[發明專利]一種金屬化薄膜電容器自愈點測量裝置及方法

有效

• 申請號: 201811631914.2
• 申請日: 2018-12-29
• 公開（公告）號: CN109738437B
• 公開（公告）日: 2021-07-06
• 發明（設計）人: 尤鴻芃;奚云鵬;林麗妲;李娜
• 申請（專利權）人: 西安西電電力電容器有限責任公司;中國西電電氣股份有限公司
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84;G01N21/88
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 王天堯;任默聞

本申請公開了一種金屬化薄膜電容器自愈點測量裝置及方法，該裝置包括：傳送裝置、拍攝裝置、控制裝置、處理裝置；其中傳送裝置用于對自愈電容器元件的薄膜進行傳送；控制裝置用于控制傳送裝置對自愈電容器元件的薄膜進行傳送；拍攝裝置用于拍攝傳送裝置傳送的自愈電容器元件的薄膜；處理裝置用于獲取拍攝裝置拍攝的自愈電容器元件的薄膜的圖片，以及對圖片上的自愈點進行測量計算。從而對金屬化薄膜電容器上的自愈點實現了高效且準確的測量統計。

技術領域

本申請涉及電子元件以及電氣技術領域，尤其涉及一種薄膜電容器自愈點測量裝置及方法。

背景技術

本部分旨在為權利要求書中陳述的本申請實施例提供背景或上下文。此處的描述不因為包括在本部分中就承認是現有技術。

金屬化薄膜電容器由金屬化薄膜卷繞而成，其在運行或老化試驗中可能發生自愈現象，自愈位置處的金屬層會被蒸發從而形成自愈點。自愈點的大小、數量以及位置等與薄膜的品質、工藝的優劣、運行環境等密切相關，因此對自愈點進行統計測量是研究金屬化膜電容器的常見和有效途徑。

目前，對于自愈點的測量和統計工作主要采用人工方法，即人工觀察薄膜表面，測量自愈點的面積并分段計數。就電力電容器而言，單只元件可能由長度達200m左右薄膜卷制而成，用人工的方法進行測量和統計工作量巨大，且容易遺漏，同時由于自愈點的形狀不規則，人工對自愈點面積的計算極不精確。

因此如何高效且準確地對自愈點進行測量和統計，是亟待解決的問題。

發明內容

本申請實施例提供一種金屬化薄膜電容器自愈點測量裝置及方法，實現對金屬化薄膜電容器上的自愈點進行高效且準確的測量統計。

第一方面，本申請實施例提供的一種金屬化薄膜電容器自愈點測量裝置包括：傳送裝置、拍攝裝置、控制裝置、處理裝置；

所述傳送裝置，用于對自愈電容器元件的薄膜進行傳送；

所述控制裝置，用于控制所述傳送裝置對所述自愈電容器元件的薄膜進行傳送；

所述拍攝裝置，用于拍攝所述傳送裝置傳送的自愈電容器元件的薄膜；

所述處理裝置，用于獲取所述拍攝裝置拍攝的自愈電容器元件的薄膜的圖片，以及對圖片上的自愈點進行測量計算。

第二方面，本申請實施例還提供一種基于第一方面的裝置的金屬化薄膜電容器自愈點測量方法，該方法包括：

將拍攝裝置拍攝到的自愈電容器元件的薄膜的N張圖片進行去重處理，得到第一圖片組，其中，N為大于等于2的整數；

對所述第一圖片組的每組圖片進行二值化處理，得到第二圖片組；

根據第二圖片組中的每組圖片的圖片邊長和分辨率，確定圖片中每個像素點的面積和邊長；

將第二圖片組中的每組圖片的圖像數據分別轉換成為矩陣，提取出矩陣中所有值為1的元素，分別將相鄰的值為1的元素進行組合形成自愈點區域；

根據第二圖片組中的每組圖片的分辨率和每組圖片中的每個像素點的邊長，確定第二圖片組的每組圖片中的每個自愈點區域中的所有元素的X軸坐標和Y軸坐標；根據第二圖片組的每組圖片中的每個自愈點區域中的所有元素的X軸坐標和Y軸坐標，確定每個自愈點的X軸坐標和Y軸坐標；

根據第二圖片組中的每組圖片的分辨率和每個像素點的面積，確定第二圖片組的每組圖片中的每個自愈點的面積。

第三方面，本申請還提供了一種計算機設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，所述處理器執行所述計算機程序時實現上述第二方面所述方法。

第四方面，本申請還提供一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有執行上述第二方面所述方法的計算機程序。