[發明專利]一種用于氣密性檢測的封膜機構

在審

• 申請號: 201811644305.0
• 申請日: 2018-12-30
• 公開（公告）號: CN109470414A
• 公開（公告）日: 2019-03-15
• 發明（設計）人: 吳加富;繆磊;馬運曦;黎宗彩;馬偉
• 申請（專利權）人: 蘇州富強科技有限公司
• 主分類號: G01M3/02
• 分類號: G01M3/02
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產權代理事務所(普通合伙) 11369
• 代理人: 韓飛

本發明公開了一種用于氣密性檢測的封膜機構，包括：安裝立板；轉動連接于安裝立板上的薄膜放料盤與薄膜收料盤，薄膜放料盤與薄膜收料盤間隔設置；以及設于薄膜放料盤與薄膜收料盤之間的壓膜組件，其中，從薄膜放料盤上引出的薄膜從壓膜組件的正下方經過，并最終被薄膜收料盤收卷，薄膜的途徑路徑上設有至少兩組薄膜導向輥組。根據本發明，其能夠將待測部位的腔體或孔洞進行貼膜封閉，待檢測完畢后再將薄膜揭下，通過設置揭膜組件，使得能夠較為容易的將薄膜揭起，以防止破損薄膜卷斷裂導致的檢測中斷，大大提高了揭膜效率與檢測效率。

技術領域

本發明涉及氣密性檢測領域，特別涉及一種用于氣密性檢測的封膜機構。

背景技術

在一些設有腔體或者通孔的產品上，而所述腔體或者通孔中安裝有零部件，為使所述零部件與基座之間形成密封，往往在兩者之間設置密封層進行密封，為了檢測兩者結合后的密封性，通常采用在腔體或孔洞的一側采用下壓式的方法對所述零部件上的孔洞進行密封而在腔體或孔洞的另一側抽負壓的方式進行密封性檢測，在傳統檢測方法中，由于下壓的壓力會使得所述零部件與基座之間的縫隙變小，縫隙變小后會使得兩者的密封性得到提升，然而這就會導致實際存在密封性欠佳問題的產品被漏檢，大大降低了檢測成功率及檢測精度。而在現有的封膜機構中，還存在著封膜檢測后薄膜不易揭起或者揭起后破損使得薄膜卷斷裂導致檢測中斷的問題。

有鑒于此，實有必要開發一種用于氣密性檢測的封膜機構，用以解決上述問題。

發明內容

針對現有技術中存在的不足之處，本發明的目的是提供一種用于氣密性檢測的封膜機構，其能夠將待測部位的腔體或孔洞進行貼膜封閉，待檢測完畢后再將薄膜揭下，通過設置揭膜組件，使得能夠較為容易的將薄膜揭起，以防止破損薄膜卷斷裂導致的檢測中斷，大大提高了揭膜效率與檢測效率。

為了實現根據本發明的上述目的和其他優點，提供了一種用于氣密性檢測的封膜機構，包括：

安裝立板；

轉動連接于安裝立板上的薄膜放料盤與薄膜收料盤，薄膜放料盤與薄膜收料盤間隔設置；以及

設于薄膜放料盤與薄膜收料盤之間的壓膜組件，

其中，從薄膜放料盤上引出的薄膜從壓膜組件的正下方經過，并最終被薄膜收料盤收卷，薄膜的途徑路徑上設有至少兩組薄膜導向輥組。

優選的是，所述薄膜導向輥組設有兩組，分別為位于薄膜放料盤及薄膜收料盤下方的第一薄膜導向輥組及第二薄膜導向輥組。

優選的是，第二薄膜導向輥組與薄膜收料盤之間設有揭膜組件，該揭膜組件包括：

固接于安裝立板之上的揭膜安裝架；

設于揭膜安裝架上的揭膜導向柱；以及

彈性連接于揭膜導向柱之上的揭膜掛鉤，

其中，薄膜依次穿過第二薄膜導向輥組與揭膜掛鉤后被薄膜收料盤收卷。

優選的是，揭膜導向柱沿水平方向延伸。

優選的是，第一薄膜導向輥組與第二薄膜導向輥組位于同一水平面上。

優選的是，第一薄膜導向輥組與薄膜放料盤設有張緊輥組，從薄膜放料盤上引出的薄膜經張緊輥組的張緊后再導入到第一薄膜導向輥組之中。

優選的是，壓膜組件的頂端固接有包膠壓頭。

優選的是，薄膜放料盤及薄膜收料盤分別傳動連接有旋轉阻尼器及收料驅動器。

本發明與現有技術相比，其有益效果是：其能夠將待測部位的腔體或孔洞進行貼膜封閉，待檢測完畢后再將薄膜揭下，通過設置揭膜組件，使得能夠較為容易的將薄膜揭起，以防止破損薄膜卷斷裂導致的檢測中斷，大大提高了揭膜效率與檢測效率。