[發(fā)明專(zhuān)利]一種三維堆疊封裝方法及結(jié)構(gòu)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811640475.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN109786271A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-05-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡文華;陳峰;孫鵬;徐健 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 華進(jìn)半導(dǎo)體封裝先導(dǎo)技術(shù)研發(fā)中心有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/56 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/56;H01L23/31;H01L25/18;H01L23/488;H01L23/482;H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京三聚陽(yáng)光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11250 | 代理人: | 李博洋 |
| 地址: | 214135 江蘇省無(wú)錫市新*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 導(dǎo)電結(jié)構(gòu) 第一表面 載板 金屬線路層 芯片 焊點(diǎn) 導(dǎo)電金屬線 表面貼附 第二表面 金屬線路 三維堆疊 第一模 封層 扇出 封裝 表面形成 無(wú)機(jī)介質(zhì) 依次設(shè)置 預(yù)先設(shè)置 電連接 介質(zhì)層 貫通 制作 | ||
1.一種三維堆疊封裝方法,其特征在于,包括:
在第一載板的第一表面貼附導(dǎo)電結(jié)構(gòu)和第一芯片,且所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的第一表面朝向所述第一載板;其中,所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)具有貫通第一表面和第二表面的至少一根導(dǎo)電金屬線,所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的第一表面依次設(shè)置有第一金屬線路層和第一介質(zhì)層,所述第一金屬線路層中金屬線路的至少部分與導(dǎo)電金屬線電連接,所述第一介質(zhì)層露出所述第一金屬線路層中金屬線路的至少部分;
在所述第一載板的第一表面形成第一模封層,所述第一模封層包覆所述第一芯片,且包覆所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的側(cè)壁,并露出所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)第二表面上的導(dǎo)電金屬線端部;
在所述第一模封層表面形成第二金屬線路層,所述第二金屬線路層中金屬線路的至少部分與露出的導(dǎo)電金屬線端部電連接;
在所述第二金屬線路層表面貼附第二芯片,所述第二芯片的凸點(diǎn)朝向所述第一芯片,并與所述第二金屬線路層中金屬線路的至少部分電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維堆疊封裝方法,其特征在于,所述第一芯片的焊點(diǎn)朝向所述第一載板;所述方法還包括:
拆除所述第一載板;
在原先貼附所述第一載板的表面設(shè)置第二介質(zhì)層,所述第二介質(zhì)層露出所述第一芯片的焊點(diǎn)和所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)第一表面上金屬線路的至少部分;
在所述第二介質(zhì)層表面形成第三金屬線路層,所述第三金屬線路層中金屬線路的至少部分與所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)第一表面所露出的金屬線路的至少部分電連接;
在所述第三金屬線路層表面形成第三介質(zhì)層,所述第三介質(zhì)層露出所述第三金屬線路中金屬線路的至少部分;
在第三介質(zhì)層上露出金屬線路的位置植球。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維堆疊封裝方法,其特征在于,所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)的制作步驟包括:
將無(wú)機(jī)材質(zhì)的基板臨時(shí)鍵合在第二載板上;
在所述基板上至少一個(gè)預(yù)定位置打孔并在孔內(nèi)填充導(dǎo)電金屬,形成導(dǎo)電金屬線;
在所述基板表面形成第一金屬線路層,所述第一金屬線路層中金屬線路的至少部分與導(dǎo)電金屬線電連接;
在所述第一金屬線路層表面形成第一介質(zhì)層,所述第一介質(zhì)層露出所述第一金屬線路層中金屬線路的至少部分;
拆除第二載板;
根據(jù)需要切割,得到導(dǎo)電結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維堆疊封裝方法,其特征在于,所述在所述第一金屬線路層表面貼附第二芯片的步驟時(shí),所述第二芯片的至少部分凸點(diǎn)與所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)中導(dǎo)電金屬線的位置對(duì)應(yīng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的三維堆疊封裝方法,其特征在于,所述在所述第三金屬線路層表面形成第三介質(zhì)層,所述第三介質(zhì)層露出所述第三金屬線路中金屬線路的部分的步驟時(shí),露出金屬線路的位置中至少部分與所述導(dǎo)電結(jié)構(gòu)中導(dǎo)電金屬線的位置對(duì)應(yīng)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維堆疊封裝方法,其特征在于,所述在所述第二金屬線路層表面貼附第二芯片的步驟包括:
在所述第二金屬線路層表面形成第四介質(zhì)層,所述第四介質(zhì)層露出所述第二金屬線路層中金屬線路的部分;
將第二芯片的凸點(diǎn)設(shè)置在第一四介質(zhì)層上露出金屬線路的位置。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的三維堆疊封裝方法,其特征在于,所述在所述第二金屬線路層表面貼附第二芯片的步驟包括:
將第二芯片的凸點(diǎn)對(duì)應(yīng)設(shè)置在露出金屬線路的位置;
在所述第二芯片與所述第二金屬線路層之間填膠。
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H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專(zhuān)門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專(zhuān)門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專(zhuān)門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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