[發明專利]稀疏校驗矩陣的存儲方法和讀取方法

有效

• 申請號: 201811645901.0
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN111384976B
• 公開（公告）日: 2023-09-05
• 發明（設計）人: 朱永輝;沈梓榮;文宇波;高峰;許祥濱
• 申請（專利權）人: 泰斗微電子科技有限公司
• 主分類號: H03M13/11
• 分類號: H03M13/11
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 李艷麗

1.一種稀疏校驗矩陣的存儲方法，其特征在于，包括：

獲取在多進制LDPC碼的編解碼過程中使用的稀疏校驗矩陣；

確定所述稀疏校驗矩陣中的非0元素，任一所述非0元素在所述稀疏校驗矩陣中均具有相應的位置信息，所述位置信息包括行序號和列序號；

針對所述稀疏校驗矩陣的每一行，逐行存儲所述每一行中的非0元素、所述非0元素的列序號，以及所述每一行的行分隔符，所述每一行的行分隔符為所述每一行非0元素的數量；

針對所述稀疏校驗矩陣的每一列，逐列存儲所述每一列中的非0元素、所述非0元素的行序號，以及所述每一列的列分隔符，所述每一列的列分隔符為所述每一列非0元素的數量，其中，逐行和逐列存儲稀疏元素的過程同時進行，所述稀疏元素包括所述稀疏校驗矩陣中的非0元素。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述每一行的行分隔符為所述每一行非0元素的起始位置或結束位置，所述每一列的列分隔符為所述每一列非0元素的起始位置或結束位置。

3.一種稀疏校驗矩陣的讀取方法，其特征在于，包括：

獲取待讀取的稀疏校驗矩陣；

逐行或逐列讀取所述待讀取的稀疏校驗矩陣中的非0元素；

其中，所述待讀取的稀疏校驗矩陣按照如下方式進行存儲獲得：

針對原始稀疏校驗矩陣的每一行，逐行存儲所述每一行中的非0元素、所述非0元素的列序號，以及所述每一行的行分隔符，所述每一行的行分隔符為所述每一行非0元素的數量；

針對所述原始稀疏校驗矩陣的每一列，逐列存儲所述每一列中的非0元素、所述非0元素的行序號，以及所述每一列的列分隔符，所述每一列的列分隔符為所述每一列非0元素的數量，其中，逐行和逐列存儲稀疏元素的過程同時進行，所述稀疏元素包括所述稀疏校驗矩陣中的非0元素。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述逐行或逐列讀取所述待讀取的稀疏校驗矩陣中的非0元素的步驟包括：

針對所述待讀取的稀疏校驗矩陣的每一行，順序讀取所述每一行中的非0元素以及所述非0元素的列序號；

當讀取到行分隔符時，對當前的行序號遞增并轉入下一行中進行讀取。

5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述逐行或逐列讀取所述待讀取的稀疏校驗矩陣中的非0元素的步驟包括：

針對所述待讀取的稀疏校驗矩陣的每一列，順序讀取所述每一列中的非0元素以及所述非0元素的行序號；

當讀取到列分隔符時，對當前的列序號遞增并轉入下一列中進行讀取。

6.一種稀疏校驗矩陣的讀取裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取待讀取的稀疏校驗矩陣；

讀取模塊，用于逐行或逐列讀取所述待讀取的稀疏校驗矩陣中的非0元素；

其中，所述待讀取的稀疏校驗矩陣通過調用如下模塊進行存儲獲得：

逐行存儲模塊，用于針對原始稀疏校驗矩陣的每一行，逐行存儲所述每一行中的非0元素、所述非0元素的列序號，以及所述每一行的行分隔符，所述每一行的行分隔符為所述每一行非0元素的數量；

逐列存儲模塊，用于針對所述原始稀疏校驗矩陣的每一列，逐列存儲所述每一列中的非0元素、所述非0元素的行序號，以及所述每一列的列分隔符，所述每一列的列分隔符為所述每一列非0元素的數量，其中，逐行和逐列存儲稀疏元素的過程同時進行，所述稀疏元素包括所述稀疏校驗矩陣中的非0元素。

7.一種解碼器，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求1至2任一項所述稀疏校驗矩陣的存儲方法的步驟。

8.一種解碼器，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求3至5任一項所述稀疏校驗矩陣的讀取方法的步驟。