[發明專利]網絡結構的處理方法、裝置及相關產品有效
| 申請號: | 201811646113.3 | 申請日: | 2018-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN109754084B | 公開(公告)日: | 2020-06-12 |
| 發明(設計)人: | 不公告發明人 | 申請(專利權)人: | 中科寒武紀科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06N3/08 | 分類號: | G06N3/08;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京華進京聯知識產權代理有限公司 11606 | 代理人: | 朱五云 |
| 地址: | 100190 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 網絡 結構 處理 方法 裝置 相關 產品 | ||
1.一種網絡結構的處理方法,其特征在于,所述包括:
基于Caffe框架下使用檢測網絡SSD檢測圖像時,獲取優化指令;所述優化指令用于對檢測網絡SSD的網絡結構的結構,或是同時對所述網絡結構的結構,以及所述網絡結構中卷積層的模型參數進行優化處理;所述檢測網絡SSD用于對圖像進行檢測;
根據所述優化指令中的優化級別刪除所述網絡結構中的冗余層,并在所述網絡結構中添加ssd檢測層,以對網絡結構進行優化處理;其中,所述冗余層是根據實際應用需求或用戶對所述網絡結構的功能需求確定的;所述冗余層為不需要強制執行的數據變化操作層;所述冗余層包括默認框設置層、拼接層、Permute層、Flatten層中的至少一層;所述ssd檢測層用于設置默認框、拼接特征圖以及輸出檢測結果;所述優化級別包括第一優化級別和第二優化級別,所述第一優化級別用于指示計算機設備對所述網絡結構進行結構優化的操作,所述第二優化級別用于指示所述計算機設備對所述網絡結構進行結構優化的操作,以及對所述網絡結構中的卷積層的模型參數進行優化的操作。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,根據所述優化指令中的優化級別對網絡結構進行優化處理的步驟包括:
所述優化級別為第一優化級別時,刪除所述網絡結構中的冗余層,獲得第一優化網絡結構。
3.如權利要求1所述的方法,其特征在于,根據所述優化指令中的優化級別對網絡結構進行優化處理的步驟包括:
所述優化為第二優化級別時,所述網絡結構中存在卷積層和Batch Norm層兩層連續的結構、卷積層和Scale層兩層連續的結構以及卷積層、Batch Norm層和Scale三層連續的結構中的至少任一種網絡結構時,刪除所述網絡結構中的冗余層,對所述卷積層的模型參數進行優化,獲得第二優化網絡結構。
4.如權利要求1所述的方法,其特征在于,根據所述優化指令中的優化級別對網絡結構進行優化處理的步驟包括:
所述優化級別為第二優化級別時,所述網絡結構中不存在卷積層和Batch Norm層兩層連續的結構、卷積層和Scale層兩層連續的結構以及卷積層、Batch Norm層和Scale三層連續的結構中的任一種網絡結構時,刪除所述網絡結構中的冗余層,獲得第一優化網絡結構。
5.根據權利要求2、3或4所述的方法,其特征在于,刪除所述網絡結構中的冗余層,包括:
判斷所述網絡結構中是否存在檢測輸出層;
若存在所述檢測輸出層,則識別所述網絡結構中的所述冗余層;
根據識別結果刪除所述網絡結構中的所述冗余層,并在所述網絡結構中添加ssd檢測層;其中,所述ssd檢測層用于設置默認框、拼接特征圖、以及輸出檢測結果。
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,判斷所述網絡結構中是否存在檢測輸出層,包括:
獲取所述網絡結構中的最后一層結構層的類型信息;
根據所述類型信息,判斷所述最后一層結構層是否為所述檢測輸出層。
7.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,識別所述網絡結構中的所述冗余層,包括:
按照預設的查找路徑,以所述檢測輸出層為起點,獲取與所述檢測輸出層連接的所有路徑上包含的各層結構層的類型信息;
根據所述各層結構層的類型信息,識別所述網絡結構中的冗余層。
8.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,刪除所述網絡結構中的冗余層,還包括:
刪除所述網絡結構中的冗余層,將所述網絡結構中的除所述冗余層以外的其它結構層的連接關系進行更新,得到刪除后的網絡結構;
將所述刪除后的網絡結構中的所述檢測輸出層替換為所述ssd檢測層。
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