[發明專利]一種開關柜一二次接線校驗裝置

在審

• 申請號: 201811654869.2
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN109507524A
• 公開（公告）日: 2019-03-22
• 發明（設計）人: 許志偉
• 申請（專利權）人: 深圳英利泰斯科技有限公司
• 主分類號: G01R31/04
• 分類號: G01R31/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種開關柜一二次接線校驗裝置，包括：發射機和接收機，所述發射機通過GPS天線輸出連接所述接收機，所述接收機電性輸入連接有50Hz信號采集線，所述發射機電性輸入連接有發射信號調整器，所述50Hz波形校驗調整器包括50Hz信號采集線、50Hz信號發射夾、接地線，所述50Hz信號采集線電性輸出連接有所述50Hz信號發射夾和所述接地線，所述接收機的內部固定安裝有復合波接收傳感器、復合波探測器、低頻探測器、高頻探測器，該發明具有針對已經運行的開關柜，可事先完成開關柜一二次接線的校驗，標定出接線錯位的柜子，保證新安裝的開關柜二次核相準確，確保帶電合環快速、可靠，提高供電可靠性的綜合效果。

技術領域

本發明涉及校驗裝置技術領域，具體為一種開關柜一二次接線校驗裝置。

背景技術

根據行業規范，開關柜帶電指示器的L1應經過耦合電路接在A相上，L2應經過耦合電路接在B相上，L3應經過耦合電路接在C相上，但由于眾多廠家生產開關柜二次帶電顯示器標準不一，可能會造成一二次接線錯位的情況，且封閉開關柜高壓室在帶電狀態下無法打開，核相時無法判別一二次接線是否有錯位現象，導致在開關柜二次無法完成準確核相，進而影響到供電可靠性。

目前尚無針對供電系統開關柜一二次接線進行校驗的儀器，在進行開關柜驗收時，主要通過目視的方式進行校驗，但由于目視的方式誤差較大，經常會導致環網柜接線錯位的現象發生，因此亟需研發一種開關柜一二次接線校驗裝置。

發明內容

本發明的目的在于提供一種開關柜一二次接線校驗裝置，以解決上述背景技術中提出的開關柜一二次接線校驗裝置經常會導致環網柜接線錯位的現象發生等特性的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：一種開關柜一二次接線校驗裝置，包括：發射機和接收機，所述發射機通過GPS天線輸出連接所述接收機，所述接收機電性輸入連接有50Hz信號采集線，所述發射機電性輸入連接有發射信號調整器，所述50Hz波形校驗調整器包括50Hz信號采集線、50Hz信號發射夾、接地線，所述50Hz信號采集線電性輸出連接有所述50Hz信號發射夾和所述接地線，所述接收機的內部固定安裝有復合波接收傳感器、復合波探測器、低頻探測器、高頻探測器，所述接收機包括放大電路、濾波電路、放大電路、中心處理器和控制顯示電路，所述放大電路、所述濾波電路、所述放大電路、所述中心處理器和所述控制顯示電路依次電性輸出連接，所述接收機通過接線端子與所述復合波接收傳感器、所述復合波探測器、所述低頻探測器或所述高頻探測器連接，所述接線端子另一端直接與第一級放大電路連接，所述發射機包括發射模塊、跳頻電路、CPU、控制電路，發射機上設有接地端口，所述CPU電性輸入連接有所述控制電路，所述CPU電性輸出連接有三個所述跳頻電路，每個所述跳頻電路電性輸出連接有所述發射模塊。

優選的，所述50Hz波形校驗調整器有兩種模式，一種為針對帶電的開關柜進行50Hz波形校驗調整，另一種為針對停電的開關柜進行50Hz波形校驗調整。

優選的，三個所述發射模塊連接四通道發射直連夾，所述四通道發射直連夾分別連接開關柜二次帶電指示器的L1、L2、L3與設備地。

優選的，所述發射信號調整器其內部固定安裝有三個信號放大模塊。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：該發明提供了一種開關柜一二次接線校驗裝置，通過開關柜一二次接線校驗裝置，針對已經運行的開關柜，可事先完成開關柜一二次接線的校驗，標定出接線錯位的柜子，在日后的生產工作中，可根據一二次的接線關系，對核相方式進行調整，針對新安裝的開關柜驗收時完成一二次接線校驗，保證新安裝的開關柜二次核相準確，確保帶電合環快速、可靠，提高供電可靠性。

附圖說明

圖1為本發明結構示意圖；

圖2為本發明發射機的系統結構示意圖；

圖3為本發明接收機的結構示意圖；