[發明專利]TD-LTE天線合成波束測試裝置

有效

• 申請號: 201811640941.6
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN111381110B
• 公開（公告）日: 2022-05-03
• 發明（設計）人: 邵金華;李長恒;盧吉水;卜力;周洪劍;孫全有
• 申請（專利權）人: 京信通信技術（廣州）有限公司
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 周修文

本發明涉及一種TD?LTE天線合成波束測試裝置，包括多功分網絡板、多個介質滑動組件及屏蔽外殼。介質滑動組件與分支路相應滑動設置，介質滑動組件包括第一介質滑動片與第二介質滑動片。第一介質滑動片與第二介質滑動片分別覆蓋在多功分網絡板上的分支路的兩側。介質滑動組件相對于多功分網絡板滑動時，分支路被所述第一介質滑動片與第二介質滑動片所覆蓋的區域面積大小能相應調整。屏蔽外殼設有屏蔽腔，多功分網絡板與介質滑動組件均位于屏蔽腔內。上述的TD?LTE天線合成波束測試裝置，各個支路的輸出相位均可以通過驅動與支路對應的介質滑動組件來進行調整，從而大大提升了TD?LTE天線方向圖的測試效率。

技術領域

本發明涉及天線測試裝置技術領域，特別是涉及一種TD-LTE天線合成波束測試裝置。

背景技術

對于移動TD-LTE(Time Division Long Term Evolution分時長期演進)天線的方向圖測試，為得到其合成波束，需將各列單元天線配入不同的權值。傳統的方向圖測試方法通常采用不同功率與不同相位比的多個功分器來模擬出各列單元天線所配入的權值，然后由多個功分器合成波束。然而，當TD-LTE天線所需測試的合成波束狀態較多時，則需更替不同權值的功分器，如此使得TD-LTE天線的方向圖測試效率較低。

發明內容

基于此，有必要克服現有技術的缺陷，提供一種TD-LTE天線合成波束測試裝置，它能夠提高測試效率。

其技術方案如下：一種TD-LTE天線合成波束測試裝置，包括：多功分網絡板，所述多功分網絡板包括多個分支路，所述分支路一端用于與天線單元相連；多個介質滑動組件，所述介質滑動組件與所述分支路相應設置，所述介質滑動組件能夠與所述多功分網絡板相互滑動，所述介質滑動組件包括第一介質滑動片與第二介質滑動片，所述第一介質滑動片與所述第二介質滑動片相連，所述第一介質滑動片與所述第二介質滑動片分別位于所述多功分網絡板的兩側，且所述第一介質滑動片與所述第二介質滑動片分別覆蓋在所述多功分網絡板上的分支路的兩側，所述介質滑動組件相對于所述多功分網絡板滑動時，所述分支路被所述第一介質滑動片與所述第二介質滑動片所覆蓋的區域面積大小能相應調整；屏蔽外殼，所述屏蔽外殼設有屏蔽腔，所述多功分網絡板與所述介質滑動組件均位于所述屏蔽腔內。

上述的TD-LTE天線合成波束測試裝置，工作時，多個分支路分別與多個天線單元相連，將具有獨立方向圖的多個天線單元饋入的多個波束合成一束。當需要調整合成波束的天線方向圖為用戶所需要的天線方向圖時，則可以通過驅動介質滑動組件相對于多功分網絡板滑動，以改變第一介質滑動片與第二介質滑動片覆蓋分支路的區域面積大小，根據信號在不同介質中傳播速率不同的特性，能對支路的輸出相位進行調整，從而得到了不同相位比的合成波束權值，能調整合成波束的天線方向圖為用戶所需要的天線方向圖。如此可見，各個支路的輸出相位均可以通過驅動與支路對應的介質滑動組件來進行調整，從而大大提升了TD-LTE天線方向圖的測試效率。

在其中一個實施例中，所述的TD-LTE天線合成波束測試裝置還包括多個傳動拉桿，所述傳動拉桿與所述介質滑動組件一一對應連接，所述屏蔽外殼設有與所述屏蔽腔連通的多個窗口，所述窗口與所述介質滑動組件相應設置，所述介質滑動組件的一部分通過所述窗口伸出到所述屏蔽腔外，且所述傳動拉桿能夠帶動所述介質滑動組件穿過所述窗口向所述屏蔽腔外部移動。

在其中一個實施例中，所述的TD-LTE天線合成波束測試裝置還包括第一緊固件，所述傳動拉桿可移動地設置在所述屏蔽外殼上，所述第一緊固件用于在所述傳動拉桿移動到預設位置時將所述傳動拉桿固定在所述屏蔽外殼上。

在其中一個實施例中，所述的TD-LTE天線合成波束測試裝置還包括設置在所述屏蔽外殼外的多個導向套體，所述導向套體與所述傳動拉桿一一對應設置，所述傳動拉桿可滑動地設置在所述導向套體內部。

在其中一個實施例中，所述導向套體的側壁沿其軸向方向上并列間隔地設置有多個第一通孔，所述第一緊固件穿過其中一個所述第一通孔將所述傳動拉桿固定在所述屏蔽外殼上；所述傳動拉桿的外側壁上設置有相位刻度線。