[發明專利]導電膜均勻性檢測裝置、系統以及方法

在審

• 申請號: 201811633328.1
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN109540971A
• 公開（公告）日: 2019-03-29
• 發明（設計）人: 吳禎琪;劉兆平
• 申請（專利權）人: 寧波石墨烯創新中心有限公司
• 主分類號: G01N27/00
• 分類號: G01N27/00;G01N27/04;G01R31/00
• 代理公司: 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙) 11371
• 代理人: 蘇勝

1.一種導電膜均勻性檢測裝置，其特征在于，包括：

多個測試頭，多個所述測試頭間隔設置，每一個所述測試頭均被配置為用于接觸在導電膜上；

測試裝置，每一個所述測試頭均電連接于所述測試裝置，所述測試裝置被配置為用于檢測位于每相鄰的兩個所述測試頭之間的所述導電膜的電性能參數；以及

數據收集分析裝置，電連接于所述測試裝置，用于根據所述測試裝置測得的所述電性能參數判斷所述導電膜的電阻均勻性。

2.如權利要求1所述的導電膜均勻性檢測裝置，其特征在于，

多個所述測試頭排列成至少一排，每一排相鄰的兩個所述測試頭之間等距離設置；

當多個所述測試頭排列成多排時，每相鄰的兩排所述測試頭插空設置。

3.如權利要求2所述的導電膜均勻性檢測裝置，其特征在于，

每一個所述測試頭均連接有導桿，每一個所述導桿均電連接于所述測試裝置。

4.如權利要求2所述的導電膜均勻性檢測裝置，其特征在于，

所述導電膜均勻性檢測裝置還包括固定支架，每一個所述測試頭均連接于所述固定支架。

5.如權利要求1-4任一項所述的導電膜均勻性檢測裝置，其特征在于，

所述測試頭由導電材料制成。

6.一種導電膜均勻性測試系統，其特征在于，包括：

輸送裝置，用于輸送導電膜；以及

如權利要求1-5任一項所述的導電膜均勻性檢測裝置；所述導電膜均勻性檢測裝置用于在所述導電膜輸送的過程中對所述導電膜進行檢測。

7.如權利要求6所述的導電膜均勻性測試系統，其特征在于，

所述導電膜均勻性測試系統還包括標記裝置，所述標記裝置電連接于所述數據收集分析裝置；所述標記裝置用于對所述導電膜均勻性檢測裝置檢測到的所述導電膜的不合格區域進行標示。

8.一種導電膜均勻性檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

將多個測試頭間隔接觸在導電膜上，測試裝置檢測位于每相鄰的兩個所述測試頭之間的所述導電膜的電性能參數并輸送至數據收集分析裝置，所述數據收集分析裝置接收所述電性能參數并判斷所述導電膜的電阻均勻性。

9.如權利要求8所述的導電膜均勻性檢測方法，其特征在于，

判斷所述導電膜的電阻均勻性是將檢測到的多個所述電性能參數的差值的最大值與多個所述電性能參數的平均值二者的比值與預設比值進行對比；

當所述比值在所述預設比值范圍以外時，所述導電膜的電阻均勻性為不合格。

10.如權利要求8所述的導電膜均勻性檢測方法，其特征在于，

多個所述測試頭在所述導電膜傳輸的過程中進行檢測；或者

多個所述測試頭連續通過所述導電膜的各個區域進行檢測；或者

多個所述測試頭與所述導電膜以不同的速度同時運動，連續檢測。