物濃度改變，并且被檢細顆粒物濃度測量儀在n個不同的細顆粒物濃度下進行細顆粒物濃度的測量，其中，n大于或等于3。

可選地，所述細顆粒物產生裝置動作以使所述試驗艙內的細顆粒物濃度達到規定值以上，隨后，所述細顆粒物凈化裝置動作來使所述試驗艙內的細顆粒物濃度降低，隨后，所述被檢細顆粒物濃度測量儀進行細顆粒物濃度的測量，所述細顆粒物凈化裝置的動作以及所述被檢細顆粒物濃度測量儀的動作重復n次，從而完成n個不同的細顆粒物濃度下的測量。

可選地，所述性能試驗系統還包括：空氣攪拌裝置，其用于在所述細顆粒物凈化裝置動作結束之后且在所述被檢細顆粒物濃度測量儀進行測量之前對所述試驗艙內的空氣進行攪拌。

可選地，所述性能試驗系統還包括：評價裝置，其用于將所述被檢細顆粒物濃度測量儀的測量值和規定值的差值與規定范圍進行比較，并基于所述差值超出所述規定范圍的比較結果評價為所述被檢細顆粒物濃度測量儀不合格。

可選地，所述評價裝置包括：存儲部，其用于針對所述n個不同的細顆粒物濃度分別存儲所述規定范圍，其中，針對最低的細顆粒物濃度的所述規定范圍大于針對其他的細顆粒物濃度的所述規定范圍；以及評價部，其用于將所述n個不同的細顆粒物濃度下的所述差值與所述存儲部存儲的同該細顆粒物濃度對應的規定范圍進行比較，并基于針對至少一個細顆粒物濃度、所述差值超出所述規定范圍的比較結果評價為所述被檢細顆粒物濃度測量儀不合格。

可選地，所述性能試驗系統還包括：參考細顆粒物濃度測量儀，該參考細顆粒物濃度測量儀用于測量所述試驗艙內的細顆粒物的濃度，作為標準細顆粒物濃度，所述參考細顆粒物濃度測量儀在所述n個不同的細顆粒物濃度下進行細顆粒物濃度的測量。

可選地，所述性能試驗系統還包括：評價裝置，其用于將所述被檢細顆粒物濃度測量儀和所述參考細顆粒物濃度測量儀的測量值的差值與規定范圍進行比較，并基于所述差值超出所述規定范圍的比較結果評價為所述被檢細顆粒物濃度測量儀不合格。

可選地，所述評價裝置包括：存儲部，其用于針對所述n個不同的細顆粒物濃度分別存儲所述規定范圍，其中，針對最低的細顆粒物濃度的所述規定范圍大于針對其他的細顆粒物濃度的所述規定范圍；以及評價部，其用于將所述n個不同的細顆粒物濃度下的所述差值與所述存儲部存儲的同該細顆粒物濃度對應的規定范圍進行比較，并基于針對至少一個細顆粒物濃度、所述差值超出所述規定范圍的比較結果評價為所述被檢細顆粒物濃度測量儀不合格。