[發明專利]高端封裝QFN托盤式單顆半自動測試設備

在審

• 申請號: 201811650350.7
• 申請日: 2018-12-31
• 公開（公告）號: CN109550710A
• 公開（公告）日: 2019-04-02
• 發明（設計）人: 陳慧峰;馬浩鋒;吳忠其
• 申請（專利權）人: 江陰新基電子設備有限公司
• 主分類號: B07C5/34
• 分類號: B07C5/34;B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38
• 代理公司: 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429
• 代理人: 趙海波;曹鍵

本發明涉及的一種高端封裝QFN托盤式單顆半自動測試設備，包括底座、供收料裝置、三軸移動裝置、待料定位裝置和測試裝置，所述供收料裝置、三軸移動裝置位于底座的前段，所述待料定位裝置和測試裝置位于底座的后段，所述待料定位裝置位于供收料裝置和測試裝置之間，且待料定位裝置位于底座的左段。其三軸移動裝置中的移位機構移動速度快、移動位置精度準確，提高產品的入位準確率，其測試裝置測試穩定性好、測試數據準確度高、使用壽命長，測試壓力、距離可調，本發明克服了傳統測試設備所存在的缺陷，從而有效提高生產效率、降低生產成本。

技術領域

本發明涉及一種高端封裝QFN托盤式單顆半自動測試設備，適用于BGA/CSP/QFN/QFP等要求特性高的封裝產品的測試分選，屬于高端封裝技術領域。

背景技術

高端封裝QFN托盤式單顆半自動測試設備主要是由許多的機械零件配合氣動組件、電器元件和測試系統等組成之機電一體化設備，其程控由PLC編寫而成。該設備主要包括供收料裝置、三軸移動裝置、待料定位裝置、測試裝置等多個局部裝置組裝而成。傳統的測試設備中的移位裝置移動速度較慢，在運行過程中出現移動位置精度不準確，造成產品入位準確率低，且快速移動時橫梁容易晃動，導致產品中途掉落；另外，高端封裝的產品對測試的壓力要求和電性要求較高，以往的封裝產品沒有產品定位、接觸高度、壓力大小控制裝置等，導致其測試穩定性差、測試數據準確度低，且針對此產品所用的測試座價格相當昂貴、使用壽命短，導致其生產成本也較高。因此尋求一種定位精準、工作效率高、降低生產成本的高端封裝QFN托盤式單顆半自動測試設備尤為重要。

發明內容

本發明的目的在于克服上述不足，提供一種定位精準、工作效率高、降低生產成本的高端封裝QFN托盤式單顆半自動測試設備。

本發明的目的是這樣實現的：一種高端封裝QFN托盤式單顆半自動測試設備，包括底座，所述底座上設置有供收料裝置、三軸移動裝置、待料定位裝置和測試裝置，所述供收料裝置用于存放未檢測及檢測之后的產品，所述三軸移動裝置用于將未檢測的產品送至待料定位裝置中及將檢測之后的產品送至供收料裝置中，所述待料定位裝置用于對未檢測的產品進行定位暫存，所述測試裝置用于吸取產品并對其進行定位檢測。

更進一步的，所述三軸移動裝置包括橫向移位機構、縱向移位機構和豎向移位機構，所述橫向移位機構與縱向移位機構滑動連接，所述豎向移位機構與橫向移位機構滑動連接，所述縱向移位機構用于將橫向移位機構移動至指定產品所在的橫向直線的上方，所述橫向移位機構用于將豎向移位機構移動至指定產品所在的具體位置并將其吸起轉移。

更進一步的，所述測試裝置包括調節機構和測試機構，所述調節機構與測試機構滑動連接，所述調節機構用于控制測試機構來回移動，所述測試機構用于將待料定位裝置中的產品吸取轉移并對其定位檢測，所述測試機構的一側設置有離子風扇。

一種高端封裝QFN托盤式單顆半自動測試設備的生產方法，其生產方法為：控制三軸移動裝置移動至未檢測產品A的正上方，將產品A吸取并送至待料固定座內，三軸移動裝置返回繼續吸取未檢測產品B，與此同時，測試機構移動至待料固定座的正上方，將產品A吸取送至測試定位座內，對其進行定位檢測，如果產品A是良品，則控制三軸移動裝置將產品A吸取送至良品集料單元內，反之則將產品A吸取送至不良品集料單元內，在此過程中，控制測試機構移動至待料固定座的正上方繼續吸取產品B送至測試定位座內進行定位檢測，待三軸移動裝置將產品A放置好之后，再繼續回到入料單元中吸取產品C送至待料固定座內，以此步驟重復工作。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：

本發明一種高端封裝QFN托盤式單顆半自動測試設備，包括供收料裝置、三軸移動裝置、待料定位裝置和測試裝置，其三軸移動裝置中的移位機構移動速度快、移動位置精度準確，提高產品的入位準確率，其測試裝置測試穩定性好、測試數據準確度高、使用壽命長，測試壓力、距離可調，克服了傳統測試設備所存在的缺陷，從而有效提高生產效率、降低生產成本。

附圖說明