[實用新型]TF卡測試座

有效

• 申請號: 201820015886.0
• 申請日: 2018-01-05
• 公開（公告）號: CN207866867U
• 公開（公告）日: 2018-09-14
• 發明（設計）人: 馬現通
• 申請（專利權）人: 鄭州信大捷安信息技術股份有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073;G01R1/067;G01R1/04
• 代理公司: 鄭州德勤知識產權代理有限公司 41128
• 代理人: 黃紅梅

本實用新型提供了一種TF卡測試座，包括基座、設置在基座上的測試線路板、測試探針、TF卡放置槽以及下壓機構和設置在TF卡放置槽兩側的TF卡壓桿，測試探針連接測試線路板，TF卡放置槽水平設置，測試探針設置在所述TF卡放置槽下方，測試探針的針頭伸入TF卡放置槽內；每個TF卡壓桿均包括伸入TF卡放置槽內的壓緊端和鉸接在下壓機構上的鉸接端，每個TF卡壓桿上均開設有從TF卡壓桿的中部延伸至壓緊端附近的限位長孔，基座上位于TF卡放置槽的兩側均設置有限位軸，兩個限位軸一一對應地穿設在兩個限位長孔內；基座和下壓機構之間設置有豎向限位機構和復位機構。

技術領域

本實用新型涉及一種電子產品測試裝置，具體的說，涉及了一種TF卡測試座。

背景技術

T-FLASH存儲卡簡稱TF卡，是一種外觀十分小巧的閃存儲器卡，最早用于手機設備上，如今隨著科技的迅速發展，TF卡被廣泛應用在智能家居、單反相機、平板電腦等智能設備上。隨著TF卡產品市場的要求，在提升TF卡產品性能的同時，對TF卡的測試需求也逐漸增多，TF卡測試座作為一種承載部件，能夠完成對TF卡的電氣性能及功能的測試，因此TF卡測試座的優劣能夠直接影響到TF卡測試的準確性和可靠性。

然而，現有的TF卡測試座主要存在以下問題：一方面，傳統的TF卡測試座在對待測TF卡進行測試的過程中，當待測TF卡被放置在TF卡測試座的相應位置時，待測TF卡容易發生移位，導致測試過程中容易出現待測TF卡與探針接觸不良、不穩定或者信號故障等現象；另一方面，現有的TF卡測試座多為人工掀蓋式的測試座，在對大批量待測TF卡進行測試時，難以靈活地適用于自動化設備實現待測TF卡的自動化測試，從而導致測試效率大大降低；此外，由于現有的TF卡測試座結構復雜，一旦出現部件損壞時，不方便進行更換或者維護。

為了解決以上存在的問題，人們一直在尋求一種理想的技術解決方案。

發明內容

本實用新型的目的是針對現有技術的不足，從而提供一種設計科學、可靠性高、操作方便、維護方便、可適用于大批量自動化測試的TF卡測試座。

為了實現上述目的，本實用新型所采用的技術方案是：一種TF卡測試座，包括基座、設置在所述基座上的測試線路板、測試探針、TF卡放置槽以及下壓機構和設置在所述TF卡放置槽兩側的TF卡壓桿，所述測試探針安裝在所述測試線路板上，所述測試探針的針頭伸入所述TF卡放置槽內；

所述TF卡壓桿包括伸入所述TF卡放置槽內的壓緊端和鉸接在所述下壓機構上的鉸接端，所述TF卡壓桿上開設有從所述TF卡壓桿的中部延伸至所述壓緊端附近的限位長孔，所述基座上對應所述限位長孔設置有限位軸，所述下壓機構的上下移動能夠驅使所述TF卡壓桿在所述限位長孔的限定范圍內翻轉；

所述基座和所述下壓機構之間設置有豎向限位機構和復位機構，初始狀態下，所述復位機構頂壓所述下壓機構并驅使所述TF卡壓桿的壓緊端壓緊所述TF卡放置槽的底面；存/取卡狀態下，所述下壓機構下移壓迫所述復位機構并驅使所述TF卡壓桿翻轉至離開所述TF卡放置槽。

基于上述，所述基座包括底座和TF卡座，所述底座上開設有安裝槽，所述TF卡座可豎向運動地放置在所述安裝槽內，所述安裝槽對應所述TF卡座的外側壁設置有導向內壁，所述TF卡座底部和所述安裝槽之間設置有彈性機構，所述TF卡放置槽開設在所述TF卡座內，所述測試探針穿過所述底座和所述TF卡座，兩個所述限位軸均設置在所述底座上，所述復位機構的作用力大于所述彈性機構的作用力。

基于上述，所述復位機構包括設置在所述底座四角和所述下壓機構四角之間的四個第一壓簧，所述彈性機構包括兩個第二壓簧。

基于上述，所述底座四角和所述下壓機構四角對應所述第一壓簧、所述安裝槽和所述TF卡座底部對應所述第二壓簧分別設置有壓簧安裝凹孔。

基于上述，所述豎向限位機構包括設置在所述底座上的行程長孔和設置在所述下壓機構上的行程限位銷。