[發(fā)明專利]計算機斷層掃描設(shè)備的異物檢測方法及裝置和計算機裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201811632377.3
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN109452949B
• 公開（公告）日: 2022-08-09
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 胡仁芳;張正強
• 申請（專利權(quán)）人: 上海聯(lián)影醫(yī)療科技股份有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;A61B6/03
• 代理公司: 上海思捷知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31295
• 代理人: 王宏婧

本發(fā)明公開了一種計算機斷層掃描設(shè)備的異物檢測方法及裝置和計算機裝置，異物檢測方法包括異物檢測步驟，異物檢測步驟包括：進行掃描，以采集多個采樣角度下的第一掃描數(shù)據(jù)；根據(jù)第一掃描數(shù)據(jù)確定出判斷標(biāo)準(zhǔn)值，判斷標(biāo)準(zhǔn)值包括相鄰采樣角度掃描數(shù)據(jù)的最大差異值、采樣角度掃描數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差值及采樣角度掃描數(shù)據(jù)的最大差異值中的一種或幾種；比較判斷標(biāo)準(zhǔn)值與判斷閾值，以獲得異物檢測結(jié)果。本發(fā)明通過對掃描得到的數(shù)據(jù)進行分析來快速準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)與機器正常運轉(zhuǎn)的無關(guān)物體，掃描方式及計算分析過程較為簡單，提升了校正準(zhǔn)確性，從而減少了異物帶來的不利影響，同時減少了由于異常帶來的研發(fā)問題的大量投入，進而提升了用戶體驗度。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及圖像處理技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種計算機斷層掃描設(shè)備的異物檢測方法及裝置和計算機裝置。

背景技術(shù)

用于研發(fā)測試或者醫(yī)院掃描的計算機斷層掃描設(shè)備(即CT設(shè)備)，經(jīng)常會進行軟硬件更新，更新軟硬件過程和生產(chǎn)設(shè)備過程都可能會導(dǎo)致遺留一些物體在機架外殼。

同時在相關(guān)的檢測中，機器設(shè)備與造影劑等化學(xué)試劑需要一起使用，這會導(dǎo)致發(fā)生更新或與化學(xué)試劑使用后機殘留在機架外殼光路中，而其使用者在不會或者不能確認(rèn)的情況下，可能會檢測不出病灶，嚴(yán)重時會誤診。

目前，現(xiàn)有技術(shù)中機器工作狀態(tài)的確認(rèn)方法是做一套完整的自檢和圖像質(zhì)量確認(rèn)(IQ check)。但是，該確認(rèn)方法需要借助其他的模體，并且檢測過程時間很長。因此，一般CT設(shè)備只會在需要檢測的時候或者出現(xiàn)問題時才會進行此項操作。而且，現(xiàn)有技術(shù)中其他的光路異常檢測方法，掃描和分析過程復(fù)雜，并且沒有考慮相關(guān)校正不正確等問題，導(dǎo)致用戶體驗效果不佳。

發(fā)明內(nèi)容

以下給出一個或多個方面的簡要概述以提供對這些方面的基本理解。此概述不是所有構(gòu)想到的方面的詳盡綜覽，并且既非旨在指認(rèn)出所有方面的關(guān)鍵性或決定性要素亦非試圖界定任何或所有方面的范圍。其唯一的目的是要以簡化形式給出一個或多個方面的一些概念以為稍后給出的更加詳細(xì)的描述之序。

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中光路異常檢測方法的掃描和分析過程復(fù)雜，并且校正準(zhǔn)確性低的缺陷，提供一種計算機斷層掃描設(shè)備的異物檢測方法及裝置和計算機裝置。

本發(fā)明是通過下述技術(shù)方案來解決所述技術(shù)問題：

一種計算機斷層掃描設(shè)備的異物檢測方法，其包括異物檢測步驟，所述異物檢測步驟包括：

進行掃描，以采集多個采樣角度下的第一掃描數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述第一掃描數(shù)據(jù)確定出判斷標(biāo)準(zhǔn)值，所述判斷標(biāo)準(zhǔn)值包括相鄰采樣角度掃描數(shù)據(jù)的最大差異值、采樣角度掃描數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差值及采樣角度掃描數(shù)據(jù)的最大差異值中的一種或幾種；

比較所述判斷標(biāo)準(zhǔn)值與判斷閾值，以獲得異物檢測結(jié)果。

可選地，所述異物檢測方法還包括所述判斷閾值的確定步驟，所述判斷閾值的確定步驟包括：

確認(rèn)所述計算機斷層掃描設(shè)備的工作狀態(tài)正常且掃描孔徑內(nèi)無異物后，進行掃描，以采集第二掃描數(shù)據(jù)；

根據(jù)所述第二掃描數(shù)據(jù)確定出所述判斷閾值，所述判斷閾值包括相鄰采樣角度掃描數(shù)據(jù)的最大差異閾值、采樣角度掃描數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)差閾值及采樣角度掃描數(shù)據(jù)的最大差異閾值中的一種或幾種。

可選地，所述進行掃描，以采集第一掃描數(shù)據(jù)的步驟包括：

根據(jù)預(yù)設(shè)掃描協(xié)議進行壞像素掃描，以采集第一掃描數(shù)據(jù)；

對所述第一掃描數(shù)據(jù)進行預(yù)處理；

在所述根據(jù)所述第一掃描數(shù)據(jù)確定出判斷標(biāo)準(zhǔn)值的步驟中，根據(jù)預(yù)處理后的所述第一掃描數(shù)據(jù)確定出判斷標(biāo)準(zhǔn)值。

可選地，所述進行掃描，以采集第二掃描數(shù)據(jù)的步驟包括：