[發明專利]一種檢測電路和檢測方法

有效

• 申請號: 201811647929.8
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN111381151B
• 公開（公告）日: 2022-07-12
• 發明（設計）人: 劉延科;楊梁;范寶峽
• 申請（專利權）人: 龍芯中科技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/3177
• 分類號: G01R31/3177
• 代理公司: 北京潤澤恒知識產權代理有限公司 11319
• 代理人: 莎日娜

本發明實施例提供了一種檢測電路和檢測方法，檢測電路包括：被測模塊和檢測模塊；被測模塊具有翻轉狀態輸出端以及數據輸出端，被測模塊通過翻轉狀態輸出端與檢測模塊連接，被檢測模塊還通過數據輸出端與預置的數據處理裝置連接；被測模塊用于生成粒子翻轉狀態數據和運算結果數據。本發明實施例可以依據粒子翻轉狀態數據與預置的翻轉參考數據的匹配情況，判斷被測模塊是否發生存儲錯誤；判斷被測模塊是否發生存儲錯誤的基礎上，依據運算結果數據與預置的邏輯參考數據的匹配情況，判斷被測模塊是否發生采樣錯誤。從而實現檢測被測模塊存儲的數據是否發生錯誤，以及數據的錯誤類型，進而確定被測模塊在受到粒子束輻射時的穩定性。

技術領域

本發明涉及電子技術領域，特別是涉及一種檢測電路和一種檢測方法。

背景技術

單粒子翻轉(Single-Event Upsets)效應，是指數字電路芯片在輻射環境，大量高能帶電粒子引起電位狀態的跳變，“0”變成“1”，或者“1”變成“0”的現象。為保證航天設備在軌正常運行，利用地面高能質子或重離子輻射模擬設備對電子元器件進行輻照測試(包括抗單粒子翻轉、單粒子鎖定、單粒子燒毀能力)，并盡可能對器件內部單粒子翻轉敏感模塊進行定位，為器件后續抗輻射加固設計提供支持。

現有的一種輻照測試方案是將輸入數據掃描到掃描鏈中，在掃描鏈移位的同時向器件施加粒子束，然后比較輸出數據和輸入數據的差別，得出單粒子翻轉測試結果，但是這種方案只能進行時序邏輯測試，不能進行組合邏輯測試。

現有的另一種輻照測試方案是在輻照測試前，初始配置狀態寄存器或運行功能測試程序；在輻照測試過程中循環讀取并檢測狀態寄存器中的數據。如果檢測到狀態寄存器中的數據發生翻轉錯誤，則記錄錯誤日志，并重新配置所述狀態寄存器；重復執行上述步驟，直到統計出一定次數翻轉錯誤或輻照達到累計規定的注量時，停止測試。但是這種方案只能測試狀態寄存器所代表功能的測試結果，無法定位到具體器件的錯誤，并且狀態寄存器本身可能會因受到輻照影響而使得測試結果不準確。

發明內容

鑒于上述問題，提出了本發明實施例以便提供一種克服上述問題或者至少部分地解決上述問題的一種檢測電路和一種檢測方法。

為了解決上述問題，本發明實施例公開了一種檢測電路，包括：被測模塊和檢測模塊；所述被測模塊具有翻轉狀態輸出端以及數據輸出端，所述被測模塊通過所述翻轉狀態輸出端與所述檢測模塊連接，所述被檢測模塊還通過所述數據輸出端與預置的數據處理裝置連接；

所述被測模塊，用于接收所述數據處理裝置發送的初始信息，并將所述初始信息中攜帶的輸入數據進行存儲；

所述被測模塊，還用于在受到粒子束輻射的情況下，接收所述數據處理裝置發送的第一驅動信號，依據所述輸入數據和所述第一驅動信號，生成粒子翻轉狀態數據和生成運算結果數據，以及將所述粒子翻轉狀態數據發送至所述檢測模塊；

所述被測模塊，還用于接收所述數據處理裝置發送的第二驅動信號，依據所述第二驅動信號將所述運算結果數據發送至所述數據處理裝置；

所述檢測模塊，用于接收所述數據處理裝置發送的第三驅動信號，依據所述第三驅動信號將所述粒子翻轉狀態數據發送至所述數據處理裝置；

所述數據處理裝置，用于依據所述運算結果數據、所述粒子翻轉狀態數據，以及預置參考數據，生成數據檢測結果。

可選地，所述被測模塊包括掃描鏈單元；所述掃描鏈單元包括依次連接的具有所述翻轉狀態輸出端的第一觸發器；所述第一觸發器包括第一掃描輸入端、第一掃描輸出端和第一掃描控制端；所述第一觸發器的第一掃描輸入端與前一個第一觸發器的第一掃描輸出端連接，所述第一觸發器的第一掃描控制端與所述數據處理裝置連接；所述掃描鏈單元中的第一個所述第一觸發器的第一掃描輸入端與所述數據處理裝置連接；所述初始信息包括第一掃描使能信號；