[發(fā)明專(zhuān)利]微波凍干過(guò)程中水分含量的在線監(jiān)測(cè)方法及微波凍干設(shè)備在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811647629.X | 申請(qǐng)日: | 2018-12-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109490242A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃略略;李彬;潘奕;李辰;劉妙玲;邱浩榆 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 深圳職業(yè)技術(shù)學(xué)院 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/3581 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/3581 |
| 代理公司: | 深圳中一聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44414 | 代理人: | 李艷麗 |
| 地址: | 518000 廣東省深*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微波凍干 食品樣品 太赫茲波檢測(cè) 微波凍干倉(cāng) 在線監(jiān)測(cè) 微波凍干設(shè)備 頻域光譜 冰塊 水分吸收 水吸收 波譜 凍干 峰位 速凍 光譜 解析 升華 保證 | ||
1.一種微波凍干過(guò)程中水分含量的在線監(jiān)測(cè)方法,其特征在于,包括以下步驟:
利用太赫茲波檢測(cè)微波凍干倉(cāng)真空狀態(tài)下的倉(cāng)內(nèi)太赫茲頻域光譜,作為第一參考信號(hào);
將冰塊置于所述微波凍干倉(cāng)中進(jìn)行微波凍干處理,并利用太赫茲波檢測(cè)所述冰塊從升華至解析過(guò)程的實(shí)時(shí)太赫茲水吸收光譜,作為第二參考信號(hào);
將速凍后的待測(cè)食品樣品置于所述微波凍干倉(cāng)中進(jìn)行微波凍干處理,并利用太赫茲波檢測(cè)所述待測(cè)食品樣品在微波凍干過(guò)程中水分的太赫茲頻域光譜,獲得所述待測(cè)食品樣品中水分吸收峰的峰位和強(qiáng)度,并與所述第一參考信號(hào)和第二參考信號(hào)對(duì)比,獲得微波凍干過(guò)程中待測(cè)食品樣品的實(shí)時(shí)水分含量,并以此判斷微波凍干程度,及時(shí)調(diào)整凍干參數(shù)。
2.如權(quán)利要求1所述的微波凍干過(guò)程中水分含量的在線監(jiān)測(cè)方法,其特征在于,所述冰塊的體積與所述待測(cè)食品樣品的體積相同。
3.如權(quán)利要求1所述的微波凍干過(guò)程中水分含量的在線監(jiān)測(cè)方法,其特征在于,微波凍干過(guò)程中,所述微波凍干倉(cāng)內(nèi)的真空壓力不大于100Pa。
4.一種微波凍干設(shè)備,包括微波加熱箱和凍干倉(cāng),所述凍干倉(cāng)安裝于所述微波加熱箱里,其特征在于,所述凍干倉(cāng)的倉(cāng)壁上安裝有太赫茲發(fā)射光電導(dǎo)天線,所述凍干倉(cāng)的倉(cāng)壁上還安裝有太赫茲接收光電導(dǎo)天線,并且所述太赫茲發(fā)射光電導(dǎo)天線和所述太赫茲接收光電導(dǎo)天線正相對(duì)以使所述太赫茲接收光電導(dǎo)天線接收到所述太赫茲發(fā)射光電導(dǎo)天線產(chǎn)生的太赫磁波;
還包括太赫茲裝置,所述太赫茲裝置能夠發(fā)出泵浦光和探測(cè)光,由第一光纖將所述泵浦光輸送至所述太赫茲發(fā)射光電導(dǎo)天線以激發(fā)產(chǎn)生太赫茲波,且由第二光纖將所述探測(cè)光輸送至所述太赫茲接收光電導(dǎo)天線;通過(guò)偏置電壓數(shù)據(jù)線將所述太赫茲裝置與所述太赫茲發(fā)射光電導(dǎo)天線信號(hào)連接,且通過(guò)鎖相放大器數(shù)據(jù)線將所述太赫茲裝置與所述太赫茲接收光電導(dǎo)天線信號(hào)連接。
5.如權(quán)利要求4所述的微波凍干設(shè)備,其特征在于,所述凍干倉(cāng)內(nèi)還設(shè)置有用于承載樣品的載物臺(tái),所述載物臺(tái)盛放樣品的部位位于所述太赫茲發(fā)射光電導(dǎo)天線產(chǎn)生的太赫茲波的焦點(diǎn)上。
6.如權(quán)利要求4所述的微波凍干設(shè)備,其特征在于,所述鎖相放大器數(shù)據(jù)線一端與所述太赫茲接收光電導(dǎo)天線連接,另一端與所述太赫茲裝置的鎖相放大器連接。
7.如權(quán)利要求4所述的微波凍干設(shè)備,其特征在于,還包括第一光纖耦合器和第二光纖耦合器,所述第一光纖耦合器用于將所述泵浦光耦合進(jìn)所述第一光纖;所述第二光纖耦合器用于將所述探測(cè)光耦合進(jìn)所述第二光纖。
8.如權(quán)利要求4所述的微波凍干設(shè)備,其特征在于,所述凍干倉(cāng)為透明凍干倉(cāng)。
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





