[發(fā)明專利]半導(dǎo)體裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201811640218.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-12-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110034113B | 公開(公告)日: | 2023-04-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 妹尾賢;大河原淳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社電裝 |
| 主分類號(hào): | H01L27/07 | 分類號(hào): | H01L27/07 |
| 代理公司: | 華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 何沖;黃隸凡 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 裝置 | ||
1.一種半導(dǎo)體裝置,其特征在于,包括:
半導(dǎo)體襯底;
上電極,設(shè)置在所述半導(dǎo)體襯底的上表面;
下電極,設(shè)置在所述半導(dǎo)體襯底的下表面;
溝槽;
柵絕緣膜;以及
柵電極,其中:
所述半導(dǎo)體襯底設(shè)置有多個(gè)二極管范圍和多個(gè)IGBT范圍;
在沿著所述半導(dǎo)體襯底的厚度方向的所述半導(dǎo)體襯底的平面圖中,所述IGBT范圍和所述二極管范圍沿著第一方向交替排列;
每一二極管范圍在與所述下電極接觸的范圍內(nèi)設(shè)置有多個(gè)n型的陰極區(qū)和多個(gè)p型的限流區(qū);
在沿著所述厚度方向的所述半導(dǎo)體襯底的平面圖中,在每一二極管范圍內(nèi),所述陰極區(qū)和所述限流區(qū)沿著與所述第一方向相交的第二方向交替排列;
每一IGBT范圍在與所述下電極接觸的范圍內(nèi)設(shè)置有p型的集電極區(qū);
每一IGBT范圍內(nèi)的所述集電極區(qū)與相鄰的二極管范圍內(nèi)的每一陰極區(qū)接觸;
在每一二極管范圍內(nèi),多個(gè)陰極區(qū)被多個(gè)限流區(qū)分隔;
夾在兩個(gè)IGBT范圍中間的每一二極管范圍內(nèi)的每一陰極區(qū)從第一端部連續(xù)延伸到第二端部,所述第一端部是在所述第一方向上的一個(gè)端部,所述第二端部是在所述第一方向上的另一個(gè)端部;
每一陰極區(qū)在所述第一端部處與一個(gè)集電極區(qū)接觸,并且在所述第二端部處與另一個(gè)集電極區(qū)接觸;
所述半導(dǎo)體襯底具有:
n型的漂移區(qū),其分布在所述二極管范圍和所述IGBT范圍內(nèi),并且設(shè)置在所述陰極區(qū)、所述限流區(qū)和所述集電極區(qū)上方;
p型的主體區(qū),其分布在所述二極管范圍和所述IGBT范圍內(nèi),設(shè)置在所述漂移區(qū)上方,并且在每一二極管范圍和每一IGBT范圍內(nèi)與所述上電極接觸;以及
n型的發(fā)射極區(qū),其設(shè)置在每一IGBT范圍內(nèi),與所述上電極接觸,并且通過所述主體區(qū)與所述漂移區(qū)分隔;
所述溝槽延伸至具有從所述半導(dǎo)體襯底的所述上表面穿過所述發(fā)射極區(qū)和所述主體區(qū)并且到達(dá)所述漂移區(qū)的深度;
所述柵絕緣膜覆蓋所述溝槽的內(nèi)表面;以及
所述柵電極設(shè)置在所述溝槽中并且通過所述柵絕緣膜而與所述半導(dǎo)體襯底絕緣。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,在沿著所述厚度方向的所述半導(dǎo)體襯底的平面圖中,每一陰極區(qū)沿著所述第一方向縱長(zhǎng)地延伸。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,每一陰極區(qū)在所述第一方向上的長(zhǎng)度大于所述半導(dǎo)體襯底的厚度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
所述二極管范圍具有p型的空穴阻擋區(qū),所述p型的空穴阻擋區(qū)與每一陰極區(qū)的上表面的至少一部分接觸;并且
所述漂移區(qū)與所述空穴阻擋區(qū)的上表面接觸。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,
所述空穴阻擋區(qū)與每一陰極區(qū)的部分上表面接觸;并且
所述漂移區(qū)在不存在所述空穴阻擋區(qū)的范圍內(nèi)與所述陰極區(qū)的上表面接觸。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,所述空穴阻擋區(qū)與所述陰極區(qū)在所述第一方向上的端部的上表面接觸。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,所述空穴阻擋區(qū)與至少一個(gè)所述限流區(qū)接觸。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,所述空穴阻擋區(qū)在所述第二方向上縱長(zhǎng)地延伸,并且與多個(gè)陰極區(qū)的上表面接觸。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體裝置,其特征在于,每一二極管范圍設(shè)置有多個(gè)空穴阻擋區(qū)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無(wú)源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無(wú)源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





